กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาเกรดการวิจัย 4K Ultra HD

GP-L500-324K เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาเกรดการวิจัยพร้อม 4K Ultra HD รองรับการขยาย 5 ขั้นตอน การสลับ จาก 380× ถึง 6080× แท่นเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษในตัวรองรับตัวอย่างขนาดใหญ่ได้อย่างสะดวก กล้องจุลทรรศน์โลหการระดับการวิจัย 4K Ultra HD มอบ 4เค ภาพที่มีความละเอียดสูงเป็นพิเศษพร้อมรายละเอียดโครงสร้างจุลภาคที่คมชัด พอร์ตสามตารองรับการติดตั้งกล้องและ การเชื่อมต่อซอฟต์แวร์การวิเคราะห์โลหะวิทยา เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสังเกตโลหะวิทยาวัสดุขนาดใหญ่ เซมิคอนดักเตอร์ การตรวจสอบ การวิเคราะห์ชิ้น PCB และงานควบคุมคุณภาพในห้องปฏิบัติการอุตสาหกรรม

ขอบเขตการใช้งาน

กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระดับการวิจัย 4K Ultra HD นี้เหมาะสำหรับการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ของโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาและสัณฐานวิทยาของพื้นผิว มัน ทำหน้าที่เป็นเครื่องมือวิจัยในอุดมคติสำหรับสาขาวิชาโลหะวิทยา แร่วิทยา และวิศวกรรมความแม่นยำ

ข้อดีการออกแบบที่เป็นเอกลักษณ์

1. การสร้างภาพ CCD แบบซิงโครนัส 4K ในตัว

กล้อง 4K รวมอยู่ในเคสแบบสามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพภายนอก สองพอร์ต เอาต์พุตผ่าน HDMI และ Gigabit LAN จะส่งภาพไมโคร HD แบบพิเศษแบบเรียลไทม์

2. ระบบออปติคัล HD กำลังขยายสูงเป็นพิเศษ

กำลังขยายด้วยแสง 50-800 ×; กำลังขยายดิจิตอลสูงสุดถึง 6080X (ซูมดิจิตอลบริสุทธิ์) ด้วย เลนส์ห้าวัตถุประสงค์ ชุด เส้นทางแสงที่แม่นยำให้รายละเอียดที่คมชัดสำหรับการตรวจสอบไมโครชิปและเวเฟอร์

3. กลไกโฟกัสแบบแมนนวลที่แม่นยำและราบรื่น

ปุ่มปรับโฟกัสแบบโคแอกเชียลที่จับคู่กับชุดเลนส์และกระบอกเลนส์เสริมแรง ช่วยให้สามารถโฟกัสได้อย่างมั่นคงและลดการสั่นไหวของภาพ

4. เวทีชิ้นงานขนาดใหญ่และฐานโลหะสำหรับงานหนัก

แท่นชิ้นงานเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษจับคู่กับฐานโลหะหนาในตัว คงความเสถียรสำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่ โดยไม่ต้อง โยกเยกในระหว่างการสังเกตเป็นเวลานาน

5. ตัวกล้องมืออาชีพสีขาวล้วนเกรดวิจัย

กรอบโลหะแข็งสไตล์ห้องปฏิบัติการแบบบูรณาการสไตล์มินิมอล เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการประชุมเชิงปฏิบัติการด้านเซมิคอนดักเตอร์ มหาวิทยาลัย ห้องปฏิบัติการ และโรงงาน QC

6. ช่วงการใช้งานระดับมืออาชีพที่กว้าง

เหมาะสำหรับการตรวจสอบชิปและเวเฟอร์ การทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา การวิจัยวัสดุ การสอนเชิงวิชาการ และงานประเมินคุณภาพ

7. การสังเกต การวัด และการจัดเก็บแบบดิจิทัลแบบครบวงจร

การถ่ายภาพและวิดีโอ 4K, โหมดการวัดแบบคู่ (บนหน้าจอในตัว + ซอฟต์แวร์ PC) จัดเก็บข้อมูลแบบคู่ผ่าน U-disk & คอมพิวเตอร์ ฟังก์ชันการสังเคราะห์ระยะชัดลึกและการเย็บภาพทำงานเฉพาะบนซอฟต์แวร์พีซีที่รองรับเท่านั้น มัธยมศึกษาตอนปลายคือ รองรับผ่านพอร์ต LAN สำหรับการเก็บภาพ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์ขั้นสูง

ความแตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไป

การดูด้วยกล้องสองตาพร้อมการสังเกตทางอิเล็กทรอนิกส์แบบซิงโครนัส:มุมมองช่องมองภาพและการทำงานของจอภาพ พร้อมกัน กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับเฉพาะการสังเกตช่องมองภาพเท่านั้น อุปกรณ์เสริมกล้องเพิ่มเติมได้แก่ จำเป็นสำหรับเอาต์พุตหน้าจอ

เวทีขนาดใหญ่ กำลังขยายสูงเป็นพิเศษ และการถ่ายภาพ 4K:กำลังขยายแสงสูงสุด 800X; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์ดิจิตอลบริสุทธิ์สูงสุดถึง 6080X เวทีเคลื่อนที่ขนาดใหญ่รองรับได้ ตัวอย่างขนาดใหญ่พร้อมเอาต์พุต 4K ดั้งเดิม กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบธรรมดาใช้ขั้นตอนการทำงานขนาดเล็ก ด้วยความละเอียดที่ต่ำกว่าและกำลังขยายที่จำกัด

อินเทอร์เฟซเอาต์พุตคู่:พอร์ต HDMI + Gigabit-LAN กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาธรรมดาก็มี อินเทอร์เฟซเดียวที่ไม่มีพอร์ตเครือข่ายสำหรับการรวมระบบ

โหมดการวัดแบบคู่:การวัดในตัวแบบออฟไลน์บนจอภาพพร้อมการวัดด้วยซอฟต์แวร์พีซี กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับเฉพาะการตรวจวัดซอฟต์แวร์ฝั่ง PC เท่านั้น

โหมดการจัดเก็บข้อมูลแบบคู่:ที่เก็บข้อมูล U-disk แบบออฟไลน์และที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี ประหยัดข้อมูลได้ มีหรือไม่มีคอมพิวเตอร์ที่เชื่อมต่ออยู่ รุ่นทั่วไปต้องใช้การเชื่อมต่อ PC เพื่อบันทึกภาพ

รองรับการพัฒนารอง:พอร์ต LAN ช่วยให้สามารถรวมระบบได้โดยอัตโนมัติ ทั่วไป กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาไม่สนับสนุนความสามารถในการพัฒนาขั้นทุติยภูมิ

เส้นทางแสงโลหะโดยเฉพาะ:ปรับให้เหมาะสมสำหรับเม็ดโลหะ การเคลือบ และ การวิเคราะห์โลหะและวัสดุ กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไปขาดเส้นทางแสงพิเศษนี้และไม่สามารถทำได้ เห็นภาพโครงสร้างทางโลหะวิทยา

หลักฐานและความน่าเชื่อถือถึงสถานที่ (การทดสอบจากมือแรก)

กลศาสตร์:โครงสร้างโลหะทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งและต้านทานแรงสั่นสะเทือนสูง ความแม่นยำ โฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดโดยไม่มีฟันเฟือง แท่น XY แบบแมนนวลขนาดใหญ่ที่มีการสึกหรอต่ำและมีระยะห่างน้อยที่สุด กล้องสามตา เส้นทางแสงจะรักษาการจัดตำแหน่งร่วมทางแสงเมื่อเปลี่ยนวัตถุประสงค์

เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแบบแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการเคลือบแข็งป้องกันหมอก ไฟสะท้อนแสงแบบหลอดฮาโลเจน 6V-30W

การถ่ายภาพและการวัด:กล้อง CMOS อุตสาหกรรม 8.3 ล้านพิกเซล 4K เอาต์พุตคู่: HDMI + Gigabit-LAN พอร์ตประสิทธิภาพการป้องกันการแทรกแซงที่ดีสำหรับการใช้ในอุตสาหกรรมและสิ่งแวดล้อม รองรับการวัดแบบฝังบนจอภาพ และการวัดซอฟต์แวร์พีซี สอบเทียบล่วงหน้าที่โรงงาน พารามิเตอร์ยังคงมีอยู่หลังจากปิดเครื่อง ไม่มีการสอบเทียบรายวัน จำเป็น ที่เก็บข้อมูลแบบสองเส้นทางผ่าน U-disk และซอฟต์แวร์พีซี มีการสังเคราะห์ระยะชัดลึกและการเย็บภาพ บนซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น อินเตอร์เฟซการพัฒนารองสามารถใช้ได้ผ่านทางพอร์ต LAN

