กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา 4K Ultra HD สำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์

GP-L600-324K กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา 4K Ultra HD สำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาการตรวจสอบเวเฟอร์ระดับการวิจัยพร้อม 4K Ultra HD มันใช้ ระบบออพติคอลที่แก้ไขแบบอินฟินิตี้ พร้อมโมดูลเสริม Nomarski DIC สำหรับการตรวจจับความสูงของพื้นผิวระดับนาโน รูปแบบต่างๆ เครื่องมือนี้รองรับการสังเกตการณ์ในสนามสว่างและแสงโพลาไรซ์ พอร์ตสามตาอำนวยความสะดวก การติดตั้งกล้องและการเชื่อมต่อกับซอฟต์แวร์วิเคราะห์โลหะ เหมาะสำหรับขั้นตอนการทำงานได้แก่ การวิจัยทางโลหะวิทยา การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ และการวิเคราะห์ความล้มเหลวของวัสดุ

ขอบเขตการใช้งาน

กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา 4K Ultra HD สำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์นี้เหมาะสำหรับการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ของโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาและสัณฐานวิทยาของพื้นผิว มัน ทำหน้าที่เป็นเครื่องมือวิจัยในอุดมคติสำหรับสาขาวิชาโลหะวิทยา แร่วิทยา และวิศวกรรมความแม่นยำ

ภาพรวมเอนทิตีผลิตภัณฑ์

ข้อดีการออกแบบที่เป็นเอกลักษณ์

1. การสร้างภาพ CCD แบบซิงโครนัส 4K ในตัว

กล้อง 4K ที่ติดตั้งอยู่ภายในกล่องเลนส์สามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพ เอาต์พุตสองพอร์ตผ่าน HDMI และ Gigabit-LAN จะส่งภาพไมโครภาพระดับ Ultra-HD แบบเรียลไทม์

2. ระบบออปติคอลความละเอียดสูงแบบหลายโหมด

รองรับการสังเกต DIC, สนามสว่าง, สนามมืด และแสงโพลาไรซ์ กำลังขยาย 4 ขั้นตอน, ออปติคัล 50-500X, สูงสุด ดิจิตอล กำลังขยายสูงสุดถึง 1900X ให้รายละเอียดที่คมชัดสำหรับการตรวจสอบคุณสมบัติระดับจุลภาค

3. กลไกโฟกัสแบบแมนนวลที่แม่นยำและราบรื่น

ปุ่มหมุนโฟกัสแบบโคแอกเชียลคู่ที่จับคู่กับชุดประกอบกระบอกเลนส์เสริมแรง ช่วยให้สามารถโฟกัสได้อย่างมั่นคงและลดขนาดภาพ สั่น

4. กรอบและฐานโลหะที่มีความเสถียรสำหรับงานหนัก

ขาตั้งโลหะหนาในตัวและฉากยึดเวทีช่วยลดจุดศูนย์ถ่วง ทำให้กล้องจุลทรรศน์มีความเสถียรในระหว่างนั้น การตรวจสอบเกรดการวิจัยที่ใช้เวลานาน

5. กรอบมืออาชีพสีขาวล้วนที่เน้นการวิจัย

รูปแบบออพติคอลแบบแยกส่วนพร้อมตัวเครื่องเป็นโลหะแข็ง เหมาะสำหรับห้องปฏิบัติการ สถาบันวิจัย และเซมิคอนดักเตอร์ สิ่งอำนวยความสะดวกการผลิต

6. การวิจัยและการประยุกต์ใช้ในอุตสาหกรรมที่หลากหลาย

ปรับให้เหมาะสมสำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์และชิป ยังใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, งานวิจัยวัสดุและงานประเมินคุณภาพความแม่นยำ

7. การสังเกต การวัด และการจัดเก็บแบบดิจิทัลแบบครบวงจร

การถ่ายภาพและวิดีโอ 4K, โหมดการวัดแบบคู่ (บนหน้าจอในตัว + ซอฟต์แวร์ PC) จัดเก็บข้อมูลแบบคู่ผ่าน U-disk & คอมพิวเตอร์ ฟังก์ชันการสังเคราะห์ระยะชัดลึกและการเย็บภาพทำงานเฉพาะบนซอฟต์แวร์พีซีที่รองรับเท่านั้น มัธยมศึกษาตอนปลายคือ รองรับผ่านพอร์ต LAN สำหรับการเก็บภาพ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์ขั้นสูง

ความแตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไป

1. โหมดการสังเกตด้วยแสง:รองรับเลนส์หลายโหมดรวมถึง DIC, สนามสว่าง, สนามมืด และแสงโพลาไรซ์สำหรับการสังเกตคริสตัลและพื้นผิวการเคลือบ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาธรรมดามีให้เท่านั้น สนามสว่างขั้นพื้นฐานและไม่สามารถมองเห็นชั้นบางเฉียบและโครงสร้างไมโครคริสตัลได้

2. ระบบภาพ:กล้อง Native 4K ultra-HD, การดูช่องมองภาพและจอภาพแบบซิงโครไนซ์ ธรรมดา กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาใช้กล้อง 2K ความละเอียดต่ำ รับชมเฉพาะช่องมองภาพที่มีกำลังขยายสูงบิดเบี้ยว เอาท์พุท

3. การปรับกำลังขยาย:กำลังขยายสี่เกียร์ตั้งแต่ 190-1900X ครอบคลุมภาพรวมมาโคร และการตรวจสอบรายละเอียดปลีกย่อย กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปมีเกียร์ขยายน้อยกว่าและภาพไม่ชัดที่ กำลังสูง

4. การวัดและการบันทึก:การวัดที่แม่นยำบนหน้าจอในตัวพร้อมการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ ความสามารถ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปไม่มีการตรวจวัดในตัว และต้องใช้ซอฟต์แวร์พีซีสำหรับการวิเคราะห์ทั้งหมด และการเก็บถาวร

งานตรวจสอบที่เหมาะสมสำหรับกำลังขยาย 190-1900X

เซมิคอนดักเตอร์และไมโครอิเล็กทรอนิกส์ (แอปพลิเคชัน Core DIC):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรี, ส่วนประกอบบรรจุภัณฑ์
เป้าหมายการตรวจสอบ: ภูมิประเทศของพื้นผิวชิป, รูปแบบการกัดเวเฟอร์, รอยขีดข่วนนาโน, ข้อต่อบัดกรีเย็น, ออกซิเดชันและการเปลี่ยนรูปของพิน ดิฟเฟอเรนเชียล-อินเทอร์เฟส-คอนทราสต์ (DIC) เน้นความแตกต่างเล็กน้อยของพื้นผิว-ความสูง-ความแตกต่าง สำหรับการสังเกตชิ้นส่วนไมโครวงจรภายในช่วงกำลังขยาย 190-1900×

ตัวอย่างโลหะทางโลหะวิทยา:
ส่วนโลหะผสม เหล็กกล้า ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้างเม็ดโลหะ, การวิเคราะห์การรักษาความร้อน, รอยแตกที่พื้นผิวขนาดเล็ก, การบิ่นที่ขอบ, เสี้ยนละเอียด, ร่องรอยการสึกหรอและสิ่งสกปรกภายในวัสดุ โหมด Bright-field / Dark-field / Polarized-light สำหรับคริสตัลโลหะ การสังเกตโครงสร้าง

ตัวอย่างในห้องปฏิบัติการ: คริสตัล ผง ไฟเบอร์ และฟิล์มบาง:
ผลึกเคมี ผงโลหะ คาร์บอนไฟเบอร์ ฟิล์มเคลือบแสง
สังเกตสัณฐานวิทยาของคริสตัล โครงร่างของอนุภาค การแยกชั้นของฟิล์ม และพื้นผิวการเคลือบระดับไมโคร แสงโพลาไรซ์ ระบุลักษณะเฉพาะของคริสตัลโพลาไรเซชัน

ออปโตอิเล็กทรอนิกส์และส่วนประกอบพลาสติกที่มีความแม่นยำ:
ชิป LED, เลนส์สายตา, พื้นผิวแก้ว, กาวสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน รอยขีดข่วนระดับนาโน กาวหลุดร่อน ฟองอากาศ คราบสกปรก และความไม่เรียบของพื้นผิวเล็กน้อย

ส่วนประกอบจิ๋วที่มีความแม่นยำสูง:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับตราขนาดเล็ก
การวัดที่แม่นยำระดับ 4K พิกเซลสำหรับช่องว่าง เส้นผ่านศูนย์กลางรู ระยะพิทช์ และความแตกต่างของความสูงของพื้นผิว DIC แสดงภาพ การจีบที่ละเอียดอ่อน

ห้องทดลองของมหาวิทยาลัยและการควบคุมคุณภาพเซมิคอนดักเตอร์ระดับสูง:
การทดลองวิจัยวัสดุ การตรวจสอบสินค้าขาเข้าแผ่นเวเฟอร์ การสังเกตตัวอย่างโลหะวิทยา รูปภาพ-วิดีโอ การเก็บถาวร ส่งออกรายงาน QC การวัดที่แม่นยำผ่านพีซีที่เชื่อมต่อ

หลักฐานและความน่าเชื่อถือถึงสถานที่ (การทดสอบจากมือแรก)

กลศาสตร์:โครงสร้างโลหะทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งและต้านทานแรงสั่นสะเทือนสูง ความแม่นยำ โฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดโดยไม่มีฟันเฟือง แท่นกลไก XY แบบแมนนวลที่มีความแม่นยำสูง มีการสึกหรอต่ำและน้อยที่สุด การกวาดล้าง เส้นทางแสงแบบ Trinocular ช่วยรักษาการจัดตำแหน่งร่วมทางแสงเมื่อเปลี่ยนวัตถุประสงค์

เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแบบแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการเคลือบแข็งป้องกันหมอก แสงสะท้อนจากหลอดฮาโลเจน 12V-100W แบบสะท้อนแสง

การถ่ายภาพและการวัด:กล้อง CMOS อุตสาหกรรม 8.3 ล้านพิกเซล 4K เอาต์พุตคู่: HDMI + Gigabit-LAN พอร์ตประสิทธิภาพการป้องกันการแทรกแซงที่ดีสำหรับการใช้ในอุตสาหกรรมและสิ่งแวดล้อม รองรับการวัดแบบฝังบนจอภาพ และการวัดซอฟต์แวร์พีซี ที่เก็บข้อมูลแบบสองเส้นทางผ่าน U-disk และซอฟต์แวร์พีซี การสังเคราะห์ระยะชัดลึกและ การเย็บภาพมีเฉพาะในซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น อินเทอร์เฟซการพัฒนารองพร้อมใช้งานผ่าน Gigabit-LAN

วิธีเลือกรุ่นนี้

เลือกความละเอียดตามความต้องการด้านความชัดเจน

มาพร้อมกับการถ่ายภาพ 4K แบบเนทีฟ 3840*2160 เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา การตรวจสอบวงจรชิป และ การสร้างรายงานผลการทดสอบระดับมืออาชีพ เผยให้เห็นเม็ดโลหะ รอยขีดข่วนขนาดเล็ก และข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ ได้อย่างชัดเจน

เลือกโหมดโฟกัสตามความถี่ในการทำงาน

การออกแบบโฟกัสด้วยตนเอง เหมาะสำหรับตัวอย่างในห้องปฏิบัติการที่อยู่นิ่งและการเปลี่ยนชิ้นงานความถี่ต่ำ มีเสถียรภาพ การปรับแต่งอย่างละเอียด ปุ่มหมุนเพื่อการสังเกตตัวอย่างคงที่ที่แม่นยำในระยะยาว

เลือกแพลตฟอร์มและเส้นทางแสงตามตัวอย่างทดสอบ

ระยะการเคลื่อนย้ายแบบแมนนวลมาตรฐานและเส้นทางแสงโลหะวิทยาแบบสามตาในแนวตั้งสำหรับชิ้นชิปขนาดเล็กถึงขนาดกลาง PCB และชิ้นงานโลหะ ช่วยลดแสงจ้าสะท้อนแสงเพื่อการตรวจสอบทางโลหะวิทยาได้อย่างมีประสิทธิภาพ

เลือกกำลังขยายตามขนาดตัวอย่าง

ช่วงการขยายแบบคู่: กำลังขยายแบบออปติคอล 50-500X, กำลังขยายแบบดิจิตอล 190-1900X ครอบคลุมทั้งชิ้นงานเต็ม ภาพรวมและการตรวจสอบไมโครเกรน / ข้อบกพร่องระดับไมโคร

เลือกฟังก์ชันการวัด ถ่ายภาพ และจัดเก็บตามความต้องการของงาน

รองรับการวัดในตัวอุปกรณ์และการวัดซอฟต์แวร์พีซี มาพร้อมพอร์ต HDMI + Gigabit-LAN ภาพถ่าย, วิดีโอและข้อมูลการวัดสามารถบันทึกได้ผ่านดิสก์ U หรือคอมพิวเตอร์ที่รองรับ รองรับการพัฒนารองสำหรับ การบูรณาการสายการผลิตและการตรวจสอบย้อนกลับข้อมูลในห้องปฏิบัติการ

ตัวเลือกการปรับแต่ง

มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ

ข้อมูลจำเพาะทางเทคนิค

พันธมิตรและลูกค้าที่เชื่อถือได้

กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:

มหาวิทยาลัยพาณิชยศาสตร์เทียนจิน – การสอนห้องปฏิบัติการวัสดุ การสร้างภาพขนาดเล็ก และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง

Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องขนาดเล็กสำหรับเครื่องจักรที่มีความแม่นยำ ชิ้นส่วน

AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – ตัวเชื่อมต่อที่แม่นยำและการตรวจสอบส่วนประกอบ

Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – การวิจัยเชิงแสงขั้นสูง & การระบุลักษณะเฉพาะของส่วนประกอบทางแสง

มหาวิทยาลัย Xi'an Jiaotong – การสังเกตการทดลองเชิงวิทยาศาสตร์วัสดุขั้นสูงและทัศนศาสตร์ที่แม่นยำ

Shanghai Institute of Ceramics, CAS – การวิเคราะห์ระดับจุลภาคของเซรามิกอนินทรีย์และวัสดุพลังงานใหม่

เกี่ยวกับ GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 ทีมผู้ก่อตั้งของเราสะสม หยั่งรากลึก ความเชี่ยวชาญด้านการตรวจสอบด้วยแสงและเครื่องมือวัดตั้งแต่ปี 2548 เราเป็นองค์กรที่มุ่งเน้นเทคโนโลยี การส่งมอบ บริการครบวงจรครอบคลุมถึงการออกแบบ การวิจัยและพัฒนา การขายทั่วโลก และการสนับสนุนหลังการขายสำหรับกล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม ของเรา แกนกลาง ทีมวิศวกรมีประสบการณ์ด้านการพัฒนาเครื่องมือออปติคัลเฉพาะทางมากกว่าสิบปีเพื่อให้มั่นใจ เทคโนโลยีที่ได้รับการพิสูจน์แล้วมีความเสถียรและคุณภาพที่เชื่อถือได้สม่ำเสมอ

GAOPIN มีแคตตาล็อกผลิตภัณฑ์ที่ครอบคลุมพร้อมด้วยโมเดลเครื่องมือออปติคอลมากกว่าหนึ่งร้อยรุ่นทั่วโลก ลูกค้า เราพัฒนาโซลูชันกล้องจุลทรรศน์แบบกำหนดเองที่ยืดหยุ่นและคุ้มค่าสำหรับการตรวจสอบทางอุตสาหกรรมที่หลากหลายและ ข้อกำหนดการวิจัยในห้องปฏิบัติการ

การสนับสนุนทางเทคนิคระดับโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็วมีให้สำหรับลูกค้าในต่างประเทศ รวมถึงการประชุมออนไลน์ วิดีโอแนะนำทีละขั้นตอนและเซสชันการฝึกอบรมทางไกล ฐานการผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู จังหวัด (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้). ยินดีเยี่ยมชมโรงงานและทัวร์เสมือนจริงออนไลน์ กรุณาติดต่อทีมขายของเราสำหรับ ภาพทดสอบตัวอย่างของแท้ที่ถ่ายโดยกล้องจุลทรรศน์โลหการตรวจสอบเวเฟอร์พร้อมความละเอียด 4K Ultra HD ประเมินผล ประสิทธิภาพการถ่ายภาพในโลกแห่งความเป็นจริง

คำถามที่พบบ่อย

คำถามที่ 1: อุปกรณ์รองรับอินเทอร์เฟซเอาต์พุตใดบ้าง เชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์ได้ไหม?

A1: ติดตั้งอินเทอร์เฟซคู่ของเอาต์พุต HDMI ความละเอียดสูงและพอร์ต LAN รองรับการถ่ายภาพแบบเรียลไทม์ด้วย เชื่อมต่อกับจอภาพโดยตรง และเชื่อมต่อคอมพิวเตอร์ผ่านสายเคเบิลเครือข่าย หากไม่มีอินเทอร์เฟซ USB และ WIFI ก็สามารถทำได้ รองรับทั้งการทำงานอิสระและการทำงานร่วมกันทางคอมพิวเตอร์

คำถามที่ 2: ฟังก์ชั่นการถ่ายภาพ การจัดเก็บ และการวัดมีอะไรบ้าง

A2: รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ 4K ultra-HD ไฟล์สามารถบันทึกลงใน U-disk ในรูปแบบ FAT32 ได้ภายใน 32 GB ความจุหรือที่เก็บข้อมูลคอมพิวเตอร์ รองรับการวัดที่แม่นยำทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี พร้อมการประหยัดข้อมูลและ ฟังก์ชั่นรายงานการส่งออก

คำถามที่ 3: วิธีการแก้ไขปัญหาหน้าจอดำหรือไม่มีภาพผ่านการเชื่อมต่อ HDMI?

A3: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟและอะแดปเตอร์ที่ตรงกัน ยึดสาย HDMI ให้แน่น สลับจอภาพเพื่อแก้ไขแหล่งสัญญาณ HDMI รีสตาร์ทอุปกรณ์เพื่อแก้ไขข้อผิดพลาดหน้าจอดำและไม่มีภาพ

คำถามที่ 4: จะแก้ไขภาพที่เบลอและไม่โฟกัสได้อย่างไร

A4: นี่คือรุ่นโฟกัสแบบแมนนวล ปรับโฟกัสอย่างช้าๆ เพื่อภาพที่คมชัด ล็อคเลนส์ใกล้วัตถุให้แน่น วาง ตัวอย่างฝุ่นและคราบเลนส์ที่แบนและทำความสะอาดอย่างสม่ำเสมอ

Q5: วิธีการแก้ไขความล้มเหลวในการเชื่อมต่อเครือข่ายคอมพิวเตอร์?

A5: ตรวจสอบให้แน่ใจว่ากล้องจุลทรรศน์และพีซีอยู่ในส่วน IP เดียวกัน ปิดการใช้งานไฟร์วอลล์และซอฟต์แวร์สกัดกั้น นั่งใหม่ สายเคเบิลเครือข่าย รีบูทอุปกรณ์และรองรับซอฟต์แวร์การวัดเพื่อสร้างการเชื่อมต่อตามปกติ