ที่เกาปินกล้องจุลทรรศน์โลหการอุตสาหกรรมได้รับการออกแบบสำหรับการตรวจสอบแสงสะท้อนของวัสดุทึบแสง รวมถึงโลหะ โลหะผสม เซรามิก ส่วนประกอบเซมิคอนดักเตอร์ และวัสดุอิเล็กทรอนิกส์ที่เลือกสรร รองรับการตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์ของชิ้นงานที่เตรียมไว้เพื่อระบุคุณลักษณะของวัสดุ การประเมินกระบวนการ และการวิเคราะห์ความล้มเหลว ระบบสามารถใช้สำหรับการสังเกตสนามสว่างและอาจรองรับอุปกรณ์เสริมสนามมืด โพลาไรเซชัน หรือดิฟเฟอเรนเชียลอินเตอเรนเชียลคอนทราสต์ (DIC) ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับการกำหนดค่า
ปัจจัยในการเลือกหลัก ได้แก่ ขนาดของชิ้นงาน การเตรียมพื้นผิว กำลังขยายที่ต้องการ ระยะการทำงานตามวัตถุประสงค์ วิธีการส่องสว่าง และการวิเคราะห์ภาพดิจิทัลจำเป็นหรือไม่ Gaopin มีการกำหนดค่าแบบตั้งตรงและแบบกลับด้านสำหรับการจัดเตรียมชิ้นงานทดสอบที่แตกต่างกัน โดยทั่วไปแล้ว รุ่นตั้งตรงจะเหมาะกับชิ้นงานที่เตรียมไว้แล้ววางบนเวที ในขณะที่การออกแบบกลับด้านสามารถรองรับชิ้นงานขนาดใหญ่หรือหนักกว่าบางชิ้นได้ เมื่อข้อกำหนดเฉพาะของสเตจและระยะห่างอนุญาต
กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาอุตสาหกรรมแตกต่างจากการตรวจสอบลักษณะทั่วไป โดยทั่วไปจะใช้เพื่อตรวจสอบพื้นผิวและหน้าตัดของวัสดุที่เตรียมไว้ ซึ่งไม่สามารถประเมินรายละเอียดทางโครงสร้างจุลภาคได้อย่างน่าเชื่อถือด้วยตาเปล่าหรือกล้องจุลทรรศน์สเตอริโอกำลังขยายต่ำ
ภาพถ่ายจากกล้องจุลทรรศน์เพียงอย่างเดียวไม่ได้ระบุสาเหตุของความล้มเหลวของวัสดุหรือยืนยันการปฏิบัติตามข้อกำหนดเฉพาะของวัสดุ การตีความที่เชื่อถือได้ขึ้นอยู่กับการเตรียมสิ่งส่งตรวจ ขั้นตอนการประเมินที่เกี่ยวข้อง และการทดสอบเสริมหรือเทคนิคการวิเคราะห์ หากจำเป็น
กล้องจุลทรรศน์โลหการอุตสาหกรรม Gaopin มีจำหน่ายทั้งแบบตั้งตรงและแบบกลับด้าน การออกแบบที่เหมาะสมจะขึ้นอยู่กับขนาด น้ำหนัก รูปร่าง และตำแหน่งการติดตั้งของชิ้นงานทดสอบเป็นหลัก
| ปัจจัยการคัดเลือก | การกำหนดค่าตั้งตรง | การกำหนดค่าแบบกลับหัว |
|---|---|---|
| ตำแหน่งวัตถุประสงค์ | เหนือตัวอย่าง | ด้านล่างเวทีตัวอย่าง |
| การจัดเรียงตัวอย่างทั่วไป | จัดเตรียมตัวอย่างไว้บนเวที | พื้นผิวชิ้นงานที่เหมาะสมอยู่ในตำแหน่งเหนือวัตถุประสงค์ |
