GP-L700-462H เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระยะการทำงานระยะไกลแบบออโต้โฟกัส ก็มีอุปกรณ์ครบครันด้วย ระยะทางการทำงานที่ยาวนาน วัตถุประสงค์และโหมดการสังเกตสนามสว่าง พื้นที่ทำงานภายในเพิ่มเติมรองรับความแตกต่างของความสูง ตัวอย่าง การถ่ายภาพความละเอียดสูง 4K ให้โครงสร้างจุลภาคที่คมชัดและรายละเอียดข้อบกพร่องของพื้นผิว พอร์ตสามตา รองรับการอัพเกรดโมดูลกล้องและซอฟต์แวร์วิเคราะห์ภาพ ใช้กันอย่างแพร่หลายในสถาบันวิจัยของมหาวิทยาลัยและ ห้องปฏิบัติการควบคุมคุณภาพทางอุตสาหกรรมสำหรับการสังเกตการณ์ระดับจุลภาคและการประเมินคุณภาพของชิ้นงานที่เป็นโลหะและอโลหะ
กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระยะการทำงานระยะไกลแบบโฟกัสอัตโนมัตินี้เหมาะสำหรับการตรวจสอบส่วนประกอบที่มีความแม่นยำ วงจรรวม และวัสดุบรรจุภัณฑ์ ผลิตภัณฑ์
1. การขยาย:กำลังขยายสูงสี่ความเร็ว 380-3800X สำหรับโครงสร้างไมโครเกรนและชิป การสังเกต กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปให้กำลังขยายสูงสุดที่ต่ำกว่าและภาพกำลังสูงที่พร่ามัว และไม่สามารถสังเกตเม็ดโลหะที่ละเอียดเป็นพิเศษได้
2. ระบบภาพ:กล้อง Native 4K ultra-HD, การดูช่องมองภาพและจอภาพแบบซิงโครไนซ์ ธรรมดา กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาใช้กล้องเกรด 2K ความละเอียดต่ำและการดูช่องมองภาพเท่านั้น
3. การวัดและการจัดเก็บ:การวัดที่แม่นยำบนหน้าจอในตัวพร้อมการจับภาพวิดีโอ การเก็บหลักฐานการทดสอบ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปไม่มีการตรวจวัดในตัว และต้องใช้ซอฟต์แวร์ PC งานการวัดและการเก็บถาวรทั้งหมด
4. ช่วงการสมัคร:ปรับให้เหมาะสมเพื่อการตรวจสอบเวเฟอร์ ชิปเซมิคอนดักเตอร์ และโลหะอย่างแม่นยำ ธัญพืช กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปจำกัดอยู่เพียงการสังเกตชิ้นโลหะธรรมดาแต่มีประสิทธิภาพต่ำ ตัวอย่างเกรดชิปละเอียด
กล้อง 4K ที่มาพร้อมกับหัวกล้องสามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพ เอาต์พุตหลายพอร์ตผ่าน HDMI, USB3.0 และ WIFI ส่งภาพไมโคร HD แบบพิเศษแบบเรียลไทม์
เส้นทางแสงของเลนส์หลายชั้นที่แม่นยำพร้อมกำลังขยายสี่ขั้นตอน กำลังขยายดิจิตอลสูงสุดถึง 3800X, กำลังจับ โครงสร้างไมโครระดับไมครอนที่คมชัดของเวเฟอร์ ชิป และเม็ดคริสตัล
โมดูลโฟกัสอัตโนมัติฮาร์ดแวร์ในตัว โหมดโฟกัสแบบแมนนวลก็มีให้ใช้งานเช่นกัน ให้การโฟกัสที่เสถียรและปราศจากการสั่นสะเทือน และ ปรับปรุงประสิทธิภาพการตรวจสอบสำหรับการทดสอบตัวอย่างจำนวนมาก
ฐานโลหะสี่เหลี่ยมหนาพร้อมแขนรองรับที่มั่นคงช่วยลดจุดศูนย์ถ่วง หลีกเลี่ยงการขยับ/สั่นในระหว่าง เป็นเวลานาน การสังเกตกำลังสูงอย่างต่อเนื่อง
ตัวเครื่องโลหะสีดำและสีขาวที่แข็งแกร่งพร้อมโมดูลแหล่งกำเนิดแสงแบบแยกส่วนที่ถอดออกได้ สไตล์มินิมอลระดับมืออาชีพสำหรับห้องปฏิบัติการ และ การประชุมเชิงปฏิบัติการเซมิคอนดักเตอร์
ปรับให้เหมาะสมสำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์และชิป ยังใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, งานวิจัยวัสดุและงานควบคุมคุณภาพอุตสาหกรรม
การถ่ายภาพและวิดีโอ 4K, โหมดการวัดแบบคู่ (บนหน้าจอในตัว + ซอฟต์แวร์ PC) จัดเก็บข้อมูลแบบคู่ผ่าน U-disk & คอมพิวเตอร์ การสังเคราะห์ระยะชัดลึกทำงานทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี การเย็บภาพใช้ได้เฉพาะใน ซอฟต์แวร์พีซี การพัฒนารองรองรับการเก็บภาพ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์ขั้นสูง
กลศาสตร์:โครงสร้างโลหะทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งและต้านทานแรงสั่นสะเทือนสูง ยาวเป็นพิเศษ ระยะการทำงานสำหรับการสังเกตตัวอย่างสูง ติดตั้งโมดูลโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์ โหมดโฟกัสแบบแมนนวลด้วย ใช้ได้ การโฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดที่แม่นยำโดยไม่มีการสะท้อนกลับ แท่นกลไก XY แบบแมนนวลที่ทนทานต่อการสึกหรอ กล้องสามตา เส้นทางแสงจะรักษาการจัดตำแหน่งร่วมทางแสงเมื่อเปลี่ยนวัตถุประสงค์
เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแบบแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการเคลือบแข็งป้องกันหมอก ไฟสะท้อนแสงแบบหลอดฮาโลเจน 6V-30W
การถ่ายภาพและการวัด:กล้อง CMOS อุตสาหกรรม 8.3 ล้านพิกเซล 4K มัลติเอาท์พุต: HDMI + USB3.0 + WIFI, ประสิทธิภาพการป้องกันการแทรกแซงที่ดีสำหรับการใช้ในอุตสาหกรรมและสิ่งแวดล้อม รองรับการวัดแบบฝังบนหน้าจอและ การวัดซอฟต์แวร์พีซี ที่เก็บข้อมูลแบบสองเส้นทางผ่าน U-disk และซอฟต์แวร์พีซี การสังเคราะห์ระยะชัดลึกทำงานทั้งบนหน้าจอ และซอฟต์แวร์พีซี การเย็บภาพรองรับโดยซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น ส่วนต่อประสานการพัฒนารองมีให้ผ่านทาง USB3.0 / อินเตอร์เน็ตไร้สาย
สภาพแวดล้อมการทำงาน:อุณหภูมิในการทำงาน 10-35 ℃ ความชื้นสัมพัทธ์ 30-75% RH มีเสถียรภาพภายใต้ความสม่ำเสมอ โรงงานแม่เหล็กไฟฟ้า-สภาพแวดล้อม หลีกเลี่ยงการสั่นสะเทือนหนัก ก๊าซที่มีฤทธิ์กัดกร่อน และฝุ่นหนัก เก็บโมดูล WIFI ให้ห่างจาก แหล่งสัญญาณรบกวนที่แข็งแกร่ง
คุณภาพและการบำรุงรักษา:การตรวจสอบโรงงานแบบเต็มรายการ อย่าถอดแยกชิ้นส่วนโมดูลออปติคัลหรือ โมดูลโฟกัสอัตโนมัติ การทำความสะอาดป้องกันฝุ่นเป็นประจำจะช่วยยืดอายุการใช้งาน
เซมิคอนดักเตอร์และไมโครอิเล็กทรอนิกส์ (แอปพลิเคชันหลัก):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, หลอด MOS, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรีแบบบรรจุกล่อง
เป้าหมายการตรวจสอบ: รูปแบบพื้นผิวชิป-ไมโครวงจร, ข้อบกพร่องจากการกัดเวเฟอร์, รอยขีดข่วนเคลือบ,
ฟองบรรจุภัณฑ์ ข้อต่อการบัดกรีเย็น การเกิดออกซิเดชัน และการเสียรูปของพิน กำลังขยายสูงถึง 3800X สำหรับ
การสังเกตเศษชิปขนาดไมครอน
ตัวอย่างโลหะทางโลหะวิทยาและเครื่องมือตัดโลหะ:
ส่วนโลหะผสมโลหะ ชิ้นเหล็ก ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้าง-เม็ดโลหะ, การบำบัดความร้อน-การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, รอยแตกขนาดเล็กที่พื้นผิว,
การบิ่นล้ำสมัย ครีบ ร่องรอยการสึกหรอ และวัสดุภายใน-สิ่งเจือปน
ตัวอย่างการวิจัยในห้องปฏิบัติการ: คริสตัล ผง และฟิล์มบาง:
ผลึกเดี่ยว/โพลี ผงโลหะ ผงเคมี ฟิล์มเคลือบแสง วัสดุฟิล์มบางพิเศษ
สังเกตไมโครคริสตัลแลตทิซ สัณฐานวิทยาของอนุภาคละเอียดพิเศษ การแยกชั้นของฟิล์ม และพื้นผิวการเคลือบไมโคร
Optoelectronic Precision-ส่วนประกอบพลาสติก:
ชิป LED, เลนส์แก้วแสง, เซมิคอนดักเตอร์ - กาวบรรจุภัณฑ์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน รอยขีดข่วนระดับนาโน กาวหลุดร่อน ฟองอากาศ และความไม่เรียบของพื้นผิวเล็กน้อย
ส่วนประกอบที่มีความแม่นยำขนาดเล็ก:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานขนาดเล็กที่มีการประทับตราด้วยความแม่นยำ
การวัดที่แม่นยำระดับ 4K พิกเซลสำหรับช่องว่าง เส้นผ่านศูนย์กลางรู ระยะพิทช์ และความแตกต่างของความสูงของพื้นผิว DIC แสดงภาพ
การจีบที่ละเอียดอ่อน
ห้องทดลองของมหาวิทยาลัยและการควบคุมคุณภาพเซมิคอนดักเตอร์ระดับสูง:
การทดลองวิจัยวัสดุ การสอนการวิเคราะห์โลหะวิทยา การตรวจสอบการสุ่มตัวอย่างเวเฟอร์ขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูป
การเก็บถาวรภาพถ่าย-วิดีโอ ส่งออกรายงาน QC การวัดที่แม่นยำผ่านพีซี
มาพร้อมกับการถ่ายภาพแบบ Ultra-HD ความละเอียด 3840*2160 4K แบบเนทีฟ เหมาะสำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์-โลหะและ การวิเคราะห์วัสดุโลหะ แสดงพื้นผิวเกรน รอยขีดข่วนขนาดเล็ก และข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ อย่างชัดเจน
ฮาร์ดแวร์โฟกัสอัตโนมัติที่ติดตั้งไว้สำหรับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมากและการเปลี่ยนตัวอย่างบ่อยครั้ง โฟกัสอย่างรวดเร็วหลังจากนั้น การย้าย ชิ้นงานโดยไม่ต้องปรับด้วยมือซ้ำๆ เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพ โหมดแมนวลโฟกัสก็มีให้เช่นกัน การสังเกตตัวอย่างแบบคงที่
แหล่งกำเนิดแสงโคแอกเซียลแยกอิสระสำหรับชิ้นงานโลหะ เวเฟอร์ และ PCB แบบสะท้อนแสง แสงโคแอกเซียลแนวตั้ง ระงับแสงสะท้อนจากโลหะและคืนพื้นผิวโลหะที่แท้จริง สามารถเลือกสเตจ XY ที่ขับเคลื่อนด้วยมอเตอร์ได้ เป็น การอัพเกรดเพิ่มเติม
ช่วงการขยายแบบคู่: กำลังขยายแบบออปติคอล 50-500X, กำลังขยายแบบดิจิตอล 380-3800X ครอบคลุมทั้งชิ้นงานเต็ม ภาพรวมและการตรวจสอบไมโครเกรน / ข้อบกพร่องระดับไมโคร
รองรับการวัดในตัวอุปกรณ์และการวัดซอฟต์แวร์พีซี พร้อมกับเอาต์พุต HDMI, USB3.0 และ WIFI พอร์ต ภาพถ่าย วิดีโอ และข้อมูลการวัดสามารถบันทึกผ่านดิสก์ U หรือคอมพิวเตอร์ที่รองรับ รองรับการพัฒนารอง สำหรับ การบูรณาการสายการผลิตและการตรวจสอบย้อนกลับข้อมูลในห้องปฏิบัติการ
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
| รายการ | คำอธิบาย |
| รุ่นสินค้า | GP-L700-462H กล้องจุลทรรศน์โฟกัสอัตโนมัติแบบโลหการแบบทำงานระยะไกล |
| หมวดหมู่สินค้า | กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแนวตั้งเกรดวิจัยกำลังขยายสูง |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลการรับชมแบบซิงโครนัสแบบ Trinocular, โมดูลแหล่งกำเนิดแสงแนวตั้งแบบโคแอกเชียลแบบแยกส่วน, ความละเอียดสูง ชุดเลนส์ใกล้วัตถุโลหะ, เซ็นเซอร์ภาพ CMOS 4K ultra-HD, ระบบโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์, สามช่อง การส่งผ่าน (HDMI+USB3.0+WIFI), ระบบการวัดแบบคู่, การสังเคราะห์ระยะชัดลึกและการเย็บภาพ อัลกอริธึม สถาปัตยกรรมเปิดที่สนับสนุนการบูรณาการการพัฒนาขั้นทุติยภูมิ |
| ข้อมูลจำเพาะที่สำคัญ | กำลังขยายด้วยแสง: 50/100/200/500 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 380/760/1520/3800 ×; สามเอาท์พุท พอร์ต: HDMI + USB3.0 + อินเตอร์เน็ตไร้สาย; ความละเอียดในการจับภาพ 4K: 3840×2160; ติดตั้งฮาร์ดแวร์ออโต้โฟกัส (แมนนวลโฟกัสด้วย ใช้ได้); โหมดการวัดแบบคู่: การวัดที่แม่นยำในตัว + การวัดซอฟต์แวร์พีซีที่ตรงกัน โหมดการจัดเก็บข้อมูลแบบ Dual: ที่เก็บข้อมูล U-disk + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์คอมพิวเตอร์ เทอร์มินัลมอนิเตอร์รองรับมิติ การวัด, การแสดงตัวอย่างภาพ HD, การบันทึกวิดีโอ, การสังเคราะห์ระยะชัดลึก; รองรับเทอร์มินัลพีซี การวัดขนาด การจัดเก็บไฟล์ การสังเคราะห์ระยะชัดลึก และการเย็บภาพ รองรับทั้งยูนิต การบูรณาการขั้นทุติยภูมิ |
| สถานการณ์การใช้งานทั่วไป | การสังเกตเวเฟอร์-ชิป-เกรน, การตรวจสอบข้อบกพร่องขนาดเล็กของบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์, วัสดุโลหะ การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, การตรวจจับข้อบกพร่องขนาดเล็กของวงจรที่มีความแม่นยำ, การวิเคราะห์ความล้มเหลวของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ ขั้นสูงวัสดุห้องปฏิบัติการวิจัย |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งโรงงาน | เมืองคุนซาน มณฑลเจียงซู ประเทศจีน (ติดกับเซี่ยงไฮ้) |
| แบบอย่าง | GP-L700-462H |
| ปณิธาน | 3840×2160 |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพจริง | 8,300,000 พิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | ออโต้โฟกัส |
| รูปแบบแสง | 1/1.8" |
| ขนาดพิกเซล | 2.0 ไมโครเมตร × 2.0 ไมโครเมตร |
| วิธีการส่งออก | HDMI + USB3.0 + อินเตอร์เน็ตไร้สาย |
| การแนะนำการทำงานโดยละเอียดที่สอดคล้องกับแต่ละอินเทอร์เฟซเอาต์พุต | 1 HDMI เชื่อมต่อกับจอแสดงผลที่รองรับ 4K รองรับเฟิร์มแวร์ประมวลผลภาพระดับมืออาชีพแบบฝัง
ออโต้โฟกัสที่ขับเคลื่อนด้วยฮาร์ดแวร์, การบันทึกภาพ, การบันทึกวิดีโอ, การวัดขนาด, การเล่นภาพ
และ
การเปรียบเทียบภาพซึ่งควบคุมโดยเมาส์แบบเรียลไทม์ 2. USB 3.0 เชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์พร้อมอุปกรณ์ ซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพระดับมืออาชีพคุณภาพสูงสำหรับการถ่ายภาพ การวัดขนาด ฟิวชั่นระยะชัดลึกและการเย็บภาพ 3 โมดูล WIFI เชื่อมต่อกับแล็ปท็อปหรืออุปกรณ์เคลื่อนที่ การส่งภาพแบบเรียลไทม์ การถ่ายภาพ และการจัดเก็บผ่านซอฟต์แวร์ที่ตรงกัน |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @ 1920×1080 อินเตอร์เน็ตไร้สาย: 30fps @3840×2160; 60เฟรมต่อวินาที @1920×1080 |
| การสังเคราะห์ระยะชัดลึก | รองรับทั้งเฟิร์มแวร์บนหน้าจอ HDMI และซอฟต์แวร์พีซี |
| การต่อภาพ | รองรับเฉพาะด้านซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น |
| วิธีการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว + การวัดซอฟต์แวร์ PC |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.002-0.005 มม |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (หน่วยสลับได้ 4 หน่วย) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม เรเดียน วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ เพิ่ม การตรวจจับขอบอัตโนมัติ สเกลบาร์ และอื่นๆ |
| วิธีการเก็บรักษา | ที่เก็บข้อมูล U-disk + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ สูงสุด โปรเซสเซอร์ควบคุมหลัก 1.4 GHz |
| ระบบปฏิบัติการ | เฟิร์มแวร์การวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| การตั้งชื่อรูปภาพ | มีการตั้งชื่ออัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| กำลังดูหัว | หัวกล้องสามตาแบบบานพับเอียง 30°; ช่วงการปรับระหว่างรูม่านตา: 53-75 มม |
| โหมดการสังเกต | สนามสว่าง / การส่องสว่างแบบเฉียง / โพลาไรเซชันแบบง่าย |
| ระบบส่องสว่าง | ระบบไฟส่องสว่างตก, อินพุตแรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240V, ศูนย์กลางไส้หลอดแบบปรับได้, ความเข้มของแสงที่ปรับได้อย่างต่อเนื่อง |
| ยืน | 1 ชั้นวางประเภทการถ่ายภาพ กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเชียลหยาบละเอียดพร้อมอุปกรณ์ล็อคและจำกัด
ค่าการสำเร็จการศึกษาแบบละเอียด: 2 μm ไฟส่องสว่างแบบสะท้อนแสงแบบหลอดฮาโลเจน ② สนามสว่าง ตัวสะท้อนแสงพร้อมการหยุดรูรับแสงแบบปรับได้ การหยุดสนาม และชุดสลับฟิลเตอร์สี 3 สีเหลือง, สีฟ้า, ฟิลเตอร์สีเขียวและแผ่นกระจกฝ้าสำหรับเส้นทางแสงสะท้อน |
| เวทีเครื่องกล | ขนาดฐาน: 300 มม. × 240 มม. ขนาดเวที: 185 มม. × 140 มม. ระยะเคลื่อนที่ X-Y: 35 มม. × 30 มม. เหมาะสม สำหรับ ชิ้นงานที่มีความสูงค่อนข้างสูง |
| แหล่งกำเนิดแสง | หลอดฮาโลเจนขนาด 6V 30W (เฉพาะแสงสะท้อน) |
| ฟังก์ชันโพลาไรเซชันอย่างง่าย | ติดตั้งโพลาไรเซอร์และเครื่องวิเคราะห์แบบ Push-pull แล้ว |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซกล้อง 1X C-mount, โฟกัสที่ไม่สามารถปรับได้; CTV 0.5X เป็นอุปกรณ์เสริมที่มีส่วนต่างราคา ค่าชดเชย |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตามุมกว้าง WF10X/22 มม. จำนวน 2 ชิ้นพร้อมการปรับแก้สายตาแยกกัน |
| จมูก | ★จมูกห้าหลุม Mingchang |
| วัตถุประสงค์ทางโลหการ | ★วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบไม่มีที่สิ้นสุด 1 PL L5X/0.12 ระยะการทำงาน: 26.1 มม ×1ชิ้น 2 PL L10X/0.25 ระยะการทำงาน: 20.2 มม. × 1 ชิ้น 3 PL L20X/0.40 ระยะการทำงาน: 8.80 มม ×1ชิ้น ④ PL L50X/0.70, ระยะการทำงาน: 3.68 มม. ×1 ชิ้น ⑤ PL L100X/0.85, ระยะการทำงาน: 0.40 มม (ไม่จำเป็น ไม่รวมอยู่ในแพ็คเกจมาตรฐาน) |
| การขยายด้วยแสง | 50X, 100X, 200X, 500X (สลับได้สี่ระดับ) |
| การขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 380X, 760X, 1520X, 3800X (สลับได้สี่ระดับ); ช่วงการขยายเสริม: 190-1900X. |
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – การตรวจสอบมิติด้วยกล้องจุลทรรศน์สำหรับระบบอัตโนมัติ ชิ้นส่วนเครื่องจักรที่มีความแม่นยำ
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องขนาดเล็กสำหรับเครื่องจักรที่มีความแม่นยำ ชิ้นส่วน
มหาวิทยาลัยพาณิชยศาสตร์เทียนจิน – การสอนห้องปฏิบัติการวัสดุ การสร้างภาพขนาดเล็ก และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง
มหาวิทยาลัย Fudan - วัสดุไมโครนาโนและการวิจัยด้วยการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ชีวการแพทย์
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – การวิเคราะห์ระดับจุลภาคของเซรามิกอนินทรีย์และวัสดุพลังงานใหม่
DOOV – การตรวจสอบอุปกรณ์มือถือ-การประกอบ หน้าจอและการทดสอบรูปลักษณ์ส่วนประกอบ
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 ทีมผู้ก่อตั้งของเราสะสมความมั่งคั่ง ประสบการณ์ด้านการตรวจสอบด้วยแสง-เครื่องมือ-อุตสาหกรรม เริ่มตั้งแต่ปี พ.ศ. 2548 เราให้บริการครบวงจรครอบคลุม การออกแบบออปติคอล การวิจัยและพัฒนาอิสระ การขายทั่วโลก และบริการหลังการขายและการบำรุงรักษาแบบครบวงจร ของเรา กลุ่มวิศวกรรมที่มีทักษะสูงมีประสบการณ์ด้านการพัฒนาเครื่องมือออปติคอลมากกว่าสิบปี ส่งมอบ เทคโนโลยีที่ได้รับการพิสูจน์แล้วมีความเสถียรและคุณภาพของผลิตภัณฑ์ที่เชื่อถือได้
GAOPIN รักษากลุ่มผลิตภัณฑ์ออปติคอลที่หลากหลายด้วยเครื่องมือที่มุ่งเน้นการตรวจสอบมากกว่าหนึ่งร้อยรายการ ให้บริการลูกค้าอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการทั่วโลก เราพัฒนาการปรับแต่งที่ยืดหยุ่นและคุ้มค่า สารละลายด้วยกล้องจุลทรรศน์ เพื่อให้ตรงกับเป้าหมายการทดสอบทางอุตสาหกรรมที่หลากหลาย
มีการให้ความช่วยเหลือทางเทคนิคทั่วโลกอย่างรวดเร็วสำหรับพันธมิตรในต่างประเทศ รวมถึงการสนทนาออนไลน์เสมือนจริง ในทางปฏิบัติ- วิดีโอแนะนำและการฝึกอบรมผู้ปฏิบัติงานระยะไกลแบบสด สถานที่ผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู จังหวัด (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้). ยินดีต้อนรับการเยี่ยมชมโรงงานในสถานที่และทัวร์เสมือนจริงออนไลน์อย่างอบอุ่น กรุณาติดต่อกับเรา ทีมขาย สำหรับภาพถ่ายทดสอบตัวอย่างจริงที่ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์โฟกัสอัตโนมัติทางโลหการระยะไกลการทำงานนี้เพื่อ ประเมินผล ความสามารถในการถ่ายภาพจริง
A1: มาพร้อมกับอินเทอร์เฟซ HDMI, USB3.0 และ WIFI รองรับการใช้งานจอภาพแบบสแตนด์อโลนหรือพีซีแบบมีสาย / ไร้สาย การทำงานร่วมกัน-การตรวจจับ
A2: รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ 4K ultra-HD ไฟล์สามารถบันทึกลงใน U-disk ในรูปแบบ FAT32 ได้ภายใน 32 GB ความจุ หรือที่เก็บข้อมูลคอมพิวเตอร์ รองรับการวัดที่แม่นยำทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซีรวมถึงการทำเครื่องหมายมิติ ฟังก์ชันการเก็บข้อมูลและการส่งออกรายงาน
A3: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟและอะแดปเตอร์ที่ตรงกัน ยึดสาย HDMI ให้แน่นแล้วสลับจอภาพเพื่อแก้ไขแหล่งสัญญาณ รีสตาร์ท อุปกรณ์เพื่อแก้ไขปัญหาหน้าจอดำ ไม่มีภาพ และหน้าจอกะพริบ
A4: รุ่นนี้รองรับฮาร์ดแวร์โฟกัสอัตโนมัติและโหมดคู่โฟกัสแบบแมนนวล เปิดใช้งานการโฟกัสอัตโนมัติเพื่อการถ่ายภาพที่รวดเร็วหรือการปรับแต่งแบบละเอียด ด้วยตนเอง ล็อคเลนส์ใกล้วัตถุให้แน่น วางตัวอย่างให้เรียบ และทำความสะอาดฝุ่นและรอยนิ้วมือของเลนส์เป็นประจำเพื่อความคม การถ่ายภาพ
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
