กล้องจุลทรรศน์โลหการสำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์

GP-L600-300C กล้องจุลทรรศน์โลหการสำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหการตรวจสอบเวเฟอร์ที่ออกแบบมาเป็นพิเศษสำหรับโครงสร้างจุลภาคของวัสดุ การตรวจสอบ ติดตั้งระบบออปติคัลแสงสะท้อนความละเอียดสูงและฟังก์ชันการรบกวนส่วนต่าง DIC สร้างขึ้น ภาพนูนสามมิติสำหรับสังเกตโครงสร้างเกรน รอยแตก รอยเชื่อม และชั้นเคลือบของโลหะ โลหะผสม เซมิคอนดักเตอร์และวัสดุอื่นๆ ด้วยกล้องอุตสาหกรรมในตัว จึงรองรับการจับภาพและบนหน้าจอ การวัด; การประเมินขนาดเกรนมีให้พร้อมกับซอฟต์แวร์เสริมเสริม ใช้กันอย่างแพร่หลายใน การควบคุมคุณภาพ สถานการณ์การวิเคราะห์ความล้มเหลวและการวิจัยวัสดุศาสตร์

ขอบเขตการใช้งาน

กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาสำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์นี้เหมาะสำหรับการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ของโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาและสัณฐานวิทยาของพื้นผิว มัน ทำหน้าที่เป็นเครื่องมือวิจัยในอุดมคติสำหรับสาขาวิชาโลหะวิทยา แร่วิทยา และวิศวกรรมความแม่นยำ

ความแตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไป

1. การดูด้วยกล้องสองตาพร้อมการสังเกตทางอิเล็กทรอนิกส์แบบซิงโครนัส:มุมมองช่องมองภาพและการแสดงผลจอภาพ ทำงานพร้อมกัน กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับเฉพาะการสังเกตช่องมองภาพเท่านั้น อุปกรณ์เสริมกล้องเพิ่มเติม จำเป็นสำหรับเอาต์พุตหน้าจอ

2. ตัวเครื่องจักรกลที่มีความแม่นยำสูง:โครงสร้างทางกลที่แข็งแกร่งพร้อมเส้นทางแสงที่มั่นคง เหมาะสม สำหรับงานเซมิคอนดักเตอร์และงานวิเคราะห์วัสดุ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปมีกลไกการทำงานต่ำกว่า ความแม่นยำ

3. เอาต์พุต HDMI โดยตรง:เอาต์พุตภาพแบบเรียลไทม์เพื่อตรวจสอบผ่านสาย HDMI โลหะวิทยาทั่วไป กล้องจุลทรรศน์ต้องใช้กล้องแยกต่างหากและการ์ดจับภาพสำหรับเอาต์พุตภาพ

4. การวัดแบบออฟไลน์บนหน้าจอ:การวัดขนาดสามารถทำได้โดยตรงบนหน้าจอ โดยไม่ต้องเชื่อมต่อกับพีซี กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปอาศัยการตรวจวัดด้วยซอฟต์แวร์ PC เท่านั้น

5. ที่เก็บข้อมูล U-disk ออฟไลน์:บันทึกรูปภาพและวิดีโอลงใน U-disk โดยไม่ต้องใช้คอมพิวเตอร์ แบบดั้งเดิม รุ่นจะต้องเชื่อมต่อกับพีซีเพื่อบันทึกภาพ

6. เส้นทางแสงโลหะเฉพาะ:ปรับให้เหมาะสมสำหรับเม็ดโลหะ สารเคลือบ เซมิคอนดักเตอร์ และ การตรวจสอบทางโลหะวิทยา กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไปขาดเส้นทางแสงพิเศษนี้และไม่สามารถมองเห็นได้ โครงสร้างโลหะ

ข้อดีการออกแบบที่เป็นเอกลักษณ์

1. การสร้างภาพ CCD แบบซิงโครนัสแบบรวม

กล้อง HD ในตัวกล้องสามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพ ไมโครอิมเมจแบบเรียลไทม์ HDMI เอาต์พุตรวมเวิร์กโฟลว์การสังเกตและการบันทึกเข้าด้วยกัน