สภาพแวดล้อมการทำงาน:อุณหภูมิในการทำงาน 10-35 ℃ ความชื้นสัมพัทธ์ 30-75% RH มีเสถียรภาพภายใต้ความสม่ำเสมอ โรงงานแม่เหล็กไฟฟ้า-สภาพแวดล้อม หลีกเลี่ยงการสั่นสะเทือนหนัก ก๊าซที่มีฤทธิ์กัดกร่อน และฝุ่นหนัก

คุณภาพและการบำรุงรักษา:การตรวจสอบโรงงานแบบเต็มรายการ อย่าแยกชิ้นส่วนโมดูลออปติคัล ปกติ การทำความสะอาดแบบกันฝุ่นจะช่วยยืดอายุการใช้งาน

งานตรวจสอบที่เหมาะสมสำหรับกำลังขยาย 380-6080×

เวเฟอร์และชิปเซมิคอนดักเตอร์ (การใช้งานหลัก):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, หลอด MOS, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรีแบบบรรจุกล่อง
เป้าหมายการตรวจสอบ: วงจรไมโครชิปภายใน, การเคลือบแผ่นเวเฟอร์, ข้อบกพร่องในการแกะสลัก, ฟองบรรจุภัณฑ์, การบัดกรีด้วยความเย็น ข้อต่อ การเกิดออกซิเดชัน และการเสียรูปของพิน

ตัวอย่างโลหะและเครื่องมือตัดฮาร์ดแวร์:
ส่วนที่เป็นโลหะ โลหะผสมเหล็ก ดอกสว่าน หัวกัด ชิ้นส่วนโลหะที่มีการประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้างเม็ดโลหะ, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยาด้วยความร้อน, รอยแตกที่พื้นผิวขนาดเล็ก, การบิ่นที่ล้ำสมัย ครีบ ร่องรอยการสึกหรอ และสิ่งสกปรกภายในวัสดุ

ตัวอย่างในห้องปฏิบัติการ: ผง ไฟเบอร์ และฟิล์มบาง:
ผงโลหะ ผงเคมี คาร์บอนไฟเบอร์ เส้นใยสิ่งทอ ฟิล์มเคลือบแสง
สังเกตสัณฐานวิทยาของอนุภาค พื้นผิวของเส้นใย การแยกชั้นของฟิล์ม และโครงสร้างการเคลือบระดับไมโคร

ออปโตอิเล็กทรอนิกส์และส่วนประกอบพลาสติกที่มีความแม่นยำ:
ชิป LED, เลนส์สายตา, ชิ้นส่วนฉีดขึ้นรูป, กาวสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน คราบบนพื้นผิว ขอบหยาบ การหลุดร่อน ฟองอากาศ และตำหนิเล็กๆ น้อยๆ จากเครื่องสำอาง

ส่วนประกอบขนาดเล็กที่มีความแม่นยำขนาดใหญ่:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับขนาดใหญ่ ชิ้นส่วนขนาดยาว
เวทีเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษรองรับตัวอย่างขนาดใหญ่ การวัดช่องว่างและรูที่แม่นยำระดับ 4K พิกเซล เส้นผ่านศูนย์กลาง ความแตกต่างของความสูง และขนาดเชิงเส้น

ห้องทดลองทางวิชาการและโรงงานเซมิคอนดักเตอร์-QC:
การทดลองวิจัยวัสดุ การตรวจสอบสินค้าขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูปสำหรับเซมิคอนดักเตอร์แบบเต็มรูปแบบ การสังเกตชิ้นงานโลหะและโลหะ การเก็บภาพ/วิดีโอ เชื่อมต่อกับพีซีเพื่อส่งออกการวัดแบบมืออาชีพ รายงาน QC

วิธีเลือกรุ่นนี้

สำหรับการตรวจสอบตัวอย่างขนาดใหญ่ที่มีระยะเคลื่อนที่กว้างเป็นพิเศษ

แพลตฟอร์มขนาดใหญ่ที่ขยายใหญ่ขึ้นช่วยให้สามารถสังเกตเวเฟอร์ PCB ขนาดใหญ่ และชิ้นโลหะขนาดใหญ่ที่ไม่มีได้อย่างเต็มที่ การตัดตัวอย่าง เหมาะสำหรับเซมิคอนดักเตอร์-เวเฟอร์ แผงวงจร และการตรวจสอบส่วนประกอบฮาร์ดแวร์ขนาดใหญ่

