กล้องจุลทรรศน์โลหการสำหรับการวิเคราะห์โลหะได้รับการปรับปรุงมาเพื่อการตรวจสอบชิ้นงานด้วยกล้องจุลทรรศน์ที่มีความแม่นยำ จึงเป็นการวิเคราะห์โลหะที่มีความน่าเชื่อถือสูง กล้องจุลทรรศน์โลหการ. รองรับการใช้ออปติกแก้ไขอินฟินิตี้ประสิทธิภาพสูงและเฟรมเวิร์กแบบโมดูลาร์ การขยายที่ยืดหยุ่นของโหมดสนามสว่าง แสงโพลาไรซ์ และโหมดการสังเกตอื่นๆ เพื่อตอบสนองความต้องการการทดสอบที่เปลี่ยนแปลงไป ที่ แชสซีป้องกันการสั่นสะเทือนเสริมแรงล็อคในการถ่ายภาพนิ่งและลดข้อผิดพลาดในการวัดได้อย่างมีประสิทธิภาพ การสังเกตที่มีความแม่นยำสูง ชิ้นส่วนควบคุมที่ได้รับการปรับปรุงช่วยลดความเหนื่อยล้าของผู้ปฏิบัติงานในระหว่างช่วงการทำงานที่ยาวนาน ได้อย่างอิสระ โมดูลที่รวมกันได้หลีกเลี่ยงการเปลี่ยนเครื่องจักรทั้งหมด ลดต้นทุนการอัพเกรด ในขณะที่พื้นที่ทำงานที่สงวนไว้เพียงพอ รองรับชิ้นงานขนาดต่างๆ
กล้อง HD CCD ในตัวรองรับช่องมองภาพและการรับชมจอภาพพร้อมกันด้วยเอาต์พุตไมโครภาพ HDMI แบบเรียลไทม์
กำลังขยายแบบออพติคอล 50-600 × และสูงสุด 4560 ×แบบดิจิตอล พร้อมระบบซูมวัตถุ 4 สปีด จับภาพขนาดเล็ก รายละเอียดเล็กๆ น้อยๆ ได้อย่างแม่นยำ
การโฟกัสแบบหยาบและละเอียดช่วยให้ถ่ายภาพได้อย่างมั่นคงโดยมีการสั่นไหวน้อยที่สุดเพื่อการสังเกตเป็นเวลานาน
ฐานอะลูมิเนียมหล่อชิ้นเดียวช่วยให้การทำงานมีเสถียรภาพโดยไม่โยกเยกระหว่างการตรวจสอบในระยะยาว
โครงสร้างตาสามมิติสีขาว-น้ำเงินสไตล์มินิมอล ดูเป็นมืออาชีพสำหรับห้องปฏิบัติการและสถานการณ์การตรวจสอบคุณภาพ
เหมาะสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ โลหะวิทยา การตรวจสอบผงและไฟเบอร์ การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และ การทดสอบคุณภาพทางอุตสาหกรรม ทำงาน
รองรับการบันทึกภาพและวิดีโอ 1080P การวัดบนหน้าจอ และที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์เพื่อความสะดวก การเก็บภาพและการวิเคราะห์ข้อมูล
การดูด้วยกล้องสองตาและการสังเกตทางอิเล็กทรอนิกส์แบบซิงโครนัส:การแสดงผลแบบซิงโครไนซ์ระหว่างช่องมองภาพและ จอภาพ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับการดูเฉพาะช่องมองภาพเท่านั้น จำเป็นต้องมีอุปกรณ์เสริมกล้องเพิ่มเติม สำหรับเอาต์พุตหน้าจอ
ความสามารถในการขยายสูง:กำลังขยายแบบออปติคัลสูงสุด 600 × และดิจิตอลสูงสุด 4560 × กำลังขยายสำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคที่ละเอียดเป็นพิเศษ อุปกรณ์โลหะวิทยาทั่วไปมีค่าสูงสุดที่ต่ำกว่า ประสิทธิภาพการขยายแบบดิจิทัล
การทำงานแบบสแตนด์อโลน HDMI:ทำงานอย่างอิสระด้วยจอภาพผ่านเอาต์พุต HDMI โดยไม่ต้องใช้พีซี สำหรับการวัดและการจับ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบดั้งเดิมมักจะอาศัยคอมพิวเตอร์โฮสต์สำหรับดิจิทัล ฟังก์ชั่น