2. ระบบออปติคอลความละเอียดสูงแบบหลายโหมด

รองรับการสังเกต DIC, สนามสว่าง, สนามมืด และแสงโพลาไรซ์ กำลังขยาย 4 ขั้นตอน, ออปติคัล 50-500X, สูงสุด ดิจิตอล กำลังขยายสูงสุดถึง 1900X ให้รายละเอียดที่คมชัดสำหรับการตรวจสอบคุณสมบัติระดับจุลภาค

3. กลไกโฟกัสแบบแมนนวลที่มีความแม่นยำสูง

ปุ่มปรับโฟกัสคู่ที่จับคู่กับชุดประกอบกระบอกเลนส์เสริมช่วยให้สามารถโฟกัสได้อย่างมั่นคงและลดการสั่นไหวของภาพ

4. กรอบและฐานโลหะที่มีความเสถียรสำหรับงานหนัก

โครงสร้างโลหะในตัวหนาและฉากยึดเวทีที่มีจุดศูนย์ถ่วงต่ำ ทำให้ประสิทธิภาพมีเสถียรภาพ ระยะยาว การสังเกตห้องปฏิบัติการ

5. ลักษณะเกรดการวิจัยระดับมืออาชีพ

โครงสร้างโลหะแข็งสีขาวล้วนสไตล์มินิมอลพร้อมรูปแบบการมองเห็นแบบแยกส่วน เหมาะสำหรับห้องปฏิบัติการและการวิจัย สถาบัน

6. ความครอบคลุมการใช้งานด้านการวิจัยและอุตสาหกรรมที่กว้างขวาง

เหมาะสำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา การแสดงคุณลักษณะเฉพาะของโครงสร้างวัสดุ-จุลภาค การวิจัยทางวิชาการ และ งานประเมินคุณภาพที่แม่นยำ

7. การดูและบันทึกแบบดิจิตอลแบบออลอินวัน

การจับภาพและวิดีโอ 1080P, การวัดบนหน้าจอในตัว, ที่เก็บข้อมูล U-disk ภาพดิจิทัลทำให้การเก็บถาวรไฟล์ง่ายขึ้น การเปรียบเทียบและการวิเคราะห์หลังการทดลอง

หลักฐานและความน่าเชื่อถือถึงสถานที่ (การทดสอบจากมือแรก)

กลศาสตร์:โครงสร้างโลหะทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งและต้านทานแรงสั่นสะเทือนสูง ความแม่นยำ โฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดโดยไม่มีฟันเฟือง แท่นกลไก XY แบบแมนนวลที่มีความแม่นยำสูง มีการสึกหรอต่ำและน้อยที่สุด การกวาดล้าง เส้นทางแสงแบบ Trinular จะรักษาการจัดตำแหน่งร่วมของแสงในระหว่างการสลับการขยาย

เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแบบแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการเคลือบแข็งป้องกันหมอก แสงสะท้อนจากหลอดฮาโลเจน 12V-100W แบบสะท้อนแสง

การถ่ายภาพและการวัด:กล้อง HDMI 1080P เกรดอุตสาหกรรมพร้อมระบบป้องกันการรบกวนที่ยอดเยี่ยม ประสิทธิภาพการทำงานเหมาะสำหรับการดำเนินงานด้านอุตสาหกรรมและสิ่งแวดล้อม การวัดจะดำเนินการผ่านเฟิร์มแวร์บนจอแสดงผล

สภาพแวดล้อมการทำงาน:อุณหภูมิในการทำงาน 10-35 ℃ ความชื้นสัมพัทธ์ 30-75% RH ประสิทธิภาพที่มั่นคง ภายใต้สภาพแวดล้อมแม่เหล็กไฟฟ้าของโรงงานปกติ หลีกเลี่ยงการสั่นสะเทือนหนัก ก๊าซที่มีฤทธิ์กัดกร่อน และฝุ่นหนัก