สำหรับการวิเคราะห์ระดับจุลภาคของชิปกำลังขยายสูงพิเศษแบบหลายช่วง

กำลังขยายแบบปรับขั้นได้: ออปติคัล 50x-800x; กำลังขยายดิจิตอลสูงสุดถึง 6080X (ซูมดิจิตอลบริสุทธิ์) จับภาพ ลักษณะชิ้นงานโดยรวมและรายละเอียดที่ละเอียดมาก เช่น วงจรชิป เม็ดโลหะ รอยขีดข่วนขนาดเล็ก และ เคลือบรูขุมขน เหมาะสำหรับการทดสอบสารกึ่งตัวนำ-R&D

สำหรับการรับชมหลายคนแบบซิงโครนัสด้วยเส้นทางแสงแบบสามตา

เส้นทางออปติคัลแบบซิงโครนัสแบบ Trinocular ช่วยให้สามารถสังเกตได้พร้อมกันผ่านช่องมองภาพแบบสองตาและจอภาพ HDMI เหมาะสม สำหรับการอภิปรายทีม R&D การตรวจสอบ QC ซ้ำซ้อน และการสอนในห้องปฏิบัติการของมหาวิทยาลัยเพื่อลดการตัดสินที่ผิดพลาด

สำหรับการตั้งค่าเวิร์กสเตชันที่ยืดหยุ่นพร้อมการเชื่อมต่อพีซีเสริม

เอาต์พุต HDMI เดี่ยวพร้อมฟังก์ชันการวัดบนจอภาพในตัว สามารถบันทึกรูปภาพและวิดีโอ 4K ได้โดยตรง ดิสก์ U ที่รองรับ การติดตั้ง Plug-and-Play เหมาะกับสถานีตรวจสอบขั้นพื้นฐานในโรงงานเซมิคอนดักเตอร์และ ห้องปฏิบัติการวัสดุขนาดเล็ก

สำหรับการทดสอบทางอุตสาหกรรมที่มีความเสถียรเป็นเวลานานด้วยโครงงานหนัก

ตัวกล้องป้องกันการสั่นสะเทือนในตัวที่มีความหนาพร้อมการโฟกัสแบบหยาบและละเอียดแบบแมนนวล ประสิทธิภาพการโฟกัสที่ราบรื่นโดยไม่ต้อง การเลื่อนภาพระหว่างการตรวจสอบอย่างต่อเนื่องเป็นเวลานานหลายชั่วโมง ทนทานสำหรับการทดสอบเวเฟอร์จำนวนมากที่เข้ามาในแต่ละวัน แผงวงจร และการวิเคราะห์ตัวอย่าง-ห้องปฏิบัติการ-ห้องปฏิบัติการเป็นเวลานาน

ตัวเลือกการปรับแต่ง

มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ

ภาพรวมเอนทิตีผลิตภัณฑ์

ข้อมูลจำเพาะทางเทคนิค

พันธมิตรและลูกค้าที่เชื่อถือได้

กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:

มหาวิทยาลัยชิงหัว – การสอน การสร้างภาพในห้องปฏิบัติการ และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง

มหาวิทยาลัย Fudan - วัสดุไมโครนาโนและการวิจัยด้วยการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ชีวการแพทย์

Dabo Medical – การวิเคราะห์ทางสัณฐานวิทยาระดับจุลภาคสำหรับอุปกรณ์ทางการแพทย์และวัสดุชีวภาพประเภทการปลูกถ่าย

มหาวิทยาลัยพาณิชยศาสตร์เทียนจิน – การสอนห้องปฏิบัติการวัสดุ การสร้างภาพขนาดเล็ก และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง

มหาวิทยาลัย Xi'an Jiaotong – การสังเกตการทดลองเชิงวิทยาศาสตร์วัสดุขั้นสูงและทัศนศาสตร์ที่แม่นยำ

GREE Electric Appliances (Hefei) – การวัดขนาดที่แม่นยำและการตรวจสอบข้อบกพร่องสำหรับชิ้นส่วนเครื่องใช้ในบ้าน

คำถามที่พบบ่อย

Q1: การกำหนดค่าอินเทอร์เฟซและวิธีการเชื่อมต่อ?

A1: ติดตั้งพอร์ต HDMI + Gigabit-LAN รองรับการแสดงผลจอภาพโดยตรงและการเชื่อมต่อเครือข่ายกับคอมพิวเตอร์

คำถามที่ 2: ฟังก์ชั่นการถ่ายภาพ การจัดเก็บ และการวัดมีอะไรบ้าง

A2: รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ 4K ultra-HD ไฟล์สามารถบันทึกลงใน U-disk ในรูปแบบ FAT32 ได้ภายใน 32 GB ความจุ รองรับการวัดทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี พร้อมฟังก์ชันประหยัดข้อมูลและส่งออกรายงาน

คำถามที่ 3: จะแก้ไขข้อผิดพลาดทั่วไปได้อย่างไร

A3: การแก้ไขปัญหาไม่มีภาพ: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟ, สาย HDMI และแหล่งสัญญาณจอภาพ จากนั้นรีสตาร์ทอุปกรณ์ การแก้ไขปัญหาภาพไม่ชัด: ปรับวงล้อปรับโฟกัสแบบแมนนวล วางตัวอย่างให้เรียบและพื้นผิวเลนส์ที่สะอาด เครือข่ายล้มเหลว การแก้ไขปัญหา: ตั้งค่าพีซีและอุปกรณ์ภายในกลุ่ม IP เดียวกัน ปิดไฟร์วอลล์ และเชื่อมต่อสายเคเบิลเครือข่ายอีกครั้ง U-ดิสก์-ข้อผิดพลาด การแก้ไขปัญหา: เปลี่ยนหรือฟอร์แมตดิสก์ U ใหม่ (ต้องเป็น FAT32 และ ≤32 GB)

คำถามที่ 4: สถานการณ์ของแอปพลิเคชันคืออะไร รองรับการพัฒนาขั้นทุติยภูมิหรือไม่?

A4: รองรับการพัฒนารองผ่านพอร์ต LAN ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, โลหะ-วัสดุ การทดสอบ ผงโลหะวิทยา การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ การตรวจสอบส่วนประกอบที่มีความแม่นยำ การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และ การสอน-การทดลอง

เกี่ยวกับ GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 ทีมผู้ก่อตั้งผู้นำของเราสะสม ประสบการณ์ด้านการตรวจสอบอุปกรณ์อุตสาหกรรมด้วยแสงเริ่มต้นในปี 2548 เรานำเสนอโซลูชั่นแบบครบวงจรที่ครอบคลุม การออกแบบระบบออปติคอล การวิจัยและพัฒนาที่เป็นอิสระ การกระจายผลิตภัณฑ์ทั่วโลก และการบำรุงรักษาหลังการขายในระยะยาว- บริการ พนักงานหลักด้านวิศวกรรมเฉพาะของเรามีประสบการณ์ด้านการพัฒนาภาคปฏิบัติมากกว่าสิบปีใน เครื่องมือออพติคัลทำให้มั่นใจได้ว่าเทคโนโลยีที่ได้รับการพิสูจน์แล้วมีความเสถียรและคุณภาพที่เชื่อถือได้

GAOPIN รักษากลุ่มผลิตภัณฑ์ที่หลากหลายซึ่งประกอบด้วยเครื่องมือตรวจสอบด้วยแสงที่แตกต่างกันมากกว่า 100 รายการ ลูกค้าอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการในตลาดต่างประเทศ เรามุ่งเน้นอย่างมากในการพัฒนาแบบสั่งตัด โซลูชันกล้องจุลทรรศน์ที่คุ้มต้นทุนเพื่อตอบสนองความต้องการในการตรวจสอบเฉพาะจากอุตสาหกรรมต่างๆ

สำหรับพันธมิตรในต่างประเทศ เราเสนอความช่วยเหลือทางเทคนิคระดับโลกที่รวดเร็ว รวมถึงการประชุมทางวิดีโอออนไลน์ วิดีโอแนะนำการใช้งานแบบทีละขั้นตอนและการฝึกอบรมผู้ใช้ระยะไกลแบบสด ฐานการผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู จังหวัดที่มีการเชื่อมโยงการคมนาคมสะดวกไปยังเซี่ยงไฮ้ มีการตรวจสอบโรงงานและทัวร์เสมือนจริงทางออนไลน์ ยินดี โปรดติดต่อทีมขายของเราเพื่อขอภาพถ่ายตัวอย่างทดสอบของแท้ที่ถ่ายโดยภาพโลหะเกรดการวิจัยนี้ กล้องจุลทรรศน์พร้อม 4K Ultra HD เพื่อประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพจริง