GP-L700-300C เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาที่มีระยะการทำงานระยะไกลพร้อมกำลังขยายที่ปรับได้สี่ความเร็ว ใช้กล้องจุลทรรศน์โลหการระยะไกลในการทำงาน ระบบออพติคอลที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการสลับกำลังขยายสี่เกียร์อย่างรวดเร็ว ครอบคลุมภาพรวมทั้งแบบมุมกว้าง และ การสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์อย่างละเอียด พอร์ตสามตารองรับการอัพเกรดโมดูลกล้อง เหมาะสำหรับงานโลหะวิทยา การวิเคราะห์ การตรวจสอบส่วนประกอบและเวิร์กโฟลว์การวิจัยวัสดุศาสตร์

กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระยะการทำงานระยะไกลนี้เหมาะสำหรับการตรวจสอบส่วนประกอบที่มีความแม่นยำ วงจรรวม และวัสดุบรรจุภัณฑ์ ผลิตภัณฑ์
โมดูลกล้องที่ติดตั้งอยู่ภายในกล่องเลนส์สามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพ HDMI เรียลไทม์ เอาต์พุตภาพขนาดเล็กผสมผสานขั้นตอนการสังเกตและการบันทึกเข้าด้วยกัน
เส้นทางแสงของเลนส์หลายชั้นที่แม่นยำพร้อมกำลังขยายสี่ขั้นตอน กำลังขยายดิจิตอลสูงสุดถึง 3800X, การส่งมอบ รายละเอียดที่คมชัดสำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์ ชิป และเกรนขนาดเล็ก
ปุ่มปรับโฟกัสที่ประสานกันและชุดประกอบกระบอกเลนส์ที่เสริมความแข็งแรง ช่วยให้สามารถโฟกัสได้อย่างมั่นคง ไร้การสั่นไหว เหมาะสำหรับการถ่ายภาพละเอียด การตรวจสอบ ภายใต้กำลังขยายที่สูงเป็นพิเศษ
ฐานโลหะสี่เหลี่ยมขนาดใหญ่พิเศษและแขนรองรับที่มั่นคงให้การกระจายน้ำหนักที่สมดุล ป้องกันการสั่นขณะใช้งาน การตรวจสอบกำลังขยายสูงเป็นเวลานาน
ตัวเครื่องโลหะสีดำและขาวที่แข็งแกร่งพร้อมโครงร่างแหล่งกำเนิดแสงแบบแยกส่วน มอบเครื่องมือในห้องปฏิบัติการระดับมืออาชีพ เนื้อสัมผัส
ปรับให้เหมาะสมสำหรับการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ เศษ และเกรน ยังใช้กันอย่างแพร่หลายในการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, การวิจัยวัสดุ, งานสอนวิชาการและงานควบคุมคุณภาพอุตสาหกรรม
โมดูล CCD อัปเกรดการสังเกตการณ์ด้วยภาพแบบดั้งเดิมให้เป็นภาพดิจิทัล รองรับการจับภาพและวิดีโอ 1080P ด้วย U-ดิสก์ การจัดเก็บ ภาพดิจิทัลทำให้การเก็บถาวรไฟล์ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์หลังการทดลองทำได้ง่ายขึ้น
1. การขยาย:กำลังขยายสูงสี่ความเร็ว 380-3800X สำหรับโครงสร้างไมโครเกรนและชิป การสังเกต กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปมีกำลังขยายสูงสุดต่ำกว่าและภาพไม่ชัดที่กำลังสูง และไม่สามารถสังเกตเห็นเม็ดโลหะเล็กๆ ได้
2. ระบบภาพ:กล้อง Native 1080P HD, การดูช่องมองภาพและจอภาพแบบซิงโครไนซ์ ธรรมดา กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาใช้กล้องที่มีความละเอียดต่ำและมีเพียงการดูช่องมองภาพเท่านั้น
3. การวัดและการจัดเก็บ:การวัดที่แม่นยำบนหน้าจอในตัว การจับภาพวิดีโอสำหรับ การเก็บหลักฐานการทดสอบ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปไม่มีการตรวจวัดในตัว และต้องใช้ซอฟต์แวร์พีซี การวัดและการบันทึกไฟล์ทั้งหมด
4. ช่วงการสมัคร:ปรับให้เหมาะสมเพื่อการตรวจสอบเวเฟอร์ ชิปเซมิคอนดักเตอร์ และโลหะอย่างแม่นยำ ธัญพืช กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปเหมาะสำหรับการสังเกตชิ้นโลหะแบบธรรมดาที่มีสภาพไม่ดีเท่านั้น ประสิทธิภาพสำหรับตัวอย่างเกรดชิปละเอียด
เซมิคอนดักเตอร์และไมโครอิเล็กทรอนิกส์ (แอปพลิเคชันหลัก):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, หลอด MOS, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรีแบบบรรจุกล่อง
เป้าหมายการตรวจสอบ: รูปแบบวงจรไมโครชิป, ข้อบกพร่องจากการแกะสลักแผ่นเวเฟอร์, รอยขีดข่วนจากการเคลือบ, ฟองบรรจุภัณฑ์,
ข้อต่อการบัดกรีเย็น การเกิดออกซิเดชัน และการเสียรูปของพิน
ตัวอย่างโลหะและเครื่องมือตัดโลหะ:
ส่วนโลหะผสม, ชิ้นเหล็ก, ฮาร์ดแวร์โลหะที่มีการประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้างเม็ดโลหะ, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยาด้วยการบำบัดความร้อน, รอยแตกขนาดเล็กที่พื้นผิว,
การบิ่นที่ล้ำสมัย ครีบ ร่องรอยการสึกหรอ และสิ่งสกปรกภายในวัสดุ
ตัวอย่างการวิจัยในห้องปฏิบัติการ: คริสตัล ผง และฟิล์มบาง:
ผลึกเดี่ยว/โพลี ผงโลหะ ผงเคมี ฟิล์มเคลือบแสง วัสดุฟิล์มบางพิเศษ
สังเกตไมโครคริสตัลแลตทิซ สัณฐานวิทยาของอนุภาคละเอียดพิเศษ การแยกชั้นของฟิล์ม และพื้นผิวการเคลือบไมโคร
ออปโตอิเล็กทรอนิกส์และส่วนประกอบพลาสติกที่มีความแม่นยำ:
ชิป LED, เลนส์แก้วแสง, กาวสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน รอยขีดข่วนระดับนาโน กาวหลุดร่อน ฟองอากาศ และความไม่เรียบของพื้นผิวเล็กน้อย
ส่วนประกอบที่มีความแม่นยำขนาดเล็ก:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานขนาดเล็กที่มีการประทับตราด้วยความแม่นยำ
การวัดที่แม่นยำระดับพิกเซลสำหรับช่องว่าง เส้นผ่านศูนย์กลางรู พิทช์ และความแตกต่างของความสูงของพื้นผิว สังเกตอย่างละเอียดอ่อน
จีบ-เสียรูป
ห้องทดลองของมหาวิทยาลัยและการควบคุมคุณภาพเซมิคอนดักเตอร์ระดับสูง:
การทดลองวิจัยวัสดุ การสอน-การวิเคราะห์โลหะวิทยา การตรวจสอบการสุ่มตัวอย่างแผ่นเวเฟอร์ขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูป
การเก็บภาพและวิดีโอ
กลศาสตร์:โครงสร้างโลหะทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งและต้านทานแรงสั่นสะเทือนสูง ยาวเป็นพิเศษ ระยะการทำงานสำหรับการสังเกตตัวอย่างที่มีความสูง การโฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดที่แม่นยำโดยไม่มีการสะท้อนกลับ ทนต่อการสึกหรอ เวทีกล XY แบบแมนนวล เส้นทางแสงแบบ Trinocular ช่วยรักษาการจัดตำแหน่งร่วมทางแสงเมื่อเปลี่ยนวัตถุประสงค์
เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแบบแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการเคลือบแข็งป้องกันหมอก ไฟสะท้อนแสงแบบหลอดฮาโลเจน 6V-30W
การถ่ายภาพและการวัด:กล้องอุตสาหกรรม HDMI 1080P ที่มีประสิทธิภาพการป้องกันสัญญาณรบกวนที่ดีสำหรับ การใช้สิ่งแวดล้อมทางอุตสาหกรรม การวัดตามเฟิร์มแวร์บนหน้าจอ โรงงานปรับเทียบล่วงหน้า; พารามิเตอร์ยังคงมีอยู่หลังจากนั้น ปิดเครื่อง; ไม่จำเป็นต้องสอบเทียบรายวัน บันทึกสแนปชอตและวิดีโอผ่าน U-disk ที่รองรับเท่านั้น
สภาพแวดล้อมการทำงาน:อุณหภูมิในการทำงาน 10-35 ℃ ความชื้นสัมพัทธ์ 30-75% RH มีเสถียรภาพภายใต้ความสม่ำเสมอ โรงงานแม่เหล็กไฟฟ้า-สภาพแวดล้อม หลีกเลี่ยงการสั่นสะเทือนหนัก ก๊าซที่มีฤทธิ์กัดกร่อน และฝุ่นหนัก
คุณภาพและการบำรุงรักษา:การตรวจสอบโรงงานแบบเต็มรายการ อย่าแยกชิ้นส่วนโมดูลออปติคัล ปกติ การทำความสะอาดแบบกันฝุ่นจะช่วยยืดอายุการใช้งาน
| รายการ | คำอธิบาย |
| รุ่นสินค้า | GP-L700-300C กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระยะไกล |
| ประเภทสินค้า | กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแนวตั้งเกรดวิจัยกำลังขยายสูงพร้อมโคแอกเซียลแนวตั้งแยกกัน แสงสว่าง |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลการรับชมแบบซิงโครนัส Trinocular, แหล่งกำเนิดแสงแนวตั้งโคแอกเชียลอิสระ, ความละเอียดสูง ชุดเลนส์ใกล้วัตถุโลหะ, เซ็นเซอร์ภาพ HD CMOS, โมดูลการวัดความแม่นยำแบบดิจิทัลในตัว, เอาต์พุตวิดีโอแบบเรียลไทม์ HDMI, การจัดเก็บภาพในเครื่อง U-disk |
| พารามิเตอร์หลัก | กำลังขยายด้วยแสง: 50/100/200/500 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 380/760/1520/3800 ×; อินเตอร์เฟซเอาท์พุท: HDMI เท่านั้น; ความละเอียดในการจับภาพ: 1920*1080; โหมดโฟกัส: โฟกัสแบบแมนนวล; การวัด: ในตัว ฟังก์ชั่นการวัดที่แม่นยำ ที่เก็บข้อมูล: ที่เก็บข้อมูลดิสก์ U; ฟังก์ชั่น: การแสดงตัวอย่างภาพ HD, การจับภาพ & การบันทึกวิดีโอบนจอภาพ |
| ฟิลด์แอปพลิเคชัน | การสังเกตเวเฟอร์และเม็ดชิป การตรวจสอบบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์ เม็ดโลหะ การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา การตรวจจับข้อบกพร่องไมโครวงจรที่แม่นยำ การวิเคราะห์ความล้มเหลวของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ ห้องปฏิบัติการวัสดุ การวิจัย |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งโรงงาน | เมืองคุนซาน มณฑลเจียงซู ประเทศจีน (ติดกับเซี่ยงไฮ้) |
| แบบอย่าง | GP-L700-300C |
| ปณิธาน | 1920×1080 |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพจริง | 2 ล้านพิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | โฟกัสแบบแมนนวล |
| รูปแบบแสง | 1/2" |
| ขนาดพิกเซล | 3.75 ไมโครเมตร × 3.75 ไมโครเมตร |
| วิธีการส่งออก | HDMI |
| การแนะนำการทำงานโดยละเอียดที่สอดคล้องกับแต่ละอินเทอร์เฟซเอาต์พุต | 1 HDMI เชื่อมต่อกับจอแสดงผลที่รองรับ 4K รองรับเฟิร์มแวร์ประมวลผลภาพระดับมืออาชีพแบบฝัง การบันทึกภาพถ่าย การบันทึกวิดีโอ การวัดขนาด การเล่นภาพ และการเปรียบเทียบภาพ ดำเนินการ ด้วยเมาส์แบบเรียลไทม์ |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60fps @ 1920*1080 |
| การสังเคราะห์ระยะชัดลึก | / |
| การต่อภาพ | / |
| วิธีการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.001 มม |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (หน่วยสลับได้ 4 หน่วย) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม เรเดียน วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ เพิ่ม การตรวจจับขอบอัตโนมัติ สเกลบาร์ และอื่นๆ |
| วิธีการเก็บรักษา | ที่เก็บข้อมูลดิสก์ U |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A7 ดูอัลคอร์ @ สูงสุด 1.3 GHz |
| ระบบปฏิบัติการ | เฟิร์มแวร์การวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| การตั้งชื่อรูปภาพ | มีการตั้งชื่ออัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| กำลังดูหัว | หัวกล้องสามตาแบบบานพับเอียง 30°; ช่วงการปรับระหว่างรูม่านตา: 53-75 มม |
| โหมดการสังเกต | สนามสว่าง / การส่องสว่างแบบเฉียง / โพลาไรเซชันแบบง่าย |
| ระบบส่องสว่าง | ระบบไฟส่องสว่างตก, อินพุตแรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240V, ศูนย์กลางไส้หลอดแบบปรับได้, ความเข้มของแสงที่ปรับได้อย่างต่อเนื่อง |
| ยืน | 1 ชั้นวางประเภทการถ่ายภาพ กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเชียลหยาบละเอียดพร้อมอุปกรณ์ล็อคและจำกัด
ค่าการสำเร็จการศึกษาแบบละเอียด: 2 μm ไฟส่องสว่างแบบสะท้อนแสงแบบหลอดฮาโลเจน ② สนามสว่าง ตัวสะท้อนแสงพร้อมการหยุดรูรับแสงแบบปรับได้ การหยุดสนาม และชุดสลับฟิลเตอร์สี 3 สีเหลือง, สีฟ้า, ฟิลเตอร์สีเขียวและแผ่นกระจกฝ้าสำหรับเส้นทางแสงสะท้อน |
| เวทีเครื่องกล | ขนาดฐาน: 300 มม. × 240 มม. ขนาดเวที: 185 มม. × 140 มม. ระยะเคลื่อนที่ X-Y: 35 มม. × 30 มม. เหมาะสม สำหรับ การสังเกตชิ้นงานที่มีความสูงค่อนข้างสูง |
| แหล่งกำเนิดแสง | หลอดฮาโลเจนขนาด 6V 30W (เฉพาะแสงสะท้อน) |
| ฟังก์ชันโพลาไรเซชันอย่างง่าย | ติดตั้งโพลาไรเซอร์และเครื่องวิเคราะห์แบบ Push-pull แล้ว |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซกล้อง 1X C-mount, โฟกัสที่ไม่สามารถปรับได้; CTV 0.5X เป็นอุปกรณ์เสริมที่มีส่วนต่างราคา ค่าชดเชย |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตามุมกว้าง WF10X/22 มม. จำนวน 2 ชิ้นพร้อมการปรับแก้สายตาแยกกัน |
| จมูก | ★จมูกห้าหลุม Mingchang |
| วัตถุประสงค์ทางโลหการ | ★วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบไม่มีที่สิ้นสุด 1 PL L5X/0.12 ระยะการทำงาน: 26.1 มม ×1ชิ้น 2 PL L10X/0.25 ระยะการทำงาน: 20.2 มม. × 1 ชิ้น 3 PL L20X/0.40 ระยะการทำงาน: 8.80 มม ×1ชิ้น ④ PL L50X/0.70, ระยะการทำงาน: 3.68 มม. ×1 ชิ้น ⑤ PL L100X/0.85, ระยะการทำงาน: 0.40 มม (ไม่จำเป็น ไม่รวมอยู่ในแพ็คเกจมาตรฐาน) |
| การขยายด้วยแสง | 50X, 100X, 200X, 500X (สลับได้สี่ระดับ) |
| การขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 380X, 760X, 1520X, 3800X (สลับได้สี่ระดับ); ช่วงการขยายเสริม: 190-1900X. |
พร้อมกับการถ่ายภาพ HD 1920 * 1080 ดั้งเดิม เหมาะสำหรับการสังเกตโครงสร้างโลหะและเกรนเศษพื้นฐาน การตรวจสอบ; แสดงเม็ดโลหะและพื้นผิวเล็กๆ ของชิปได้อย่างชัดเจน
การออกแบบแบบแมนวลโฟกัสเหมาะกับตัวอย่างในห้องปฏิบัติการแบบคงที่และการเปลี่ยนชิ้นงานความถี่ต่ำ การปรับจูนที่เสถียร ช่วยให้ การสังเกตตัวอย่างคงที่ที่แม่นยำในระยะยาว
ติดตั้งแหล่งกำเนิดแสงโคแอกเซียลแยกกันและเส้นทางแสงโลหะวิทยาแบบสามตาสำหรับชิ้นงานโลหะและชิป ชิ้น และ PCB ขนาดเล็ก-กลาง แสงโคแอกเซียลแนวตั้งช่วยลดแสงสะท้อนจากโลหะและคืนความสมจริง โลหะวิทยา พื้นผิว
ช่วงการขยายสี่เกียร์: การขยายแสง 50-500X, การขยายแบบดิจิตอล 380-3800X ครอบคลุมทั้งสองอย่าง ภาพรวมของชิ้นงานทั้งหมดและการตรวจสอบไมโครเกรน / ข้อบกพร่องระดับไมโคร
ฟังก์ชั่นการวัดความแม่นยำในตัว เอาต์พุต HDMI แบบเรียลไทม์ และ U-disk สำหรับบันทึกภาพการตรวจสอบและ ข้อมูลการวัดเพื่อวัตถุประสงค์พื้นฐาน-ห้องปฏิบัติการ-การเก็บถาวร
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
DOOV – การตรวจสอบอุปกรณ์มือถือ-การประกอบ หน้าจอและการทดสอบรูปลักษณ์ส่วนประกอบ
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – การวิเคราะห์ระดับจุลภาคของเซรามิกอนินทรีย์และวัสดุพลังงานใหม่
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – การวิจัยเชิงแสงขั้นสูง & การระบุลักษณะเฉพาะของส่วนประกอบทางแสง
GREE Electric Appliances (Hefei) – การวัดขนาดที่แม่นยำและการตรวจสอบข้อบกพร่องสำหรับชิ้นส่วนเครื่องใช้ในบ้าน
มหาวิทยาลัยชิงหัว – การสอน การสร้างภาพในห้องปฏิบัติการ และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง
NIO Shanghai – การตรวจสอบที่แม่นยำสำหรับชิ้นส่วนรถยนต์พลังงานใหม่และชุดสายไฟ