การวัดแบบออฟไลน์ในตัว:การวัดโดยตรงบนจอภาพโดยไม่ต้องใช้ซอฟต์แวร์พีซี ธรรมดา กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยารองรับเฉพาะการวัดด้าน PC เท่านั้น โดยไม่มีฟังก์ชันการวัดแบบฝังด้วยฮาร์ดแวร์
ที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์ออฟไลน์:บันทึกรูปภาพและวิดีโอลงในแฟลชไดรฟ์ USB โดยไม่ต้องใช้คอมพิวเตอร์ รุ่นทั่วไปต้องใช้พีซีในการจัดเก็บภาพ
เส้นทางแสงแบบขยายได้แบบโมดูลาร์:รองรับการเพิ่มแสงโพลาไรซ์และโมดูลสังเกตการณ์อื่นๆ โดยไม่ต้องเปลี่ยนอุปกรณ์ทั้งหมด กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปมีความยืดหยุ่นในการอัพเกรดจำกัด
เส้นทางแสงโลหะวิทยาเฉพาะ:ปรับให้เหมาะสมสำหรับเม็ดโลหะ การเคลือบ และ การวิเคราะห์วัสดุโลหะวิทยา กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไปขาดเส้นทางแสงของโลหะวิทยาโดยเฉพาะและไม่สามารถทำได้ สังเกตโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยา
มาพร้อมกับกล้องอุตสาหกรรม Full-HD ความละเอียด 1920 × 1080 และมีการสอบเทียบอย่างเต็มรูปแบบด้วยมาตรฐานโลหะวิทยา ตัวอย่าง, กล้องจุลทรรศน์นี้ใช้เซ็นเซอร์ความละเอียดสูงเพื่อฟื้นฟูโครงสร้างไมโครของเม็ดโลหะ, เวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์, อนุภาคผงและพื้นผิวของเส้นใย โดยให้รายละเอียดที่ชัดเจนเต็มพื้นที่โดยไม่มีการเบลอของขอบหรือภาพ การลดทอน
มีระบบซูมใกล้วัตถุ 4 สปีด ให้ช่วงกำลังขยายรวม 380–4560 × มันรองรับ เต็มพื้นที่ การสแกนที่กำลังขยายต่ำและการวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบละเอียดพิเศษที่กำลังขยายสูง ตอบสนองความต้องการที่หลากหลาย มหาวิทยาลัย-ห้องปฏิบัติการ-การวิจัยและโรงงาน-ความแม่นยำ-การตรวจสอบคุณภาพ
โมดูลการวัดระดับมืออาชีพในตัวช่วยให้การคำนวณมิติและแบบเรียลไทม์มีความแม่นยำสูง คำอธิบายประกอบบนหน้าจอ รองรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงและการบันทึกวิดีโอระยะยาวเพียงคลิกเดียว ทั้งหมด ข้อมูลการวัดและรูปภาพสามารถส่งออกและจัดเก็บถาวรเพื่อรวบรวมรายงานการทดลองและ การตรวจสอบย้อนกลับคุณภาพ
ท่อสามตาช่วยให้สามารถสังเกตช่องมองภาพแบบซิงโครนัสและแสดงผลจอภาพดิจิทัลได้ ที่ ส่งและสะท้อนกลับ ระบบไฟคู่เข้ากันได้กับชิ้นงานโลหะทึบแสงและตัวอย่างฝังโปร่งใส แกน XY ที่มีความแม่นยำ แท่นกลไกให้การเคลื่อนไหวที่ราบรื่นและการวางตำแหน่งเป้าหมายที่รวดเร็ว
เซมิคอนดักเตอร์และไมโครอิเล็กทรอนิกส์:เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นภาพพิมพ์หิน, ชิป IC, บอร์ด PCB, บอร์ดยืดหยุ่น FPC เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตวงจรชิปภายใน การเคลือบเวเฟอร์ ข้อบกพร่องจากการบัดกรีเย็น ออกซิเดชัน รอยขีดข่วนของวงจร และการเปลี่ยนรูปของพิน วิเคราะห์โครงสร้างไมโครสไลซ์ภายใต้กำลังขยายสูงสุด 4560 ×
ตัวอย่างโลหะทางโลหะวิทยา:ชิ้นโลหะ, ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตรา เป้าหมายการตรวจสอบ: การวิเคราะห์โครงสร้างโลหะ-เกรน การบำบัดความร้อน-การระบุวัสดุ ตรวจจับการบิ่นที่ขอบ รอยแตกขนาดเล็ก เสี้ยนและความลึกของการเสียดสี
ห้องปฏิบัติการผงและไฟเบอร์-ตัวอย่าง:ผงโลหะ, ผงเคมี, คาร์บอนไฟเบอร์, เส้นใยสิ่งทอ, วัสดุฟิล์มบาง เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาค พื้นผิวของเส้นใย การแยกชั้นของฟิล์ม และ โครงสร้างวัสดุขนาดเล็ก
ออปโตอิเล็กทรอนิกส์และชิ้นส่วนพลาสติกที่มีความแม่นยำ:ชิป LED, เลนส์ออพติคอล, ชิ้นส่วนฉีดขึ้นรูป เป้าหมายการตรวจสอบ: ตรวจจับไมโครรูพรุน คราบบนพื้นผิว ขอบหยาบ ฟองกาว และข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ เกี่ยวกับเครื่องสำอาง
ส่วนประกอบจิ๋วที่มีความแม่นยำสูง:คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับตราขนาดเล็ก เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตช่องว่างเล็กๆ และความเรียบของรอยจีบ ทำการวัดความยาวอย่างแม่นยำระดับพิกเซล เส้นผ่านศูนย์กลางรูและระยะพิทช์
การเก็บถาวร QC ของห้องปฏิบัติการและอุตสาหกรรม:Metallographic-ชิ้น-การทดลอง-การวิเคราะห์ การตรวจสอบการสุ่มตัวอย่างสินค้าขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูป; การเก็บภาพและวิดีโอเพื่อบันทึกหลักฐานที่มีข้อบกพร่องและ การส่งออกรายงานการควบคุมคุณภาพการวัดอย่างเป็นทางการ
กำลังขยายสูงสุด 600 ×แบบออปติคัล และกำลังขยายแบบดิจิทัล 4560 × ระบุอย่างชัดเจนถึงเม็ดโลหะ เวเฟอร์ร่องรอย ข้อบกพร่องในการเคลือบและโครงสร้างไมโครผง เหมาะอย่างยิ่งสำหรับห้องปฏิบัติการวัสดุใหม่และ ความแม่นยำ-เซมิคอนดักเตอร์-การตรวจสอบขาเข้า
ทางเดินแสงแบบ Trinocular ช่วยให้สามารถรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพแบบสองตาและจอภาพ ผู้ประกอบการหลายรายสามารถทำได้ ตรวจสอบ เก็บตัวอย่างขนาดเล็กไว้ด้วยกัน เหมาะสำหรับการฝึกอบรมในมหาวิทยาลัยและการตรวจสอบข้อบกพร่องจากโรงงานซ้ำซ้อน
ระบบการวัดบนจอภาพในตัว ภาพถ่ายและวิดีโอ 1080P สามารถบันทึกลงในแฟลชไดรฟ์ USB ได้โดยตรง เพียงก จอภาพ จำเป็นสำหรับขั้นตอนการตรวจสอบที่สมบูรณ์ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับสถานีงานโรงงานที่ติดตั้งอย่างรวดเร็ว
