เกาปินกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาได้รับการออกแบบสำหรับการตรวจสอบวัสดุทึบแสงภายใต้แสงสะท้อน ซึ่งรวมถึงตัวอย่างโลหะที่เตรียมไว้ สารเคลือบ วัสดุเซมิคอนดักเตอร์ และส่วนประกอบที่ได้รับการออกแบบทางวิศวกรรมอย่างแม่นยำ งานตรวจสอบโดยทั่วไป ได้แก่ การสังเกตขอบเขตของเกรน การกระจายเฟส การรวมตัว รอยแตกขนาดเล็ก และคุณสมบัติที่มองเห็นได้อื่นๆ ในโครงสร้างจุลภาคของวัสดุ
แตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์ที่มีไว้สำหรับการจัดการพื้นผิวสามมิติเป็นหลัก กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา Gaopin ได้รับการกำหนดค่าสำหรับการตรวจสอบตัวอย่างทางแสงโดยละเอียดซึ่งส่งแสงไม่เพียงพอสำหรับการสังเกตด้วยแสงที่ส่องผ่านแบบทั่วไป การตั้งค่าที่เหมาะสมขึ้นอยู่กับการเตรียมตัวอย่าง การขยายตามวัตถุ แสงสะท้อน ระยะการทำงาน และขึ้นอยู่กับว่าแอปพลิเคชันนั้นจำเป็นต้องมีการตรวจสอบด้วยภาพหรือการวิเคราะห์ภาพที่บันทึกไว้หรือไม่
ข้อมูลจำเพาะด้านออพติคอล อินเทอร์เฟซของกล้อง และอุปกรณ์เสริมที่มีให้อาจแตกต่างกันไปตามรุ่น ผู้ซื้อควรยืนยันข้อกำหนดทางเทคนิคและฟังก์ชั่นที่ต้องการของกล้องจุลทรรศน์ Gaopin ที่เลือกก่อนสั่งซื้อ
กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาใช้เพื่อตรวจสอบวัสดุที่เตรียมไว้และระบุลักษณะโครงสร้างที่มองเห็นได้ ผลลัพธ์ขึ้นอยู่กับวัสดุ การเตรียมตัวอย่าง การกำหนดค่าเชิงแสง การส่องสว่าง และวิธีการตรวจสอบ กล้องจุลทรรศน์สามารถรองรับการประเมินด้วยการมองเห็นและการจัดทำเอกสารภาพได้ แต่การประเมินวัสดุบางอย่างจำเป็นต้องมีการทดสอบเสริมหรือขั้นตอนการวิเคราะห์ที่กำหนดไว้
ส่วนโลหะที่เตรียมไว้สามารถตรวจสอบขอบเขตของเกรน การกระจายเฟส การเจือปน และคุณสมบัติทางโครงสร้างจุลภาคอื่นๆ ที่มองเห็นได้ อาจจำเป็นต้องแกะสลักเพื่อเปิดเผยรายละเอียดโครงสร้าง ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับวัสดุและวัตถุประสงค์ในการตรวจสอบ การประเมินขนาดเกรนและการวิเคราะห์เชิงปริมาณอื่นๆ จำเป็นต้องมีวิธีการเตรียมการที่เหมาะสมและขั้นตอนการประเมินที่เหมาะสม
การสังเกตด้วยแสงสะท้อนสามารถช่วยระบุข้อบกพร่องของสารเคลือบ รูพรุน รอยขีดข่วน รอยแตก และความแปรผันของโครงสร้างพื้นผิวที่มองเห็นได้ อาจใช้ตัวอย่างภาคตัดขวางเพื่อตรวจสอบชั้นเคลือบ การวัดความหนาเคลือบเชิงปริมาณต้องใช้ส่วนตัวอย่างที่เหมาะสม ขนาดภาพที่ปรับเทียบแล้ว และวิธีการวัดที่เหมาะสม กำลังขยายทั้งหมดเพียงอย่างเดียวไม่ได้สร้างความแม่นยำในการวัด
การกำหนดค่ากล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาของ Gaopin อาจเหมาะสำหรับการตรวจสอบพื้นผิวเซมิคอนดักเตอร์ที่เลือก คุณลักษณะของเวเฟอร์ ชั้นที่สะสม และตัวอย่างวัสดุอิเล็กทรอนิกส์ ความละเอียดเชิงแสง รูปทรงการส่องสว่าง ระยะเคลื่อนที่ของเวที และความสามารถในการบันทึกภาพที่ต้องการ ขึ้นอยู่กับเป้าหมายการตรวจสอบ การใช้งานที่เกี่ยวข้องกับคุณสมบัติที่ต่ำกว่าความสามารถในการแยกส่วนของกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงอาจต้องใช้เครื่องมือเพิ่มเติมหรือเทคนิคการวิเคราะห์
การตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์ของหน้าตัดที่เตรียมไว้และพื้นผิวส่วนประกอบที่เหมาะสมสามารถช่วยเปิดเผยรอยแตกร้าว รอยตำหนิ ช่องว่าง และความไม่ต่อเนื่องอื่นๆ ที่มองเห็นได้ กล้องจุลทรรศน์สามารถบันทึกหลักฐานที่มองเห็นได้ แต่ไม่สามารถระบุองค์ประกอบทางเคมี คุณสมบัติทางกล หรือสาเหตุที่แท้จริงของความล้มเหลวของวัสดุได้อย่างอิสระ ข้อสรุปเหล่านี้อาจต้องมีการทดสอบเสริมและการวิเคราะห์ทางวิศวกรรม
กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา Gaopin ใช้การกำหนดค่าสำหรับการตรวจสอบแสงสะท้อนของตัวอย่างทึบแสงหรือโปร่งใสไม่เพียงพอ ระบบออพติคัลที่แก้ไขแบบอินฟินิตี้อาจมีในรุ่นที่ใช้ร่วมกันได้ ควรตรวจสอบการออกแบบด้านการมองเห็น ข้อมูลจำเพาะของวัตถุประสงค์ การจัดแสง และอุปกรณ์เสริมที่รองรับโดยเทียบกับรุ่นที่เลือก
การเลือกวัตถุประสงค์จะส่งผลต่อความละเอียด ขอบเขตการมองเห็น ระยะห่างในการทำงาน และระดับรายละเอียดที่มองเห็นได้ในภาพ กำลังขยายทั้งหมดถูกกำหนดโดยวัตถุประสงค์และเลนส์ใกล้ตารวมกัน หรือโดยการกำหนดค่าทางแสงและภาพที่เกี่ยวข้อง กำลังขยายที่สูงขึ้นไม่จำเป็นต้องให้รายละเอียดที่เป็นประโยชน์มากขึ้น หากความละเอียดของแสง การเตรียมตัวอย่าง หรือการส่องสว่างไม่เพียงพอ
ก่อนที่จะเลือกกล้องจุลทรรศน์ Gaopin ให้ยืนยันกำลังขยายตามวัตถุประสงค์ ข้อกำหนดของช่องมองภาพ ช่วงกำลังขยายทั้งหมด มุมมอง และระยะการทำงานที่มีอยู่ พารามิเตอร์เหล่านี้ควรได้รับการประเมินร่วมกับคุณลักษณะที่เล็กที่สุดที่ต้องสังเกต
แสงสะท้อนจากสนามความสว่างมักใช้สำหรับการสังเกตตัวอย่างทึบแสงที่เตรียมไว้โดยทั่วไป การส่องสว่างในสนามมืดอาจปรับปรุงการมองเห็นของขอบ รอยขีดข่วน อนุภาค หรือลักษณะพื้นผิวที่เลือกโดยการเปลี่ยนวิธีที่แสงไปถึงวัตถุ ประสิทธิภาพขึ้นอยู่กับรูปทรงของตัวอย่าง ลักษณะพื้นผิว และฮาร์ดแวร์ออปติกที่เข้ากันได้
ควรยืนยันความสามารถของสนามสว่างและสนามมืดสำหรับการกำหนดค่าที่เลือก การมีโหมดส่องสว่างหนึ่งโหมดไม่ได้หมายความว่าโหมดอื่นจะรวมอยู่ด้วยโดยอัตโนมัติ
ส่วนประกอบโพลาไรซ์สามารถช่วยในการตรวจสอบวัสดุหรือคุณสมบัติที่สร้างคอนทราสต์ที่เกี่ยวข้องกับโพลาไรซ์ที่เป็นประโยชน์ คอนทราสต์การรบกวนแบบดิฟเฟอเรนเชียล (DIC) ซึ่งรองรับโดยระบบออพติคัล สามารถเพิ่มคอนทราสต์ในคุณสมบัติของพื้นผิวหรือวัสดุที่เลือกได้ เทคนิคเหล่านี้ใช้การจัดเรียงแสงที่แตกต่างกันและไม่สามารถใช้แทนกันได้
ความเข้ากันได้ขึ้นอยู่กับตัวกล้องจุลทรรศน์ วัตถุประสงค์ ระบบการส่องสว่าง และอุปกรณ์เสริมที่จำเป็น ยืนยันการกำหนดค่าที่รองรับก่อนสั่งซื้อกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา Gaopin สำหรับโพลาไรเซชันหรือการสังเกต DIC
อาจมีแท่นวางแบบแมนนวลหรือแบบใช้มอเตอร์สำหรับการวางตำแหน่งตัวอย่าง ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับรุ่น การกำหนดค่าแบบสามตาด้วยอะแดปเตอร์กล้องที่ใช้ร่วมกันได้อาจรองรับการถ่ายภาพดิจิทัล เอาต์พุต HDMI หรือ USB ขึ้นอยู่กับกล้องและอินเทอร์เฟซการเชื่อมต่อ ไม่ใช่แค่ว่ากล้องจุลทรรศน์มีหัวแบบสามตาหรือไม่
สำหรับการใช้งานด้านการถ่ายภาพดิจิทัล ให้ยืนยันการยึดกล้อง ข้อมูลจำเพาะของเซนเซอร์ อินเทอร์เฟซเอาต์พุต ความเข้ากันได้ของซอฟต์แวร์ ฟังก์ชันการบันทึกภาพ และอุปกรณ์เสริมที่มีให้ พอร์ตกล้องเพียงอย่างเดียวไม่รับประกันการวัดหรือการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยาแบบอัตโนมัติ
ควรกำหนดวิธีการสังเกตที่จำเป็นก่อนเลือกกล้องจุลทรรศน์ โดยทั่วไปการกำหนดค่ากล้องสองตามีจุดประสงค์เพื่อการสังเกตโดยตรงผ่านเลนส์ใกล้ตา ระบบสามตาที่เข้ากันได้สามารถให้เส้นทางการถ่ายภาพเพิ่มเติมได้ แต่การวัดด้วยซอฟต์แวร์และการวิเคราะห์อัตโนมัติจำเป็นต้องมีฮาร์ดแวร์ ซอฟต์แวร์ การสอบเทียบ และวิธีการประเมินที่เหมาะสมที่เหมาะสม
| ข้อกำหนดในการตรวจสอบ | การกำหนดค่าเพื่อยืนยัน | ข้อพิจารณาที่สำคัญ |
|---|---|---|
| การสังเกตด้วยสายตาโดยตรง | หัวแสง เลนส์ใกล้ตา วัตถุประสงค์ และการส่องสว่างด้วยแสงสะท้อน | ผลลัพธ์ขึ้นอยู่กับการตั้งค่าการมองเห็น การเตรียมตัวอย่าง และการประเมินของผู้ปฏิบัติงาน |
| ภาพสดบนจอภาพ | กล้อง อะแดปเตอร์ และการจัดเรียงเอาต์พุต HDMI หรือ USB ที่เข้ากันได้ | ความสามารถในการส่งออกขึ้นอยู่กับกล้องที่เลือกและฮาร์ดแวร์ที่รองรับ |
| การวัดความยาว พื้นที่ หรือชั้น | กล้อง ซอฟต์แวร์การวัด ขนาดภาพที่ปรับเทียบ และขั้นตอนการวัดที่กำหนดไว้ | ความถูกต้องแม่นยำต้องได้รับการตรวจสอบความถูกต้องสำหรับช่วงและวิธีการวัดที่ต้องการ |
| การวิเคราะห์เกรนหรือการรวม | การได้มาของภาพที่เหมาะสม ซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ การเตรียมตัวอย่าง และวิธีการประเมินที่กำหนดไว้ | ผลลัพธ์อัตโนมัติอาจต้องมีการปรับเกณฑ์ การตรวจสอบโดยเจ้าหน้าที่ และการตรวจสอบความถูกต้องของวิธีการ |
| การสังเกตความแตกต่างพิเศษ | ส่วนประกอบสนามมืด โพลาไรซ์ หรือ DIC ที่เข้ากันได้ หากมี | ความเข้ากันได้ของอุปกรณ์เสริมและคุณลักษณะของตัวอย่างเป็นตัวกำหนดความเหมาะสม |
สำหรับทีมจัดซื้อ จะเป็นประโยชน์ในการพิจารณาว่าระบบมีไว้สำหรับการตรวจสอบด้วยสายตา เอกสารรูปภาพ การวัดขนาด หรือการประเมินทางโลหะวิทยาหรือไม่ ข้อกำหนดเหล่านี้ส่งผลต่อการกำหนดค่าออปติคัล กล้อง ซอฟต์แวร์ กระบวนการสอบเทียบ และการฝึกอบรมผู้ปฏิบัติงานที่จำเป็นสำหรับการตั้งค่าทั้งหมด
กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลแบบโลหการ สเตอริโอ และ HDMI ตอบสนองความต้องการในการสังเกตที่แตกต่างกัน ตัวเลือกที่เหมาะสมขึ้นอยู่กับรูปทรงของตัวอย่าง ระดับของรายละเอียดที่ต้องการ และขั้นตอนการตรวจสอบ แทนที่จะขึ้นอยู่กับขนาดกำลังขยายเดียว
| จุดเปรียบเทียบ | กล้องจุลทรรศน์โลหการ | กล้องจุลทรรศน์สเตอริโอ | กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอล HDMI |
|---|---|---|---|
| งานสังเกตทั่วไป | เตรียมตัวอย่างทึบแสงและโครงสร้างจุลภาคของวัสดุ | ชิ้นส่วนสามมิติ การประกอบ และการตรวจสอบพื้นผิว | การสังเกตโดยใช้จอภาพและเอกสารภาพ |
| วิธีการส่องสว่าง | มักจะเป็นแสงสะท้อน | การส่องสว่างตกกระทบโดยทั่วไป พร้อมตัวเลือกอื่นๆ ขึ้นอยู่กับรุ่น | ขึ้นอยู่กับการออกแบบแสงและแสงของกล้องจุลทรรศน์ดิจิตอล |
| การรับรู้เชิงลึก | เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสังเกตพื้นผิวหรือส่วนต่างๆ ของตัวอย่างที่เตรียมไว้โดยเฉพาะ | การรับรู้เชิงลึกสามมิติเป็นคุณสมบัติหลัก | มักจะแสดงภาพสองมิติบนจอแสดงผล |
| การถ่ายภาพดิจิตอล | ใช้งานได้เมื่อมีกล้องและอินเทอร์เฟซที่ใช้ร่วมกันได้ | มีในรุ่นที่ติดตั้งกล้องหรือรุ่นที่เข้ากันได้กับกล้อง | โดยทั่วไปแล้วได้รับการออกแบบสำหรับการแสดงภาพดิจิทัล ขึ้นอยู่กับรุ่น |
| ข้อกังวลในการเลือกคีย์ | ความละเอียดของแสง การเตรียมตัวอย่าง แสงสะท้อน และข้อกำหนดในการวิเคราะห์ | ระยะการทำงาน การรับรู้เชิงลึก ขอบเขตการมองเห็น และพื้นที่ในการจัดการ | ส่วนต่อประสานการแสดงผล การจับภาพ ระยะการทำงาน และรายละเอียดที่จำเป็น |
สำหรับโครงสร้างเกรน ส่วนโลหะขัดเงา หรือส่วนเคลือบ โดยทั่วไปกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา Gaopin จะเป็นจุดเริ่มต้นที่เกี่ยวข้องมากกว่า สำหรับการจัดการส่วนประกอบสามมิติขนาดเล็กระหว่างการประกอบหรือการตรวจสอบ กล้องจุลทรรศน์สเตอริโออาจมีความเหมาะสมมากกว่า กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอล HDMI อาจเหมาะกับขั้นตอนการทำงานที่จัดลำดับความสำคัญของเอาต์พุตการแสดงผลโดยตรงและเอกสารดิจิทัล การคัดเลือกขั้นสุดท้ายควรขึ้นอยู่กับตัวอย่างที่เป็นตัวแทนและผลการตรวจสอบที่จำเป็น
ประสิทธิภาพด้านการมองเห็นเพียงอย่างเดียวไม่สามารถชดเชยการเตรียมตัวอย่างที่ไม่เพียงพอได้ การตรวจสอบทางโลหะวิทยาอาจต้องมีการตัดส่วน การติดตั้ง การเจียร การขัด และการแกะสลัก ตามความเหมาะสม ขั้นตอนการเตรียมการขึ้นอยู่กับวัสดุและคุณสมบัติที่กำลังตรวจสอบ รอยขีดข่วน การดึงออก การปนเปื้อน การเสียรูป และการขัดเงาที่ไม่สม่ำเสมออาจส่งผลต่อการตีความภาพหรือทำให้เกิดการสังเกตที่ทำให้เข้าใจผิด
สำหรับการตรวจสอบคุณภาพตามปกติ ให้กำหนดวิธีการเตรียมตัวอย่าง การขยายการตรวจสอบ การตั้งค่าการส่องสว่าง เงื่อนไขในการจับภาพ และเกณฑ์การยอมรับ การวิเคราะห์เชิงปริมาณยังต้องมีมาตราส่วนการวัดและขั้นตอนการประเมินที่เหมาะสมอีกด้วย วิธีการที่สอดคล้องกันช่วยปรับปรุงความสามารถในการทำซ้ำระหว่างผู้ปฏิบัติงานและเซสชันการตรวจสอบ
เมื่อผลลัพธ์ต้องเป็นไปตามข้อกำหนดเฉพาะของลูกค้าหรือมาตรฐานวัสดุที่เป็นทางการ ควรระบุวิธีการประเมินที่เกี่ยวข้องก่อนการเลือกอุปกรณ์ การตั้งค่ากล้องจุลทรรศน์และการถ่ายภาพควรได้รับการประเมินความเหมาะสมสำหรับวิธีการนั้น
การผลิตกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาของ Gaopin ประกอบด้วยการประกอบส่วนประกอบเชิงแสง การปรับเส้นทางแสง การประกอบอิเล็กทรอนิกส์ การตัดเฉือนโครงสร้าง การติดตั้งเวที และการตรวจสอบชิ้นส่วนสำเร็จรูป ทรัพยากรการผลิต ได้แก่ โต๊ะปรับแสง อุปกรณ์ทดสอบแสง อุปกรณ์ประกอบอิเล็กทรอนิกส์ และอุปกรณ์การประมวลผล CNC สำหรับส่วนประกอบโครงสร้าง
ขั้นตอนการตรวจสอบควรตรงกับรุ่นที่ให้มา และอาจรวมถึงการตรวจสอบประสิทธิภาพการมองเห็น การตรวจสอบการจัดตำแหน่ง การทดสอบการทำงาน และการทดสอบอายุ หากมี ขอบเขตการตรวจสอบจริงขึ้นอยู่กับการกำหนดค่าผลิตภัณฑ์และข้อกำหนดในการผลิต
สำหรับการประเมินการจัดซื้อจัดจ้าง ผู้ซื้อสามารถขอข้อกำหนดทางเทคนิค บันทึกการตรวจสอบที่เกี่ยวข้อง ข้อมูลการสอบเทียบที่เกี่ยวข้อง และเอกสารประกอบสำหรับการรับรองที่จำเป็น วิธีทดสอบ เกณฑ์การยอมรับ และขอบเขตเอกสารควรได้รับการยืนยันก่อนส่งคำสั่งซื้อ ไม่ควรถือว่าการรับรองหรือการสอบเทียบเว้นแต่จะใช้ได้กับผลิตภัณฑ์เฉพาะและได้รับการสนับสนุนจากเอกสารประกอบ
เกาปิน อาจปรับแต่งตัวกล้องจุลทรรศน์ การจัดเวที ระบบไฟส่องสว่าง การติดตั้งกล้อง การสร้างแบรนด์ หรือบรรจุภัณฑ์ ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับรุ่นและข้อกำหนดทางวิศวกรรม การเปลี่ยนแปลงเส้นทางแสงหรือการส่องสว่างอาจส่งผลต่อความเข้ากันได้และประสิทธิภาพการถ่ายภาพ การปรับเปลี่ยนที่เสนอจึงควรได้รับการตรวจสอบโดยเทียบกับตัวอย่าง ระยะการทำงาน มุมมอง และวิธีการตรวจสอบที่ต้องการก่อนที่จะอนุมัติการผลิต
ภาพตัวอย่างที่เป็นตัวแทน ภาพถ่ายภาคตัดขวาง หรือเกณฑ์การตรวจสอบสามารถช่วยชี้แจงการประยุกต์ใช้ได้ ในกรณีที่ผลลัพธ์ต้องเป็นไปตามมาตรฐานวัสดุที่เป็นทางการหรือขั้นตอนการยอมรับของลูกค้า ให้จัดเตรียมวิธีการที่เกี่ยวข้องในระหว่างการตรวจสอบทางเทคนิค เพื่อให้สามารถประเมินความเหมาะสมของอุปกรณ์ก่อนทำการสั่งซื้อ
สำหรับโครงการที่ต้องการการปรับเปลี่ยนโครงสร้าง ระยะเวลาเตรียมตัวอย่างโดยประมาณคือ 7–12 วันทำการ โดยทั่วไปการผลิตจำนวนมากจะใช้เวลา 15-25 วันทำการหลังจากได้รับการอนุมัติตัวอย่าง ระยะเวลารอคอยสินค้าจริงขึ้นอยู่กับขอบเขตการปรับแต่ง ส่วนประกอบทางแสงและอิเล็กทรอนิกส์ ปริมาณการสั่งซื้อ และความพร้อมใช้งานของส่วนประกอบ ควรระบุกำหนดการที่ยืนยันไว้ในใบเสนอราคา
ต้นแบบสต็อกที่ไม่มีโลโก้อาจมีให้สำหรับการสั่งซื้อทดลองใช้งานเป็นชุดเล็กๆ โดยขึ้นอยู่กับรุ่นและความพร้อมในสต็อค ผู้ซื้อควรยืนยันต้นทุนตัวอย่าง การกำหนดค่า เวลาเตรียมการ การเตรียมการจัดส่ง และตรวจสอบว่าหน่วยทดลองแสดงถึงข้อกำหนดการผลิตที่ต้องการหรือไม่
ก่อนสั่งซื้อกับ Gaopin ให้ยืนยันหมายเลขรุ่น วัตถุประสงค์และการรวมกันของช่องมองภาพ ประเภทการส่องสว่าง การกำหนดค่าเวที ข้อกำหนดของกล้องและซอฟต์แวร์ อุปกรณ์เสริมที่มีให้ ขั้นตอนการอนุมัติตัวอย่าง บรรจุภัณฑ์ เงื่อนไขการชำระเงิน การจัดการจัดส่ง และวันที่จัดส่งที่คาดหวัง บันทึกการตรวจสอบ เอกสารการสอบเทียบ หรือใบรับรองที่จำเป็นใดๆ ควรได้รับการตกลงเป็นลายลักษณ์อักษร
กล้องจุลทรรศน์แบบสองตาที่ใช้สำหรับการสังเกตช่องมองภาพ ปกติแล้วจะไม่ส่งภาพไปยังจอภาพด้วยตัวมันเอง เอาต์พุตของจอภาพจำเป็นต้องมีกล้องที่เข้ากันได้และการจัดการเชื่อมต่อ กล้องสามตาบางรุ่นมีพอร์ตกล้อง แต่เอาต์พุต HDMI หรือ USB ขึ้นอยู่กับกล้องและฮาร์ดแวร์ที่รองรับ ยืนยันการกำหนดค่าการถ่ายภาพให้สมบูรณ์ก่อนสั่งซื้อ
ไม่ การสังเกตด้วยแสงโดยตรงไม่รวมถึงการวัดด้วยซอฟต์แวร์หรือการวิเคราะห์โลหะวิทยาอัตโนมัติโดยอัตโนมัติ ฟังก์ชันเหล่านี้อาจต้องใช้กล้องที่เข้ากันได้ ซอฟต์แวร์ที่เหมาะสม การสอบเทียบ และวิธีการวิเคราะห์ที่กำหนดไว้ ยืนยันฟังก์ชันที่จำเป็นและขั้นตอนการตรวจสอบความถูกต้องสำหรับรุ่นที่เลือก
การตั้งค่ากล้องจุลทรรศน์ที่เหมาะสมสามารถใช้เพื่อสังเกตหน้าตัดของการเคลือบที่เตรียมไว้อย่างเหมาะสม การวัดความหนาเชิงปริมาณต้องใช้ส่วนตัวอย่างที่เหมาะสม ขนาดภาพที่ปรับเทียบแล้ว และวิธีการวัดที่เหมาะสม กล้องจุลทรรศน์เพียงอย่างเดียวไม่รับประกันความแม่นยำในการวัดหรือทดแทนขั้นตอนการทดสอบมาตรฐานใดๆ ที่จำเป็น
ความพร้อมใช้งานขึ้นอยู่กับการกำหนดค่าของกล้องจุลทรรศน์ ส่วนประกอบสนามมืดและโพลาไรซ์อาจนำเสนอเป็นตัวเลือกที่เข้ากันได้ ในขณะที่ DIC ต้องการการจัดเรียงแสงที่เหมาะสม ยืนยันอุปกรณ์เสริมที่จำเป็น ความเข้ากันได้ และขอบเขตใบเสนอราคา แทนที่จะรวมฟังก์ชันเหล่านี้ไว้ด้วย
ตัวอย่างทั่วไปได้แก่ ส่วนโลหะที่เตรียมไว้ การเคลือบ วัสดุเซมิคอนดักเตอร์ที่เลือกสรร และตัวอย่างทึบแสงอื่นๆ ที่มีคุณสมบัติที่สามารถแก้ไขได้ด้วยการมองเห็น ข้อกำหนดในการเตรียมตัวอย่างและการส่องสว่างจะแตกต่างกันไปตามวัสดุและวัตถุประสงค์ในการตรวจสอบ วัตถุสามมิติที่มีความผิดปกติสูงอาจเหมาะกับกล้องจุลทรรศน์ประเภทอื่นหรือวิธีการตรวจสอบอื่นมากกว่า
ปฏิบัติตามขั้นตอนการทำความสะอาดที่แนะนำโดยผู้ผลิตกล้องจุลทรรศน์หรือวัตถุประสงค์ ขจัดฝุ่นที่เกาะอยู่ออกด้วยเครื่องมือทำความสะอาดเลนส์ที่เหมาะสม และใช้ทิชชู่เลนส์ที่เหมาะสมและน้ำยาทำความสะอาดที่ได้รับอนุมัติเมื่อจำเป็นเท่านั้น หลีกเลี่ยงกระดาษชำระ ผ้าธรรมดา วัสดุที่มีฤทธิ์กัดกร่อน และแรงกดมากเกินไป ห้ามใช้แอลกอฮอล์หรือตัวทำละลายอื่น เว้นแต่จะได้รับการยืนยันว่าเข้ากันได้กับการเคลือบเลนส์และโครงสร้างของเลนส์
กำหนดการบ่งชี้สำหรับการปรับเปลี่ยนโครงสร้างคือ 7-12 วันทำการสำหรับการเตรียมตัวอย่าง และ 15-25 วันทำการสำหรับการผลิตจำนวนมากหลังจากได้รับการอนุมัติตัวอย่าง กำหนดการจริงขึ้นอยู่กับข้อกำหนดในการปรับแต่ง ส่วนประกอบออปติกและอิเล็กทรอนิกส์ ปริมาณการสั่งซื้อ และความพร้อมใช้งานของส่วนประกอบ ยืนยันวันที่มุ่งมั่นในใบเสนอราคา
ยืนยันการกำหนดค่าออปติคัล ช่วงการขยาย ระยะการทำงาน การส่องสว่าง ข้อกำหนดของเวที อินเทอร์เฟซของกล้อง ฟังก์ชันซอฟต์แวร์ อุปกรณ์เสริมที่มีให้ ระยะเวลาดำเนินการ และขอบเขตเอกสารประกอบ สำหรับการวัดหรือการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา ให้ระบุวิธีการที่ต้องการและข้อกำหนดด้านความแม่นยำด้วย เพื่อให้สามารถตรวจสอบความเหมาะสมของระบบทั้งหมดได้