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 ทีมผู้ก่อตั้งของเราสะสมความมั่งคั่ง ประสบการณ์ด้านการตรวจสอบด้วยแสง-เครื่องมือ-อุตสาหกรรม เริ่มตั้งแต่ปี พ.ศ. 2548 เราให้บริการครบวงจรครอบคลุม การออกแบบผลิตภัณฑ์ การวิจัยและพัฒนาภายในองค์กร การขายทั่วโลก และบริการหลังการขายและการบำรุงรักษาแบบครบวงจร ของเรา ทีมวิศวกรรมที่มีทักษะมีประสบการณ์มากกว่าสิบปีในการพัฒนาเครื่องมือออปติคอลเพื่อให้มั่นใจ ประสิทธิภาพทางเทคนิคที่มั่นคงและคุณภาพผลิตภัณฑ์ที่เชื่อถือได้
GAOPIN จัดหาเครื่องมือทดสอบแสงมากกว่าหนึ่งร้อยประเภทที่ให้บริการ ลูกค้าอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการ ทั่วโลก เราพัฒนาโซลูชันกล้องจุลทรรศน์แบบกำหนดเองที่ยืดหยุ่นและคุ้มค่าสำหรับ การควบคุมคุณภาพอุตสาหกรรมที่หลากหลายและ โครงการวิเคราะห์ห้องปฏิบัติการ
สำหรับผู้ซื้อในต่างประเทศ เราให้การสนับสนุนทางเทคนิคทั่วโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็ว รวมถึงการให้คำปรึกษาออนไลน์ระยะไกล ในทางปฏิบัติ- วิดีโอบทช่วยสอนและการฝึกอบรมการใช้งานอุปกรณ์ระยะไกลแบบสด โรงงานผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู จังหวัด (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้) ยินดีเยี่ยมชมโรงงานและทัวร์เสมือนจริงออนไลน์ กรุณาติดต่อกับเรา ทีมขายสำหรับภาพถ่ายทดสอบตัวอย่างจริงที่ถ่ายโดยกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระยะไกลทำงานเพื่อ ประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพจริง
A1: กำลังขยายด้วยแสง: 50-500 ×; กำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์: 380-3800× การสังเกตแบบซิงโครนัสผ่านช่องมองภาพและ จอภาพ มีไว้สำหรับการตรวจสอบระดับจุลภาคที่แม่นยำ
A2: เฉพาะเอาต์พุตวิดีโอความละเอียดสูง HDMI สำหรับการทำงานของจอภาพแบบสแตนด์อโลน การออกแบบแบบครบวงจรช่วยให้มั่นใจได้ถึงความเรียบง่ายและสะดวก การดำเนินงาน
A3: รองรับการบันทึกภาพและวิดีโอ 1080P และการวัดที่แม่นยำบนหน้าจอในตัว สามารถบันทึกไฟล์ได้ทาง U-disk ที่ฟอร์แมต FAT32 ภายในความจุ 32 GB
A4: วางตัวอย่างให้เรียบ ลดการขยายอย่างเหมาะสม ทำความสะอาดพื้นผิวเลนส์ใกล้วัตถุ และค่อยๆ ปรับโฟกัส พวงมาลัยมือ เพื่อภาพที่คมชัด
A5: ตรวจสอบให้แน่ใจว่าแหล่งจ่ายไฟมีเสถียรภาพ ยึดสาย HDMI ให้แน่น เลือกแหล่งสัญญาณจอภาพที่ถูกต้องแล้วรีสตาร์ทอุปกรณ์
A6: รองรับ U-disk ในรูปแบบ FAT32 ขนาด 32 GB หรือน้อยกว่าเท่านั้น ใส่ใหม่หรือฟอร์แมตดิสก์ U ใหม่เพื่อแก้ไขปัญหาที่เกี่ยวข้องกับการจัดเก็บข้อมูล ปัญหา
A7: ใช้กันอย่างแพร่หลายในการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, อิเล็กทรอนิกส์ที่มีความแม่นยำ, การตรวจสอบฮาร์ดแวร์, การตรวจจับข้อบกพร่องที่พื้นผิว, การควบคุมคุณภาพอุตสาหกรรม การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และงานสอน
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