| การใช้งานทั่วไป | การตรวจสอบโลหะวิทยาตามปกติของตัวอย่างที่ติดตั้งหรือที่เตรียมไว้ | การตรวจสอบชิ้นส่วนที่ใหญ่กว่าหรือหนักกว่าที่เลือกไว้ซึ่งสามารถรองรับได้อย่างปลอดภัย |
| การพิจารณาหลัก | ระยะการทำงานตามวัตถุประสงค์และความสูงของชิ้นงาน | ความสามารถในการรับน้ำหนักของสเตจ ระยะห่างของชิ้นงาน และการเข้าถึงพื้นผิวการตรวจสอบ |
กล้องจุลทรรศน์แบบกลับหัวไม่สามารถขจัดการเตรียมชิ้นงานทดสอบได้ เมื่อการวิเคราะห์ต้องใช้พื้นผิวขัดเงาหรือแกะสลัก ในทำนองเดียวกัน โมเดลแนวตั้งไม่สามารถรองรับชิ้นงานทุกขนาดได้ ก่อนที่จะเลือกการจัดเตรียมอย่างใดอย่างหนึ่ง ให้ตรวจสอบมิติของขั้นตอน ความสามารถในการรับน้ำหนัก การกวาดล้างวัตถุประสงค์ และขั้นตอนการเตรียมการที่จำเป็นสำหรับการวิเคราะห์ที่ตั้งใจไว้
กล้องจุลทรรศน์ใช้แสงสะท้อนเพื่อตรวจสอบชิ้นงานทึบแสง คอนทราสต์ของภาพขึ้นอยู่กับสภาพพื้นผิว การสะท้อนกลับ คุณลักษณะของวัตถุ เรขาคณิตของการส่องสว่าง และโฟกัสของชิ้นงานทดสอบ วิธีการจัดแสงที่เลือกควรตรงกับคุณสมบัติที่ต้องสังเกต
เทคนิคเหล่านี้ไม่เหมาะกับทุกชิ้นงานทดสอบ โมดูลเสริมต้องเข้ากันได้กับตัวกล้องจุลทรรศน์ วัตถุประสงค์ และเส้นทางการส่องสว่าง ผู้ซื้อควรระบุวัสดุ พื้นผิว และข้อบกพร่องของเป้าหมายก่อนเลือกการกำหนดค่าคอนทราสต์ที่อัปเกรดแล้ว
การเลือกวัตถุประสงค์จะส่งผลต่อความละเอียด ขอบเขตการมองเห็น ระยะห่างในการทำงาน และระดับรายละเอียดที่สามารถแยกแยะได้ การตั้งค่ากำลังขยายที่สูงขึ้นไม่ได้ให้ข้อมูลที่เป็นประโยชน์มากขึ้นโดยอัตโนมัติ สนามที่มองเห็นได้จะเล็กลง และความละเอียดของแสงยังคงขึ้นอยู่กับปัจจัยต่างๆ เช่น ค่ารูรับแสงที่เป็นตัวเลข ความยาวคลื่น การแก้ไขด้วยแสง และคุณภาพของชิ้นงานทดสอบ
การตรวจสอบโลหะวิทยามักต้องมีลำดับการเตรียมการที่มีการควบคุม ซึ่งอาจรวมถึงการตัดส่วน การติดตั้ง การเจียร การขัด และการแกะสลัก ขั้นตอนที่เหมาะสมขึ้นอยู่กับวัสดุและโครงสร้างที่กำลังประเมิน รอยขีดข่วน การดึงออก การปนเปื้อน การขัดเงาที่ไม่สม่ำเสมอ และการแกะสลักที่ไม่เหมาะสมอาจทำให้เกิดสิ่งแปลกปลอมที่อาจเข้าใจผิดว่าเป็นคุณสมบัติของวัสดุ
สำหรับการจัดซื้อ ให้ยืนยันช่วงวัตถุประสงค์ที่รองรับ ระบบการมองเห็น ระยะการทำงาน ขนาดของชิ้นงานทดสอบ และวิธีการเตรียมการที่จำเป็น หากชิ้นงานสูง ไม่สม่ำเสมอ หรือใหญ่เกินไปสำหรับขั้นตอนชิ้นงานทดสอบที่เตรียมไว้ ให้ประเมินว่าการกำหนดค่าแบบกลับหัวหรือวิธีการตรวจสอบแบบอื่นมีความเหมาะสมมากกว่าหรือไม่
กล้องสองตารุ่นมีจุดประสงค์เพื่อการสังเกตช่องมองภาพโดยตรงเป็นหลัก โครงสร้างแบบสามตาที่เข้ากันได้สามารถรับกล้องอุตสาหกรรมผ่านอะแดปเตอร์ C-mount ที่เหมาะสม ระบบอาจรองรับการแสดงผลสด การจับภาพ การบันทึกวิดีโอ และการวิเคราะห์โดยใช้ซอฟต์แวร์ ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับกล้องที่เลือกและอุปกรณ์ที่เกี่ยวข้อง
เอาต์พุต HDMI และ USB ขึ้นอยู่กับกล้องและอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ของกล้อง พอร์ตของกล้องสามตานั้นไม่ได้สร้างสัญญาณดิจิทัล ขนาดเซนเซอร์กล้อง กำลังขยายของอะแดปเตอร์ ความเข้ากันได้ของซอฟต์แวร์ และการออกแบบด้านการมองเห็นของกล้องจุลทรรศน์ ส่งผลต่อภาพและขอบเขตการมองเห็นที่ได้
การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยาเชิงปริมาณต้องใช้มาตราส่วนการถ่ายภาพที่เหมาะสมและขั้นตอนการประเมินที่เหมาะสม ซอฟต์แวร์อาจรองรับฟังก์ชันต่างๆ เช่น การวัดเชิงเส้นและพื้นที่ สถิติขนาดเกรน หรือการวิเคราะห์แบบรวม แต่ความพร้อมใช้งานและความถูกต้องของแต่ละฟังก์ชันขึ้นอยู่กับซอฟต์แวร์ การสอบเทียบ การเตรียมตัวอย่าง และวิธีการที่เกี่ยวข้อง
ชุดกล้องและซอฟต์แวร์ไม่ได้ทำให้กล้องจุลทรรศน์เป็นเครื่องมือมาตรวิทยาที่ปรับเทียบแล้วโดยอัตโนมัติ สำหรับการตรวจสอบขนาดอย่างเป็นทางการ ให้ยืนยันความถูกต้องที่จำเป็น ความไม่แน่นอนของการวัด ความสามารถในการตรวจสอบย้อนกลับของการสอบเทียบ และขั้นตอนการตรวจสอบที่เกี่ยวข้อง
| ประเภทอุปกรณ์ | การสมัครหลัก | การพิจารณาเลือกคีย์ |
|---|---|---|
| กล้องจุลทรรศน์โลหการอุตสาหกรรม | การตรวจสอบแสงสะท้อนของชิ้นงานทึบแสงที่เตรียมไว้ | ความละเอียดตามวัตถุประสงค์ การส่องสว่าง การเตรียมชิ้นงานทดสอบ และข้อกำหนดด้านคอนทราสต์ |
| กล้องจุลทรรศน์สเตอริโอ | การตรวจสอบชิ้นงานที่อยู่ในสภาพสมบูรณ์ด้วยภาพสามมิติ | ระยะการทำงาน การรับรู้เชิงลึก และการเข้าถึงสำหรับการใช้งานด้วยตนเอง |
| กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอล HDMI | การตรวจสอบด้วยภาพบนหน้าจอและเอกสารดิจิทัล | ความละเอียดของกล้อง เอาต์พุตการแสดงผล และมีวิธีคอนทราสต์ทางโลหะวิทยาหรือไม่ |
| การวัดด้วยกล้องจุลทรรศน์หรือระบบวัดการมองเห็น | การตรวจสอบมิติเทียบกับความคลาดเคลื่อนที่กำหนดไว้ | ช่วงการวัด การสอบเทียบ ความไม่แน่นอน และความแม่นยำที่บันทึกไว้ |
| กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน | การตรวจสอบคุณสมบัติที่นอกเหนือไปจากความละเอียดในทางปฏิบัติของกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงทั่วไป | ความละเอียดที่ต้องการ การเตรียมชิ้นงานทดสอบ สภาพแวดล้อมการทำงาน และความต้องการในการวิเคราะห์ |
กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทางอุตสาหกรรมไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อใช้แทนเครื่องมือวิเคราะห์ทุกชนิด กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงแบบธรรมดาไม่สามารถแก้ไขโครงสร้างระดับนาโนได้ทั้งหมด และอาจจำเป็นต้องใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนหรือเทคนิคพิเศษอื่นๆ เมื่อคุณลักษณะของเป้าหมายต่ำกว่าขีดจำกัดความละเอียดของแสง
กลุ่มผลิตภัณฑ์กล้องจุลทรรศน์โลหการอุตสาหกรรมของ Gaopin ครอบคลุมข้อกำหนดด้านการสังเกต การส่องสว่าง เวที และการถ่ายภาพที่แตกต่างกัน ควรยืนยันการกำหนดค่าที่มีอยู่โดยเทียบกับข้อกำหนดเฉพาะของรุ่นปัจจุบัน
อุปกรณ์เสริมที่เป็นไปได้ ได้แก่ วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาที่เข้ากันได้ เลนส์ใกล้ตามุมกว้าง ไฟสะท้อนแสง โมดูลสนามสว่างและสนามมืด ส่วนประกอบโพลาไรเซชัน โมดูล DIC สเตจ XY แบบแมนนวลหรือแบบใช้มอเตอร์ อะแดปเตอร์ C-mount กล้องอุตสาหกรรม ฟิลเตอร์ และซอฟต์แวร์วิเคราะห์ภาพโลหะวิทยา
ควรยืนยันความเข้ากันได้ของอุปกรณ์เสริมสำหรับทั้งระบบ ตัวอย่างเช่น วัตถุประสงค์ อะแดปเตอร์กล้อง หรือโมดูลคอนทราสต์อาจทำงานไม่ถูกต้องกับการออกแบบออพติคอลทุกแบบ ก่อนสั่งซื้อ โปรดระบุหมายเลขรุ่นและอธิบายชิ้นงานทดสอบ คุณลักษณะเป้าหมาย ข้อกำหนดในการขยาย และวิธีการวิเคราะห์ที่ต้องการ
กระบวนการผลิตกล้องจุลทรรศน์โลหการอุตสาหกรรมของ Gaopin อาจรวมถึงการประกอบส่วนประกอบทางแสง การปรับเส้นทางแสงสะท้อน การจัดตำแหน่งวัตถุประสงค์และความสว่าง การประกอบเวที และการตรวจสอบผลิตภัณฑ์สำเร็จรูป การตรวจสอบคุณภาพอาจครอบคลุมถึงความคมชัดของภาพ ความสม่ำเสมอของแสง ลักษณะการโฟกัส การเคลื่อนที่ของเวที การจัดแนวแสง และการทำงานของโมดูลคอนทราสต์ที่รองรับ
แบบจำลองกลับด้านอาจต้องมีการตรวจสอบเพิ่มเติมเกี่ยวกับความจุของแท่นและความเสถียรทางกล โดยขึ้นอยู่กับโหลดชิ้นงานที่ต้องการ ผู้ซื้อควรขอข้อกำหนดเฉพาะที่เกี่ยวข้องและบันทึกการตรวจสอบสำหรับรุ่นที่เลือก โดยเฉพาะอย่างยิ่งในกรณีที่ข้อกำหนดการซื้อกำหนดการเดินทางของเวที ความสามารถในการรับน้ำหนัก ความละเอียดของแสง หรือความสม่ำเสมอของการส่องสว่าง
การกล่าวอ้าง เช่น ประสิทธิภาพพาร์โฟคอล การทำงานต่อเนื่อง หรือการเข้ากันได้กับฟังก์ชันการวิเคราะห์เฉพาะทาง ควรได้รับการสนับสนุนโดยเอกสารประกอบเฉพาะรุ่น การตรวจสอบด้วยแสง การทดสอบทางกล บันทึกอายุ และการตรวจสอบความถูกต้องของซอฟต์แวร์กล่าวถึงประสิทธิภาพของระบบในด้านต่างๆ และไม่ควรถือเป็นหลักฐานที่เทียบเท่ากัน
ข้อกำหนดการปฏิบัติตามข้อกำหนดที่เกี่ยวข้องกับตลาดจะแตกต่างกันไปตามการกำหนดค่าผลิตภัณฑ์และภูมิภาคเป้าหมาย สามารถตรวจสอบเอกสารทางเทคนิคสนับสนุนที่เกี่ยวข้องได้เพื่อให้ตรงกับความต้องการด้านการจัดซื้อในท้องถิ่นของคุณ การใช้งานเอกสารขึ้นอยู่กับหน่วยที่จัดส่ง อุปกรณ์เสริม และตลาดปลายทาง ข้อมูลทางเทคนิคที่รองรับจะแตกต่างกันไปตามรุ่นและการตั้งค่าที่แตกต่างกัน โปรดปรึกษาเราเพื่อยืนยันวัสดุที่มีอยู่ก่อนทำการสั่งซื้อ
ตัวอย่างสต็อกของ Gaopin Industrial Metallurgical Microscope รุ่นที่ไม่มียี่ห้อ อาจมีให้สำหรับการประเมินเบื้องต้น โดยขึ้นอยู่กับสต็อกและการกำหนดค่า การทดสอบตัวอย่างสามารถช่วยยืนยันความพอดีของชิ้นงานทดสอบ ระยะห่างจากวัตถุ ความสว่าง คุณภาพของภาพ และความเข้ากันได้ของกล้องก่อนที่จะสั่งซื้อจำนวนมาก
สำหรับการปรับเปลี่ยนโครงสร้างที่เลือก ระยะเวลาการพัฒนาตัวอย่างโดยประมาณคือ 7–12 วันทำการ การผลิตจำนวนมากประมาณ 15-25 วันทำการหลังจากได้รับการอนุมัติตัวอย่าง ระยะเวลาที่แท้จริงขึ้นอยู่กับปริมาณการสั่งซื้อ ความพร้อมใช้งานของส่วนประกอบ และความซับซ้อนของการเปลี่ยนแปลงที่ร้องขอ ยืนยันกำหนดการที่ตกลงกัน ขอบเขตการแก้ไข และกระบวนการอนุมัติตัวอย่างในใบเสนอราคาหรือการยืนยันคำสั่งซื้อ
เพื่อสนับสนุนใบเสนอราคาที่ถูกต้อง โปรดระบุ:
โมเดลกล้องสองตาได้รับการออกแบบมาเพื่อการสังเกตช่องมองภาพเป็นหลัก และไม่จำเป็นต้องรวมเอาต์พุตดิจิทัลด้วย กล้องสามตารุ่นที่ใช้ร่วมกันได้สามารถรับกล้องอุตสาหกรรมผ่านอะแดปเตอร์ที่เหมาะสมได้ เอาต์พุต HDMI หรือ USB ขึ้นอยู่กับกล้อง และการดูช่องมองภาพและการดูหน้าจอพร้อมกันนั้นขึ้นอยู่กับการออกแบบการแยกแสงของกล้องจุลทรรศน์
การวิเคราะห์เหล่านี้อาจทำได้ด้วยกล้องที่ใช้ร่วมกันได้ ขนาดภาพที่ปรับเทียบแล้ว ซอฟต์แวร์ที่เหมาะสม และการเตรียมตัวอย่างและขั้นตอนการประเมินที่ถูกต้อง ความหนาของชั้นเคลือบมักต้องใช้หน้าตัดที่เตรียมไว้หรือวิธีการอื่นที่ได้รับการตรวจสอบความถูกต้อง การวิเคราะห์ขนาดเกรนและการรวมเข้าขึ้นอยู่กับมาตรฐานวัสดุที่เกี่ยวข้องและวิธีการประเมิน ยืนยันผลลัพธ์และขั้นตอนที่ต้องการก่อนเลือกระบบ
บางรุ่นรองรับโมดูลคอนทราสต์เสริม แต่ความเข้ากันได้ขึ้นอยู่กับตัวเลนส์ วัตถุประสงค์ ไฟส่องสว่าง และเส้นทางแสง ยืนยันรุ่นที่แน่นอนและตัวอย่างที่ต้องการก่อนสั่งซื้อการอัพเกรด เทคนิคเหล่านี้สามารถปรับปรุงการมองเห็นคุณสมบัติที่เลือกได้ แต่ไม่รับประกันว่าจะตรวจพบข้อบกพร่องทุกประการ
ขจัดฝุ่นที่เกาะอยู่ออกด้วยเครื่องเป่าลมที่สะอาดก่อนทำความสะอาดพื้นผิวเลนส์ หากจำเป็นต้องทำความสะอาดเพิ่มเติม ให้ใช้กระดาษทิชชู่สำหรับเลนส์สายตาและน้ำยาทำความสะอาดที่ผ่านการรับรองสำหรับการเคลือบ โดยปฏิบัติตามคำแนะนำของผู้ผลิต หลีกเลี่ยงกระดาษชำระ ผ้าธรรมดา ของเหลวมากเกินไป และแรงกดบนเลนส์โดยตรง อย่าถอดส่วนประกอบออปติคอลภายใน การทำความสะอาดและการจัดตำแหน่งภายในควรได้รับการจัดการโดยช่างบริการที่มีคุณสมบัติเหมาะสม
การจัดเรียงแบบกลับหัวอาจรองรับชิ้นงานขนาดใหญ่หรือหนักบางชิ้นได้ โดยต้องสามารถวางชิ้นงานทดสอบได้อย่างปลอดภัย และความจุของแท่นและระยะห่างตามวัตถุประสงค์เพียงพอ อย่างไรก็ตาม การวิเคราะห์โครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาอาจยังต้องมีการตัดส่วน การเจียร การขัดเงา หรือการแกะสลัก ยืนยันวิธีการตรวจสอบที่ต้องการและข้อกำหนดของชิ้นงานทดสอบก่อนเลือกการกำหนดค่า
ระยะเวลาการพัฒนาตัวอย่างโดยประมาณสำหรับการปรับเปลี่ยนโครงสร้างที่เลือกคือ 7–12 วันทำการ ตามด้วยประมาณ 15–25 วันทำการสำหรับการผลิตจำนวนมากหลังจากได้รับการอนุมัติตัวอย่าง สิ่งเหล่านี้เป็นการวางแผนโดยประมาณมากกว่าวันที่รับประกันการส่งมอบ ยืนยันขอบเขตการแก้ไข กระบวนการอนุมัติตัวอย่าง และกำหนดการส่งมอบขั้นสุดท้ายเป็นลายลักษณ์อักษร
ตรวจสอบการออกแบบด้านการมองเห็น ช่วงวัตถุประสงค์ ขนาดของชิ้นงาน วิธีการส่องสว่าง ความจุของเวที ความเข้ากันได้ของกล้องและซอฟต์แวร์ อุปกรณ์เสริมที่มี และเอกสารที่จำเป็น สำหรับการวิเคราะห์เชิงปริมาณ ให้ยืนยันการเตรียมตัวอย่าง มาตรฐานการประเมิน ข้อกำหนดในการสอบเทียบ และบันทึกที่จำเป็นเพื่อสนับสนุนผลลัพธ์ที่รายงาน