คุณภาพและการบำรุงรักษา:การตรวจสอบโรงงานแบบเต็มรายการ อย่าแยกชิ้นส่วนโมดูลออปติคัล ปกติ การทำความสะอาดแบบกันฝุ่นจะช่วยยืดอายุการใช้งาน

งานตรวจสอบที่เหมาะสมสำหรับกำลังขยาย 190-1900×

เซมิคอนดักเตอร์และไมโครอิเล็กทรอนิกส์ (แอปพลิเคชัน Core DIC):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรี, ส่วนประกอบบรรจุภัณฑ์
เป้าหมายการตรวจสอบ: ภูมิประเทศของพื้นผิวชิป, รูปแบบการกัดเวเฟอร์, รอยขีดข่วนนาโน, ข้อต่อบัดกรีเย็น, ออกซิเดชันและการเปลี่ยนรูปของพิน ดิฟเฟอเรนเชียล-อินเทอร์เฟส-คอนทราสต์ (DIC) เน้นความแตกต่างของความสูงของพื้นผิวเพียงเล็กน้อย สำหรับการสังเกตชิ้นส่วนไมโครวงจรภายในช่วงกำลังขยาย 190-1900×

ตัวอย่างโลหะทางโลหะวิทยา:
ส่วนโลหะผสม เหล็กกล้า ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้างเม็ดโลหะ, การวิเคราะห์การรักษาความร้อน, รอยแตกที่พื้นผิวขนาดเล็ก, การบิ่นที่ขอบ, เสี้ยนละเอียด, ร่องรอยการสึกหรอและสิ่งสกปรกภายในวัสดุ โหมดสนามสว่าง / สนามมืด / แสงโพลาไรซ์สำหรับโลหะ การสังเกตโครงสร้างผลึก

ตัวอย่างการวิจัยในห้องปฏิบัติการ: คริสตัล ผง ไฟเบอร์ และฟิล์มบาง:
ผลึกเคมี ผงโลหะ คาร์บอนไฟเบอร์ เส้นใยสิ่งทอ ฟิล์มเคลือบแสง
สังเกตสัณฐานวิทยาของคริสตัล โครงร่างของอนุภาค การแยกชั้นของฟิล์ม และพื้นผิวการเคลือบระดับไมโคร แสงโพลาไรซ์ ระบุลักษณะเฉพาะของคริสตัลโพลาไรเซชัน

Optoelectronic Precision-ส่วนประกอบพลาสติก:
ชิป LED, เลนส์สายตา, พื้นผิวแก้ว, กาวสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน รอยขีดข่วนระดับนาโน กาวหลุดร่อน ฟองอากาศ และความไม่สม่ำเสมอของพื้นผิวเล็กน้อย

ส่วนประกอบจิ๋วที่มีความแม่นยำสูง:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับตราขนาดเล็ก
การวัดที่แม่นยำระดับพิกเซลสำหรับช่องว่าง เส้นผ่านศูนย์กลางรู พิทช์ และความแตกต่างของความสูงของพื้นผิว DIC แสดงภาพ การจีบที่ละเอียดอ่อน

ห้องทดลองของมหาวิทยาลัยและการควบคุมคุณภาพเซมิคอนดักเตอร์ระดับสูง:
การทดลองวิจัยวัสดุ การตรวจสอบสินค้าขาเข้าแผ่นเวเฟอร์ การสังเกตตัวอย่างโลหะวิทยา รูปภาพ-วิดีโอ การเก็บถาวร

วิธีเลือกรุ่นนี้

เลือกความละเอียดตามความต้องการด้านความชัดเจน

พร้อมกับการถ่ายภาพ HD 1920 * 1080 ดั้งเดิม เหมาะสำหรับการสังเกตทางโลหะวิทยา การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ขั้นพื้นฐาน และ การสร้างรายงานห้องปฏิบัติการอย่างง่าย แสดงเม็ดโลหะและข้อบกพร่องของวงจรเล็กๆ อย่างชัดเจน

เลือกโหมดโฟกัสตามความถี่ในการทำงาน

การออกแบบแบบแมนวลโฟกัส เหมาะสำหรับตัวอย่างในห้องปฏิบัติการแบบคงที่และการเปลี่ยนชิ้นงานความถี่ต่ำ การโฟกัสที่มั่นคง โครงสร้างพร้อมการปรับแต่งอย่างละเอียดแม่นยำเพื่อการสังเกตตัวอย่างคงที่โดยละเอียด

เลือกแพลตฟอร์มและเส้นทางแสงตามตัวอย่างทดสอบ

ระยะการเคลื่อนย้ายแบบแมนนวลมาตรฐานและเส้นทางแสงโลหะวิทยาแบบสามตาในแนวตั้งสำหรับชิ้นงานโลหะ เศษชิป และ PCB ขนาดกลาง-เล็ก ช่วยลดแสงจ้าสะท้อนแสงได้อย่างมีประสิทธิภาพสำหรับการตรวจสอบทางโลหะวิทยาขั้นพื้นฐาน

เลือกกำลังขยายตามขนาดตัวอย่าง

ช่วงการขยายแบบคู่: กำลังขยายแบบออปติคอล 50-500X, กำลังขยายแบบดิจิตอล 190-1900X ครอบคลุมทั้งชิ้นงานเต็ม ภาพรวมและการตรวจสอบไมโครเกรน / ข้อบกพร่องระดับไมโคร

เลือกฟังก์ชันการวัด การถ่ายภาพ และการจัดเก็บตามความต้องการของงาน

ฟังก์ชั่นการวัดในตัวอุปกรณ์, เอาต์พุต HDMI แบบเรียลไทม์, U-disk สำหรับบันทึกภาพการตรวจสอบและการวัด ข้อมูลเพื่อจุดประสงค์พื้นฐานในการเก็บข้อมูลในห้องปฏิบัติการ

ตัวเลือกการปรับแต่ง

มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ

ภาพรวมเอนทิตีผลิตภัณฑ์

ข้อมูลจำเพาะทางเทคนิค

พันธมิตรและลูกค้าที่เชื่อถือได้

ข้อสงวนสิทธิ์:โลโก้และชื่อวิสาหกิจ มหาวิทยาลัย และสถาบันวิจัยที่ปรากฏ เว็บไซต์นี้เท่านั้น ระบุว่าหน่วยงานดังกล่าวได้ซื้อหรือใช้กล้องจุลทรรศน์แบรนด์ GAOPIN รูปร่างหน้าตาของพวกเขาจะต้องไม่เป็นเช่นนั้น ตีความ เป็นการซื้อผลิตภัณฑ์รุ่นเดียวกันนี้ และจะไม่หมายความถึงการรับรองเชิงพาณิชย์ การสร้างแบรนด์ร่วม ความเกี่ยวข้อง หรือ ความร่วมมือในโครงการร่วมกับองค์กรบุคคลที่สามเหล่านี้

กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:

AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – ตัวเชื่อมต่อที่แม่นยำและการตรวจสอบส่วนประกอบ

NIO Shanghai – การตรวจสอบที่แม่นยำสำหรับชิ้นส่วนรถยนต์พลังงานใหม่และชุดสายไฟ

Shanghai Institute of Ceramics, CAS – การวิเคราะห์ระดับจุลภาคของเซรามิกอนินทรีย์และวัสดุพลังงานใหม่

ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – ลักษณะที่ปรากฏและการตรวจสอบคุณภาพระดับจุลภาคสำหรับ ชิ้นส่วนมาตรฐานอุตสาหกรรม

สถาบันเทคโนโลยีปักกิ่ง – การวิเคราะห์การวิจัยทางวิทยาศาสตร์สำหรับวัสดุทางการทหารและอุปกรณ์ออปโตอิเล็กทรอนิกส์

GREE Electric Appliances (Hefei) – การวัดขนาดที่แม่นยำและการตรวจสอบข้อบกพร่องสำหรับชิ้นส่วนเครื่องใช้ในบ้าน

เกี่ยวกับ GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 ผู้ก่อตั้งของเราเริ่มการวิจัยและ การผลิตอุปกรณ์ตรวจสอบด้วยแสงในช่วงต้นปี 2548 และสะสมประสบการณ์ในอุตสาหกรรมมากมาย เรา ส่งมอบ บริการครบวงจรครอบคลุมถึงการออกแบบผลิตภัณฑ์ การวิจัยและพัฒนาทางเทคนิค การขายทั่วโลก และ การบำรุงรักษาหลังการขายอย่างครอบคลุม ทีมวิศวกรภายในของเรามีประสบการณ์มากกว่าสิบปีในการพัฒนาระบบออปติคอลเพื่อให้มั่นใจถึงความเสถียร ประสิทธิภาพทางเทคนิคและคุณภาพผลิตภัณฑ์ที่เชื่อถือได้

GAOPIN นำเสนอเครื่องมือตรวจสอบด้วยแสงมากกว่าหนึ่งร้อยประเภทที่ให้บริการทางอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการ ลูกค้าทั่วโลก เรานำเสนอโซลูชันกล้องจุลทรรศน์แบบกำหนดเองที่ยืดหยุ่นและคุ้มค่าสำหรับอุตสาหกรรมที่หลากหลาย โครงการการควบคุมคุณภาพและการวิเคราะห์ทางห้องปฏิบัติการ

สำหรับผู้ซื้อในต่างประเทศ เราให้การสนับสนุนด้านเทคนิคระดับโลกอย่างทันท่วงที รวมถึงการให้คำปรึกษาผ่านวิดีโอออนไลน์ การดำเนินงานวิดีโอ- บทช่วยสอนและการฝึกอบรมทักษะระยะไกล โรงงานผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู (ใกล้กับ เซี่ยงไฮ้) ยินดีเยี่ยมชมโรงงานและทัวร์เสมือนจริงออนไลน์ โปรดติดต่อทีมขายของเราเพื่อขอของแท้ ภาพทดสอบตัวอย่างที่ถ่ายโดยกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาการตรวจสอบเวเฟอร์นี้เพื่อประเมิน ประสิทธิภาพการถ่ายภาพจริง

คำถามที่พบบ่อย

คำถามที่ 1: อุปกรณ์รองรับอินเทอร์เฟซเอาต์พุตใดบ้าง เชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์ได้ไหม?

A1: ติดตั้งเฉพาะเอาต์พุต HDMI ความละเอียดสูงเท่านั้น ไม่มีพอร์ต USB, WIFI หรือ LAN การเชื่อมต่อคอมพิวเตอร์ไม่ได้ รองรับ; โดยทำงานอย่างอิสระร่วมกับจอภาพสำหรับขั้นตอนการทำงานที่เรียบง่าย

คำถามที่ 2: วิธีการแก้ไขปัญหาหน้าจอดำหรือไม่มีภาพผ่านการเชื่อมต่อ HDMI?

A2: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟและอะแดปเตอร์ที่ตรงกัน ยึดสาย HDMI ให้แน่น สลับจอภาพเพื่อแก้ไขแหล่งสัญญาณ HDMI รีสตาร์ทอุปกรณ์เพื่อแก้ไขข้อผิดพลาดหน้าจอดำและไม่มีภาพ

คำถามที่ 3: จะแก้ไขภาพที่เบลอและไม่โฟกัสได้อย่างไร

A3: นี่คือรุ่นโฟกัสแบบแมนนวล ค่อยๆ ปรับวงล้อโฟกัสเพื่อให้ได้ภาพที่คมชัด ล็อคเลนส์ใกล้วัตถุให้แน่น วาง ตัวอย่างแบนและทำความสะอาดฝุ่นและคราบเลนส์เป็นประจำเพื่อให้มองเห็นได้ชัดเจน

คำถามที่ 4: เหตุใด U-disk จึงไม่รู้จักและไม่สามารถบันทึกไฟล์ได้

A4: รองรับเฉพาะดิสก์ U ในรูปแบบ FAT32 ขนาด ≤32 GB เท่านั้น รูปแบบ NTFS และ exFAT เข้ากันไม่ได้ แทรกใหม่ จัดรูปแบบใหม่ หรือ แทนที่ด้วยดิสก์ U ที่รองรับสำหรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอตามปกติ