GP-L600-462H คือกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาออโต้โฟกัส 4K Ultra HD สำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ มันรับเลี้ยงบุตรบุญธรรม ระบบออพติคอลที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้เพื่อการสลับอย่างรวดเร็วระหว่างโหมดการสังเกตสนามสว่างและสนามมืด Bright-field ใช้สำหรับการสังเกตโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาตามปกติ สนามมืดให้คอนทราสต์ที่ดียิ่งขึ้น สำหรับ ข้อบกพร่องพื้นผิวเล็ก ๆ รอยขีดข่วนและสิ่งสกปรกของอนุภาค พอร์ตสามตารองรับการติดตั้งกล้องและ การเชื่อมต่อซอฟต์แวร์วิเคราะห์โลหะวิทยา เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวิจัยด้านโลหะวิทยา การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ และ ขั้นตอนการทำงานการตรวจจับพื้นผิวชิ้นงาน-ข้อบกพร่อง
เครื่องมือนี้เหมาะสำหรับการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ของโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาและสัณฐานวิทยาของพื้นผิว มัน ทำหน้าที่เป็นเครื่องมือวิจัยในอุดมคติสำหรับสาขาวิชาโลหะวิทยา แร่วิทยา และวิศวกรรมความแม่นยำ
กล้อง 4K ที่ติดตั้งอยู่ภายในกล่องเลนส์สามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพ เอาต์พุตหลายพอร์ตผ่าน HDMI, USB3.0 และ WIFI ส่งภาพไมโคร HD แบบพิเศษแบบเรียลไทม์
รองรับการสังเกต DIC, สนามสว่าง, สนามมืด และแสงโพลาไรซ์ กำลังขยาย 4 ขั้นตอน, ออปติคัล 50-500X, สูงสุด ดิจิตอล กำลังขยายสูงสุดถึง 1900X ให้รายละเอียดที่คมชัดสำหรับการตรวจสอบคุณสมบัติระดับจุลภาค
โมดูลโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์ในตัว และโหมดโฟกัสแบบแมนนวลก็มีให้ใช้งานเช่นกัน ช่วยให้โฟกัสได้อย่างราบรื่นและไร้การสั่นสะเทือน และ ปรับปรุงประสิทธิภาพสำหรับการทดสอบตัวอย่างมวล
ขาตั้งโลหะแบบหนาในตัวและฉากยึดเวทีที่มีจุดศูนย์ถ่วงต่ำ ทำให้ประสิทธิภาพมีเสถียรภาพ ระยะยาว การสังเกตห้องปฏิบัติการ
โครงสร้างออพติคัลแบบแยกส่วนพร้อมโครงสร้างโลหะแข็ง เหมาะสำหรับห้องปฏิบัติการ สถาบันวิจัย และ เซมิคอนดักเตอร์ สิ่งอำนวยความสะดวกการผลิต
เหมาะสำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์และชิป ยังใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, งานวิจัยวัสดุและงานประเมินคุณภาพความแม่นยำ
การถ่ายภาพและวิดีโอ 4K, โหมดการวัดแบบคู่ (บนหน้าจอในตัว + ซอฟต์แวร์ PC) จัดเก็บข้อมูลแบบคู่ผ่าน U-disk & คอมพิวเตอร์ การสังเคราะห์ระยะชัดลึกทำงานได้ทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี ฟังก์ชั่นเย็บภาพมีเฉพาะใน ซอฟต์แวร์พีซี การพัฒนารองรองรับการเก็บภาพ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์ขั้นสูง
1. โหมดการสังเกตด้วยแสง:รองรับเลนส์หลายโหมดรวมถึง DIC, สนามสว่าง, สนามมืด และแสงโพลาไรซ์สำหรับการสังเกตคริสตัลและพื้นผิวการเคลือบ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาธรรมดามีให้เท่านั้น สนามสว่างขั้นพื้นฐานและไม่สามารถมองเห็นชั้นบางเฉียบและโครงสร้างไมโครคริสตัลได้
2. ระบบภาพ:กล้อง Native 4K ultra-HD, การดูช่องมองภาพและจอภาพแบบซิงโครไนซ์ ธรรมดา กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาให้ภาพความละเอียดต่ำ 2K และการรับชมเฉพาะช่องมองภาพเท่านั้น โดยมีภาพที่บิดเบี้ยวพร่ามัว ภายใต้กำลังขยายสูง
3. การปรับกำลังขยาย:ซูมสี่สปีด 190-1900X ครอบคลุมภาพรวมมาโครและรายละเอียดย่อย การตรวจสอบ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปมีเกียร์ขยายน้อยกว่าและภาพไม่ชัดภายใต้กำลังสูง
4. การวัดและการบันทึก:การวัดที่แม่นยำบนหน้าจอในตัวพร้อมการจับภาพวิดีโอ ฟังก์ชั่น กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปไม่มีการตรวจวัดในตัว และต้องใช้ซอฟต์แวร์พีซีสำหรับทุกคน งานวัดและเก็บข้อมูล
กลศาสตร์:โครงสร้างโลหะทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งและต้านทานแรงสั่นสะเทือนสูง ฮาร์ดแวร์ออโต้โฟกัส module equipped, manual-focus is also available. การโฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดที่แม่นยำโดยไม่มีการสะท้อนกลับ มีความแม่นยำสูง แท่นกลไก XY แบบแมนนวลที่มีการสึกหรอต่ำและมีระยะห่างน้อยที่สุด Trinocular optical path maintains optical co-alignment during magnification switching.
เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแบบแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการเคลือบแข็งป้องกันหมอก แสงสะท้อนจากหลอดฮาโลเจน 12V-100W แบบสะท้อนแสง
การถ่ายภาพและการวัด:กล้อง CMOS อุตสาหกรรม 4K มัลติเอาท์พุต: HDMI + USB3.0 + WIFI ดี ประสิทธิภาพการป้องกันการแทรกแซงสำหรับการใช้งานในอุตสาหกรรมและสิ่งแวดล้อม รองรับการวัดแบบฝังบนหน้าจอและ การวัดซอฟต์แวร์พีซี ที่เก็บข้อมูลแบบสองเส้นทางผ่าน U-disk และซอฟต์แวร์พีซี การสังเคราะห์ระยะชัดลึกทำงานได้ทั้งสองอย่าง บนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี การเย็บภาพรองรับโดยซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น ส่วนต่อประสานการพัฒนารอง ใช้งานได้ผ่าน USB3.0 / WIFI
สภาพแวดล้อมการทำงาน:อุณหภูมิในการทำงาน 10-35 ℃ ความชื้นสัมพัทธ์ 30-75% RH มีเสถียรภาพภายใต้ความสม่ำเสมอ โรงงานแม่เหล็กไฟฟ้า-สภาพแวดล้อม หลีกเลี่ยงการสั่นสะเทือนหนัก ก๊าซที่มีฤทธิ์กัดกร่อน และฝุ่นหนัก เก็บโมดูล WIFI ให้ห่างจาก แหล่งสัญญาณรบกวนที่แข็งแกร่ง
คุณภาพและการบำรุงรักษา:การตรวจสอบโรงงานแบบเต็มรายการ อย่าถอดแยกชิ้นส่วนโมดูลออปติคัลหรือ โมดูลโฟกัสอัตโนมัติ การทำความสะอาดป้องกันฝุ่นเป็นประจำจะช่วยยืดอายุการใช้งาน
เซมิคอนดักเตอร์และไมโครอิเล็กทรอนิกส์ (แอปพลิเคชัน Core DIC):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรี, ส่วนประกอบบรรจุภัณฑ์
เป้าหมายการตรวจสอบ: ภูมิประเทศของพื้นผิวชิป, รูปแบบการกัดเวเฟอร์, รอยขีดข่วนนาโน, ข้อต่อบัดกรีเย็น,
ออกซิเดชันและการเปลี่ยนรูปของพิน ดิฟเฟอเรนเชียล-อินเทอร์เฟส-คอนทราสต์ (DIC) เน้นความแตกต่างเล็กน้อยของพื้นผิว-ความสูง-ความแตกต่าง
สำหรับการสังเกตชิ้นส่วนไมโครวงจรภายในช่วงกำลังขยาย 190-1900×
ตัวอย่างโลหะทางโลหะวิทยา:
ส่วนโลหะอัลลอยด์, ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้างเม็ดโลหะ, การวิเคราะห์การรักษาความร้อน, รอยแตกบนพื้นผิวขนาดเล็ก, การบิ่นที่ขอบ, ครีบละเอียด,
ร่องรอยการสึกหรอและสิ่งสกปรกภายในวัสดุ มีโหมด Bright-field / Dark-field / Polarized-light
การสังเกตโครงสร้างโลหะคริสตัล
ตัวอย่างการวิจัยในห้องปฏิบัติการ: คริสตัล ผง ไฟเบอร์ และฟิล์มบาง:
ผลึกเคมี ผงโลหะ คาร์บอนไฟเบอร์ เส้นใยสิ่งทอ ฟิล์มเคลือบแสง
สังเกตสัณฐานวิทยาของคริสตัล โครงร่างของอนุภาค การแยกชั้นของฟิล์ม และพื้นผิวการเคลือบระดับไมโคร แสงโพลาไรซ์
ระบุลักษณะเฉพาะของคริสตัลโพลาไรเซชัน
Optoelectronic Precision-ส่วนประกอบพลาสติก:
ชิป LED, เลนส์สายตา, พื้นผิวแก้ว, กาวสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน รอยขีดข่วนระดับนาโน กาวหลุดร่อน ฟองอากาศ และความไม่เรียบของพื้นผิวเล็กน้อย
ส่วนประกอบจิ๋วที่มีความแม่นยำสูง:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับตราขนาดเล็ก
การวัดที่แม่นยำระดับ 4K พิกเซลสำหรับช่องว่าง เส้นผ่านศูนย์กลางรู ระยะพิทช์ และความแตกต่างของความสูงของพื้นผิว DIC แสดงภาพ
การจีบที่ละเอียดอ่อน
ห้องทดลองของมหาวิทยาลัยและการควบคุมคุณภาพเซมิคอนดักเตอร์ระดับสูง:
การทดลองวิจัยวัสดุ การตรวจสอบสินค้าขาเข้าแผ่นเวเฟอร์ การสังเกตตัวอย่างโลหะวิทยา รูปภาพ-วิดีโอ
การเก็บถาวร ส่งออกรายงานการวัดที่แม่นยำผ่านพีซี
มาพร้อมกับการสร้างภาพ 4K ที่เข้ากันได้กับความละเอียด 3840*1080 เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา การตรวจสอบวงจรชิป และ แบบทดสอบ-รายงานแบบมืออาชีพ แสดงเม็ดโลหะ รอยขีดข่วนขนาดเล็ก และข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ อย่างชัดเจน
ติดตั้งระบบโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์ เหมาะกับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมากและการเปลี่ยนตัวอย่างบ่อยครั้ง บรรลุผลอย่างรวดเร็ว มุ่งเน้น หลังจากการเคลื่อนย้ายตัวอย่างโดยไม่ต้องปรับด้วยตนเองซ้ำๆ เพื่อปรับปรุงประสิทธิภาพการทดสอบ โหมดแมนวลโฟกัสก็เช่นกัน มีไว้สำหรับการสังเกตตัวอย่างแบบคงที่
ระยะการเคลื่อนย้ายแบบแมนนวลมาตรฐานและเส้นทางแสงโลหะวิทยาแบบสามตาในแนวตั้งสำหรับชิ้นชิปขนาดเล็กถึงขนาดกลาง PCB และชิ้นงานโลหะ ช่วยลดแสงจ้าสะท้อนแสงเพื่อการตรวจสอบทางโลหะวิทยาได้อย่างมีประสิทธิภาพ สเตจ XY ที่ขับเคลื่อนด้วยมอเตอร์ สามารถเป็นได้ เลือกเป็นการอัปเกรดเพิ่มเติม
ช่วงการขยายแบบคู่: กำลังขยายแบบออปติคอล 50-500X, กำลังขยายแบบดิจิตอล 190-1900X ครอบคลุมทั้งชิ้นงานเต็ม ภาพรวมและการตรวจสอบไมโครเกรน / ข้อบกพร่องระดับไมโคร
รองรับการวัดในตัวอุปกรณ์และการวัดซอฟต์แวร์พีซี พร้อมกับเอาต์พุต HDMI, USB3.0 และ WIFI พอร์ต ภาพถ่าย วิดีโอ และข้อมูลการวัดสามารถบันทึกผ่าน U-disk หรือคอมพิวเตอร์ได้ รองรับการพัฒนารองสำหรับ การบูรณาการสายการผลิตและการตรวจสอบย้อนกลับข้อมูลในห้องปฏิบัติการ
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
| รายการ | คำอธิบาย |
| ผลิตภัณฑ์ | GP-L600-462H กล้องจุลทรรศน์โลหการตรวจสอบเวเฟอร์พร้อม 4K Ultra HD และออโต้โฟกัส |
| หมวดหมู่ | กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาชนิดตรีโกณมิติระดับการวิจัยในห้องปฏิบัติการ รองรับการรบกวนส่วนต่างของ DIC, การสังเกตสนามสว่าง / สนามมืด / แสงโพลาไรซ์ |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลการรับชมแบบซิงโครนัส Trinocular, ไฟส่องสว่างในตัวหลายโหมด (สนามสว่าง, สนามมืด, โพลาไรเซอร์, DIC แบบดิฟเฟอเรนเชียลรบกวน-คอนทราสต์), มืออาชีพที่มีความแม่นยำสูง โลหะวิทยา ชุดเลนส์ใกล้วัตถุ, เซ็นเซอร์ภาพ CMOS 4K ultra-HD, โมดูลโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์, สามช่องสัญญาณ การส่งผ่าน (HDMI+USB3.0+WIFI) ระบบการวัดแบบคู่ การสังเคราะห์ระยะชัดลึก และอัลกอริธึมการเย็บภาพ สถาปัตยกรรมแบบเปิดที่สนับสนุนการบูรณาการระดับรองการพัฒนา |
| ข้อมูลจำเพาะที่สำคัญ | การขยายภาพ: 50/100/200/500 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 190/380/760/1900 ×; พอร์ตสามเอาต์พุต: HDMI + USB3.0 + อินเตอร์เน็ตไร้สาย; ความละเอียดในการจับภาพ 4K: 3840×2160; ติดตั้งฮาร์ดแวร์ออโต้โฟกัส (แมนนวลโฟกัสด้วย ใช้ได้); โหมดการวัดแบบคู่: การวัดที่แม่นยำในตัว + การวัดซอฟต์แวร์พีซีที่ตรงกัน โหมดการจัดเก็บข้อมูลแบบ Dual: ที่เก็บข้อมูล U-disk + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์คอมพิวเตอร์ เทอร์มินัลมอนิเตอร์รองรับมิติ การวัด, การแสดงตัวอย่างภาพ HD, การบันทึกวิดีโอ, การสังเคราะห์ระยะชัดลึก; รองรับเทอร์มินัลพีซี การวัดขนาด การจัดเก็บไฟล์ การสังเคราะห์ระยะชัดลึก และการเย็บภาพ รองรับทั้งยูนิต การบูรณาการขั้นทุติยภูมิ |
| การใช้งานทั่วไป | การวิเคราะห์ความล้มเหลวของเซมิคอนดักเตอร์-เวเฟอร์, การตรวจสอบโลหะ-วัสดุ, การเคลือบ-ฟิล์มบาง- การสังเกตโครงสร้างจุลภาค, การทดสอบสารกึ่งตัวนำที่มีความแม่นยำ, การทดสอบบรรจุภัณฑ์, advanced-material-laboratory-research, การสังเกตทางการแพทย์-วัสดุชีวภาพ การตรวจจับข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งผู้ผลิต | คุนซาน มณฑลเจียงซู จีน (ติดกับเซี่ยงไฮ้) |
| แบบอย่าง | GP-L600-462H |
| ปณิธาน | 3840×2160 |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพจริง | 8,300,000 พิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | โฟกัสอัตโนมัติ |
| รูปแบบแสง | 1/1.8" |
| ขนาดพิกเซล | 2.0 ไมโครเมตร × 2.0 ไมโครเมตร |
| วิธีการส่งออก | HDMI + USB3.0 + อินเตอร์เน็ตไร้สาย |
| การแนะนำการทำงานโดยละเอียดที่สอดคล้องกับแต่ละอินเทอร์เฟซเอาต์พุต | 1 HDMI เชื่อมต่อกับจอแสดงผลที่รองรับ 4K รองรับเฟิร์มแวร์ประมวลผลภาพระดับมืออาชีพแบบฝัง
ออโต้โฟกัสที่ขับเคลื่อนด้วยฮาร์ดแวร์, การบันทึกภาพ, การบันทึกวิดีโอ, การวัดขนาด, การเล่นภาพ
และ
การเปรียบเทียบภาพซึ่งควบคุมโดยเมาส์แบบเรียลไทม์ 2. USB 3.0 เชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์พร้อมอุปกรณ์ ซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพระดับมืออาชีพคุณภาพสูงสำหรับการถ่ายภาพ การวัดขนาด ฟิวชั่นระยะชัดลึกและการเย็บภาพ 3 โมดูล WIFI เชื่อมต่อกับแล็ปท็อปหรืออุปกรณ์เคลื่อนที่ เรียลไทม์ การส่งภาพ การถ่ายภาพ และการจัดเก็บผ่านซอฟต์แวร์ที่ตรงกัน |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @ 1920×1080 อินเตอร์เน็ตไร้สาย: 30fps @3840×2160; 60เฟรมต่อวินาที @1920×1080 |
| การสังเคราะห์ระยะชัดลึก | รองรับทั้งเฟิร์มแวร์บนหน้าจอ HDMI และซอฟต์แวร์พีซี |
| การต่อภาพ | รองรับเฉพาะด้านซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น |
| วิธีการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว + การวัดซอฟต์แวร์ PC |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.002-0.005 มม |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (หน่วยสลับได้ 4 หน่วย) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม เรเดียน วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ เพิ่ม การตรวจจับขอบอัตโนมัติ สเกลบาร์ และอื่นๆ |
| วิธีการเก็บรักษา | ที่เก็บข้อมูล U-disk + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ โปรเซสเซอร์ควบคุมหลักสูงสุด 1.4 GHz |
| ระบบปฏิบัติการ | เฟิร์มแวร์การวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| การตั้งชื่อรูปภาพ | มีการตั้งชื่ออัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| กำลังดูหัว | หัวกล้องสามตาแบบบานพับเอียง 30°; ช่วงการปรับระหว่างรูม่านตา: 54-76 มม. การแยกลำแสงสองอัน อัตราส่วน: 100:0, 0:100 |
| โหมดการสังเกต | ★ สนามสว่าง / สนามมืด / แสงโพลาไรซ์ / DIC (ฮาร์ดแวร์ DIC เป็นอุปกรณ์เสริม) |
| ระบบส่องสว่าง | ระบบไฟส่องสว่างแบบตกกระทบแบบสะท้อนผ่าน, อินพุตแรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240V, ปรับได้ เส้นใย ตรงกลางปรับความเข้มของแสงได้อย่างต่อเนื่อง |
| ยืน | 1. ชั้นวางแบบสะท้อนผ่านแบบ Dual-Purpose; กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเซียลหยาบและละเอียดในตำแหน่งมือต่ำ
ระยะชักปรับหยาบ: 33 มม. ความแม่นยำในการปรับละเอียด : 0.001 มม. พร้อมระบบล็อคและจำกัด
อุปกรณ์ 2 ตัวสะท้อนแสงแบบ Bright-field และ Dark-field พร้อมตัวหยุดรูรับแสงแบบปรับได้, ตัวหยุดฟิลด์และ ชุดประกอบกลางแบบปรับได้ 3 ตัวกรองสัญญาณรบกวนและแผ่นสมดุลสี (แสงสีขาว) สำหรับ เส้นทางแสงสะท้อน ④ อุปกรณ์สลับสนามแสงและมืด ช่องสำหรับฟิลเตอร์สีและ อุปกรณ์เสริมโพลาไรซ์ |
| เวทีเครื่องกล | เวทีเครื่องกลแบบแมนนวลขนาด 4 นิ้ว ขนาดเวที: 230 มม. × 215 มม. ระยะเคลื่อนที่ X-Y: 105 มม. × 105 มม. แก้ว แผ่นพาหะตัวอย่างสำหรับการสังเกตทั้งแบบส่งและแบบสะท้อน |
| แหล่งกำเนิดแสง | ห้องหลอดฮาโลเจน 12V 100W (แสงสะท้อน); หลอดฮาโลเจน 12V 100W (ไฟส่องผ่าน) |
| ฟังก์ชันโพลาไรซ์ | ช่องเสียบโพลาไรเซอร์ 30 องศา (แสงสะท้อน); ช่องเสียบเครื่องวิเคราะห์แบบหมุนได้ 360° สำหรับแสงโพลาไรซ์ การสังเกต |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตาแผนมุมกว้าง PL10X/22 มม. สองตัวพร้อมไดออปเตอร์แบบปรับได้ (เลนส์ใกล้ตาหนึ่งตัวพร้อมเรติเคิล ขนาด) |
| จมูก | ★ ช่องจมูกห้าหลุมที่สว่างและมืด |
| ฟังก์ชันดีไอซี | ฟังก์ชันดิฟเฟอเรนเชียลรบกวนคอนทราสต์ อุปกรณ์เสริมบอร์ดแทรก DIC เป็นอุปกรณ์เสริมและไม่รวมอยู่ด้วย in การกำหนดค่ามาตรฐาน |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซกล้อง C-mount 0.5X ปรับโฟกัสได้ CTV 1X เป็นตัวเลือกเสริมที่มีการชดเชยส่วนต่างราคา |
| วัตถุประสงค์ทางโลหการ | ★วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยากึ่งทำลายที่สดใสและมืด 1 OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15 ใช้งานได้ ระยะห่าง: 9.00 มม. ×1 ชิ้น 2 OLIPBD10NCA-DIC 10X/0.30 ระยะการทำงาน: 9.00 มม. ×1 ชิ้น ๓ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0.45, ระยะการทำงาน: 3.40 มม. × 1 ชิ้น ④ OLIPBD50NC 50X/0.55, ระยะการทำงาน: 7.50 มม. ×1 ชิ้น ⑤ OLIPBD100NC 100X/0.80 ระยะการทำงาน: 2.10 มม. (อุปกรณ์เสริม ไม่รวมอยู่ในแพ็คเกจมาตรฐาน) |
| การขยายด้วยแสง | 50X, 100X, 200X, 500X (สลับได้สี่ระดับ) |
| การขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 190X, 380X, 760X, 1900X (สลับได้สี่ระดับ); ช่วงการขยายเสริม: 380-3800X. |
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – การทดสอบส่วนประกอบออปโตอิเล็กทรอนิกส์และการวิเคราะห์ความล้มเหลว
มหาวิทยาลัย Xi'an Jiaotong – การสังเกตการทดลองเชิงวิทยาศาสตร์วัสดุขั้นสูงและทัศนศาสตร์ที่แม่นยำ
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – การวิจัยเชิงแสงขั้นสูง & การระบุลักษณะเฉพาะของส่วนประกอบทางแสง
มหาวิทยาลัยพาณิชยศาสตร์เทียนจิน – การสอนห้องปฏิบัติการวัสดุ การสร้างภาพขนาดเล็ก และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – การวิเคราะห์ระดับจุลภาคของเซรามิกอนินทรีย์และวัสดุพลังงานใหม่
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องขนาดเล็กสำหรับ ชิ้นส่วนเครื่องจักรที่มีความแม่นยำ
A1: พร้อมกับอินเทอร์เฟซ HDMI, USB3.0 และ WIFI รองรับการแสดงผลจอภาพโดยตรงและพีซีแบบมีสาย / ไร้สาย การเชื่อมต่อ สำหรับการทำงานร่วมกันในการตรวจจับ
A2: รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ 4K ultra-HD ไฟล์สามารถบันทึกลงใน U-disk ในรูปแบบ FAT32 ได้ภายใน 32 GB ความจุหรือที่เก็บข้อมูลคอมพิวเตอร์ รองรับการวัดที่แม่นยำทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี พร้อมการประหยัดข้อมูลและ รายงาน-ส่งออก-ฟังก์ชั่น
A3: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟและอะแดปเตอร์ที่ตรงกัน ยึดสาย HDMI ให้แน่นแล้วสลับจอภาพเพื่อแก้ไขแหล่งสัญญาณ รีสตาร์ทอุปกรณ์เพื่อแก้ไขข้อผิดพลาดหน้าจอดำ ไม่มีภาพ และหน้าจอกะพริบ
A4: รุ่นนี้รองรับโหมดคู่แบบโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์และโหมดโฟกัสแบบแมนนวล คุณสามารถเปิดใช้งานโฟกัสอัตโนมัติเพื่อการถ่ายภาพที่รวดเร็ว หรือ ปรับแต่งด้วยตนเอง ล็อคเลนส์ใกล้วัตถุให้แน่น วางตัวอย่างให้เรียบ ทำความสะอาดเลนส์และรอยนิ้วมือเป็นประจำ คมชัด การถ่ายภาพ
A5: รองรับการเชื่อมต่อพีซีแบบมีสาย USB และไร้สาย WIFI ติดตั้งซอฟต์แวร์การวัดอย่างเป็นทางการ ปิดการใช้งานไฟร์วอลล์ หรือ โปรแกรมสกัดกั้น เชื่อมต่อฮาร์ดแวร์ใหม่และรีสตาร์ทซอฟต์แวร์เพื่อการจดจำตามปกติ
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 ทีมผู้ก่อตั้งของเราสะสมความมั่งคั่ง ประสบการณ์ด้านการตรวจสอบด้วยแสง-เครื่องมือ-อุตสาหกรรม เริ่มตั้งแต่ปี พ.ศ. 2548 เราให้บริการครบวงจรครอบคลุม การออกแบบผลิตภัณฑ์ การวิจัยและพัฒนาภายในองค์กร การขายทั่วโลก และบริการหลังการขายและการบำรุงรักษาแบบครบวงจร ของเรา ทีมวิศวกรรมที่มีทักษะมีประสบการณ์มากกว่าสิบปีในการพัฒนาเครื่องมือออปติคอลเพื่อให้มั่นใจ ประสิทธิภาพทางเทคนิคที่มั่นคงและคุณภาพผลิตภัณฑ์ที่เชื่อถือได้
GAOPIN จัดหาเครื่องมือทดสอบแสงมากกว่าหนึ่งร้อยประเภทที่ให้บริการ ลูกค้าอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการ ทั่วโลก เราพัฒนาโซลูชันกล้องจุลทรรศน์แบบกำหนดเองที่ยืดหยุ่นและคุ้มค่าสำหรับ การควบคุมคุณภาพอุตสาหกรรมที่หลากหลายและ โครงการวิเคราะห์ห้องปฏิบัติการ
สำหรับผู้ซื้อในต่างประเทศ เราให้การสนับสนุนทางเทคนิคทั่วโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็ว รวมถึงการให้คำปรึกษาออนไลน์ระยะไกล วิดีโอสอนการใช้งานจริงและการฝึกอบรมการใช้งานอุปกรณ์ระยะไกลแบบสด โรงงานผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้) ยินดีเยี่ยมชมโรงงานและทัวร์เสมือนจริงออนไลน์ กรุณาติดต่อ ของเรา ทีมขายสำหรับภาพถ่ายทดสอบตัวอย่างจริงที่ถ่ายโดยกล้องจุลทรรศน์โลหการตรวจสอบเวเฟอร์พร้อมระบบ 4K อัลตร้าเอชดี และโฟกัสอัตโนมัติเพื่อประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพจริง
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