มาพร้อมกับวัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาที่หลากหลายและการส่องสว่างแบบส่งและสะท้อนแบบคู่ เข้ากันได้กับ ตัวอย่างโลหะ แผ่นเวเฟอร์ ตัวอย่างผงไฟเบอร์ และวัสดุฟิล์มบาง ใช้กันอย่างแพร่หลายในการตรวจสอบการชุบด้วยไฟฟ้า มหาวิทยาลัย-วัสดุ-การวิจัยและอิเล็กทรอนิกส์-ขาเข้า-QC
การโฟกัสแบบแมนนวลแบบหยาบและละเอียดที่แม่นยำพร้อมตัวกล้องสำหรับงานหนักที่ป้องกันการสั่นสะเทือน รองรับการตรวจสอบตัวอย่างจำนวนมากอีกครั้ง การวิจัยวัสดุและการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยาเป็นประจำ
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
| เอนทิตี | คำอธิบาย |
| ผลิตภัณฑ์ | GP-L300-300C กล้องจุลทรรศน์วิเคราะห์โลหะ |
| หมวดหมู่ | กล้องจุลทรรศน์ตรวจสอบโลหะวิทยากำลังสูงแบบสามตาระดับการวิจัยทางอุตสาหกรรม |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลสังเกตการณ์แบบซิงโครนัสแบบ Trinocular, กลุ่มเลนส์วัตถุประสงค์โลหะวิทยากำลังสูง, ฟูลเอชดี เซ็นเซอร์รับภาพ CMOS, เครื่องมือวัดความแม่นยำแบบดิจิตอลในตัว, เอาต์พุตวิดีโอแบบเรียลไทม์ HDMI, ท้องถิ่น USB-แฟลชไดรฟ์-เทคโนโลยีการจัดเก็บภาพ |
| ข้อมูลจำเพาะที่สำคัญ | การขยายภาพ: 50/100/400/600 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 380/760/3040/4560 ×; อินเตอร์เฟซเอาท์พุท: HDMI; ความละเอียดในการจับภาพ: 1920 × 1080 (Full-HD); โฟกัสแบบแมนนวล; ฟังก์ชั่นการวัดที่แม่นยำในตัว อุปกรณ์จัดเก็บข้อมูลแฟลชไดรฟ์ USB *(รองรับแฟลชไดรฟ์ USB ฟอร์แมต FAT32 สูงสุด 32 GB เท่านั้น)*; ขั้วมอนิเตอร์ รองรับการแสดงภาพ HD, ถ่ายภาพ และบันทึกวิดีโอ *(ความแม่นยำในการวัด: 0.001 มม., เล็กกว่า ความอดทนในการวัดสามารถทำได้ภายใต้กำลังขยายที่สูงขึ้น ผลลัพธ์อาจมีการสอบเทียบ กำลังขยายและเงื่อนไขตัวอย่าง)* |
| การใช้งานทั่วไป | การสังเกตเซมิคอนดักเตอร์-เวเฟอร์, การวิเคราะห์โครงสร้างโลหะ-โลหะ, ผง-&-ไฟเบอร์-โครงสร้างจุลภาค- การตรวจจับ, การตรวจสอบเม็ดโลหะผสม, การวิเคราะห์การเคลือบวัสดุ, การวิจัยในห้องปฏิบัติการ - วัสดุใหม่, ความแม่นยำอิเล็กทรอนิกส์ส่วนประกอบการควบคุมคุณภาพ |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งผู้ผลิต | คุนซาน มณฑลเจียงซู จีน (ใกล้เซี่ยงไฮ้) |
| แบรนด์สินค้า | เกาปิน |
| รุ่นสินค้า | GP-L300-300C |
| ปณิธาน | 1920 × 1080 (ฟูลเอชดี) |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพ | 2 ล้านพิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | โฟกัสแบบแมนนวล |
| รูปแบบแสงของเซนเซอร์ | 1/2" |
| ขนาดพิกเซล | 3.75 ไมโครเมตร × 3.75 ไมโครเมตร |
| อินเตอร์เฟซเอาท์พุท | HDMI |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60 เฟรมต่อวินาที @1920 × 1080 |
| การซ้อนระยะชัดลึก | ไม่สามารถใช้ได้ |
| การเย็บภาพ | ไม่สามารถใช้ได้ |
| การดำเนินการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.001 มม. *(ความคลาดเคลื่อนในการวัดลดลงได้ภายใต้กำลังขยายที่สูงขึ้น ผลลัพธ์ขึ้นอยู่กับ การสอบเทียบ การขยาย และสภาวะตัวอย่าง)* |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (สลับได้ 4 ทิศทาง) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม รัศมี วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ การตรวจจับขอบอัตโนมัติ, สเกลบาร์ |
| วิธีการจัดเก็บ | แฟลชไดรฟ์ USB |
| โหมดการตั้งชื่อรูปภาพ | การตั้งชื่อไฟล์ภาพอัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1.3 GHz โปรเซสเซอร์ควบคุมหลัก |
| ระบบปฏิบัติการเฟิร์มแวร์ | ระบบการวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระซึ่งสร้างขึ้นบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| หัวสังเกตการณ์ | หลอดสังเกตการณ์แบบสามตาเอียง 30° หมุนได้ 360° ปรับระยะห่างระหว่างรูม่านตาได้ (53-75 มม.) |
| วิธีการสังเกต | สนามสว่าง / แสงเฉียง / แสงส่องผ่าน / โพลาไรซ์แบบง่าย |
| ระบบไฟส่องสว่าง | ระบบไฟส่องทางคู่แบบสะท้อนและส่งสัญญาณ แรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240 V; ปรับได้ เส้นใยเป็นศูนย์กลาง ปรับความเข้มของแสงได้อย่างต่อเนื่อง |
| โครงขาตั้ง | ชั้นวางแบบส่งและสะท้อนแบบอเนกประสงค์ กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเซียลหยาบละเอียด การปรับหยาบ โรคหลอดเลือดสมอง, ความแม่นยำในการปรับละเอียด 0.002 มม. พร้อมระบบล็อคและหยุดจำกัด ไฟส่องสว่างของหลอดฮาโลเจน สนามสว่าง ตัวสะท้อนแสงที่มีการหยุดรูรับแสงแบบปรับได้, หยุดสนามและการแปลงฟิลเตอร์สี; พร้อมฟิลเตอร์สีน้ำเงิน และแผ่นกระจกฝ้าสำหรับสะท้อนแสงสะท้อน |
| แพลตฟอร์มมือถือ | เวทีการเคลื่อนย้ายเชิงกลสองชั้น ขนาดเวที: 210 × 140 มม. จังหวะ X-Y: 75 × 50 มม.; เวทีกระจกสำหรับ การสังเกตที่ส่งและสะท้อนกลับ |
| แหล่งกำเนิดแสง | หลอดฮาโลเจน 6V-30W สำหรับแสงสะท้อน; หลอดฮาโลเจน 12V-50W สำหรับไฟส่องผ่าน |
| ง่าย-โพลาไรซ์ | เม็ดมีดโพลาไรเซอร์ 30° (แสงสะท้อน) + เม็ดมีดวิเคราะห์แบบหมุนได้ 360° สำหรับการสังเกตแบบโพลาไรซ์ |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซ 1X C-mount, โฟกัสที่ปรับไม่ได้ [ตัวเลือก: 0.5X C-mount สำหรับการชดเชยราคา] |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตามุมกว้าง WF10X/22 มม. จำนวน 2 ชิ้น (เลนส์ใกล้ตา 1 ชิ้นที่มีเครื่องหมายสเกล) |
| เลนส์ใกล้วัตถุโลหะ | วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาไม่มีสีในสนามแบนไม่จำกัด: PL L5X/0.12 WD26.1 มม.; PL L10X/0.25 WD20.2 มม.; พ.ล L40X/0.60 WD3.98 มม.; L60X/0.70 WD3.18 มม.; PL L100X/0.85 WD0.40 มม. (อุปกรณ์เสริม ไม่รวมอยู่ในมาตรฐาน การกำหนดค่า) |
| กำลังขยายด้วยแสง | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × ปรับได้สี่ระดับ |
| กำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 380×, 760×, 3040×, 4560× ปรับได้ 4 ระดับ (ขยายได้ถึง 190-2280×) |
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
สถาบันเทคนิคฟิสิกส์และเคมี CAS – การวิจัยด้วยกล้องจุลทรรศน์เกี่ยวกับอุณหภูมิต่ำ & วัสดุพิเศษที่ใช้งานได้
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – การทดสอบส่วนประกอบออปโตอิเล็กทรอนิกส์และการวิเคราะห์ความล้มเหลว
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องขนาดเล็กสำหรับ ชิ้นส่วนเครื่องจักรที่มีความแม่นยำ
CATL – การตรวจสอบข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับขั้วไฟฟ้าและเซลล์แบตเตอรี่ลิเธียม
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – การวิจัยเชิงแสงขั้นสูง & การระบุลักษณะเฉพาะของส่วนประกอบทางแสง
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – ลักษณะที่ปรากฏและการตรวจสอบคุณภาพระดับจุลภาคของ ชิ้นส่วนมาตรฐานอุตสาหกรรม
วัตถุประสงค์และช่องมองภาพ:เช็ดเลนส์เบา ๆ ด้วยกระดาษเลนส์และน้ำยาทำความสะอาดเลนส์ อย่าสัมผัสออปติคอล เลนส์ด้วยมือเปล่าหรือใช้กระดาษชำระธรรมดาในการทำความสะอาด
ตัวหลักและเวที:ล้างเศษตัวอย่างและผงโลหะทันที เช็ดตัวเครื่องด้วยก ผ้านุ่มแห้ง หลีกเลี่ยงการกระเด็นของของเหลว ตรวจสอบเป็นประจำว่าสกรูขันแน่นเพื่อป้องกันการเลื่อนที่เกิดจากการ การชนกัน
แหล่งกำเนิดแสงที่ส่งและสะท้อน:ปิดแหล่งกำเนิดแสงเมื่อไม่ได้ใช้งานกล้องจุลทรรศน์ ระเบิด ปัดฝุ่นออกจากหน้าต่างไฟและอย่าสัมผัสหลอดไฟโดยตรง
กลไกการโฟกัสแบบกลไก:อย่าบิดวงล้อปรับโฟกัสด้วยแรงมากเกินไป เลื่อนต่อไป ติดตามสะอาด; อย่าหล่อลื่นมันด้วยตัวเอง
สภาพแวดล้อมในการจัดเก็บ:เก็บในที่แห้งและมีอากาศถ่ายเทสะดวกเพื่อป้องกันความชื้นและเชื้อรา ครอบคลุม อุปกรณ์ที่มีฝาปิดกันฝุ่นหลังการใช้งาน
ซอฟต์แวร์และการสอบเทียบ:ปรับเทียบสเกลการวัดก่อนทำการวัด ปิดสนิท ซอฟต์แวร์ที่เกี่ยวข้องก่อนตัดไฟ อย่าถอดแยกชิ้นส่วนเครื่องโดยไม่ได้รับอนุญาต ติดต่อ การสนับสนุนบริการหลังการขายในกรณีที่เกิดความผิดปกติ
A1: รองรับเฉพาะเอาต์พุต HDMI ความละเอียดสูงเท่านั้น มันทำงานอย่างอิสระกับจอภาพโดยไม่ต้องเชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์ นำเสนอการใช้งานที่เรียบง่ายสำหรับสถานการณ์การตรวจจับที่แม่นยำต่างๆ
A2: รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอความละเอียดสูง 2K สามารถบันทึกไฟล์ผ่าน USB ฟอร์แมต FAT32 สูงสุด 32 GB แฟลชไดรฟ์ การวัดบนหน้าจอที่แม่นยำในตัวรองรับการทำเครื่องหมายขนาด การจัดเก็บข้อมูล และการส่งออกรายงาน
A3: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟและอะแดปเตอร์ ยึดสาย HDMI และสลับไปยังช่องสัญญาณที่ถูกต้อง รีสตาร์ท อุปกรณ์ เพื่อแก้ปัญหาจอดำ ไม่มีภาพ และหน้าจอกะพริบ
A4: ใช้การออกแบบแมนวลโฟกัสที่แม่นยำ ค่อยๆ ปรับวงล้อโฟกัสเพื่อให้ได้ภาพที่คมชัด วาง ตัวอย่าง ฝุ่นเลนส์ รอยนิ้วมือ และคราบสกปรกที่แบนและสม่ำเสมอเพื่อให้ภาพคมชัดและโปร่งใส
A5: อุปกรณ์นี้ไม่รองรับฟังก์ชันการเชื่อมต่อคอมพิวเตอร์หรือพอร์ตเครือข่าย ด้วยตัวเครื่องในตัว ปฏิบัติการอิสระ- ระบบสามารถถ่ายภาพ บันทึก วัด และจัดเก็บได้โดยตรงผ่านการเชื่อมต่อจอภาพ
A6: รองรับเฉพาะแฟลชไดรฟ์ USB ในรูปแบบ FAT32 ที่มีความจุไม่เกิน 32 GB ไม่รวมรูปแบบ NTFS และ exFAT เสียบใหม่หรือ ฟอร์แมตแฟลชไดรฟ์ USB หรือแทนที่ด้วยแฟลชไดรฟ์ USB ที่รองรับสำหรับการจัดเก็บไฟล์ตามปกติ
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นในปี 2554 ซึ่งผู้ก่อตั้งได้สั่งสมความเชี่ยวชาญในอุตสาหกรรมมาตั้งแต่ปี 2005 เป็นองค์กรที่มุ่งเน้นเทคโนโลยีซึ่งเชี่ยวชาญด้านการออกแบบ R&D การขายและบริการหลังการขายของอุตสาหกรรม กล้องจุลทรรศน์ ทีมวิศวกรหลักของเรานำประสบการณ์เฉพาะทางมามากกว่าสิบปี เพื่อรับประกันเทคโนโลยีที่สมบูรณ์ และ คุณภาพที่เชื่อถือได้ ด้วยโมเดลผลิตภัณฑ์ออพติคัลมากกว่าหนึ่งร้อยรุ่นและฐานลูกค้าทั่วโลก GAOPIN อย่างต่อเนื่อง นำเสนอโซลูชันกล้องจุลทรรศน์ที่ออกแบบตามความต้องการและคุ้มค่า เราให้การสนับสนุนทางเทคนิคระดับโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็วผ่านทาง การประชุมออนไลน์ คำแนะนำผ่านวิดีโอ และการฝึกอบรมทางไกล ฐานการผลิตของเราตั้งอยู่ที่ คุนซาน มณฑลเจียงซู (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้) มีทั้งการตรวจสอบโรงงานในสถานที่และการทัวร์ชมโรงงานเสมือนจริง ลูกค้า โปรดติดต่อเราเพื่อขอภาพทดสอบตัวอย่างที่ถ่ายโดย GP-L300-300C Metal Analysis Metallurgical นี้ กล้องจุลทรรศน์เพื่อประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพโดยตรง
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
