กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาเกรดการวิจัยพร้อม 4K Ultra HD และกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา 4K เวทีขนาดใหญ่แบบโฟกัสอัตโนมัติ ใช้กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาเกรดการวิจัยออโต้โฟกัส 4K การปรับกำลังขยาย 5 ขั้นตอน โดยมีกำลังขยายตั้งแต่ 380× ถึง 6080× เวทีเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษสามารถ ถือ ตัวอย่างขนาดใหญ่ ภาพคมชัดพิเศษ 4K ให้รายละเอียดโครงสร้างจุลภาคที่คมชัดและละเอียดอ่อน พอร์ตสามตาสามารถ เป็น เชื่อมต่อกับกล้องและซอฟต์แวร์วิเคราะห์โลหะวิทยา เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสังเกตโลหะขนาดใหญ่ สารกึ่งตัวนำ การตรวจสอบ การวิเคราะห์ชิ้น PCB การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และการควบคุมคุณภาพ
เครื่องมือนี้เหมาะสำหรับการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ของโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาและสัณฐานวิทยาของพื้นผิว มัน ทำหน้าที่เป็นเครื่องมือวิจัยในอุดมคติสำหรับสาขาวิชาโลหะวิทยา แร่วิทยา และวิศวกรรมความแม่นยำ
กล้อง 4K ที่ติดตั้งอยู่ภายในกล่องเลนส์สามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพภายนอก หลายพอร์ต ส่งออกผ่าน HDMI, USB3.0 และ WIFI ส่งภาพไมโคร HD แบบพิเศษแบบเรียลไทม์
กำลังขยายด้วยแสง 50-800 ×; กำลังขยายดิจิตอลบริสุทธิ์สูงสุดถึง 6080X พร้อมชุดเลนส์ห้าวัตถุประสงค์ ความแม่นยำ เส้นทางแสงให้รายละเอียดที่คมชัดสำหรับการตรวจสอบไมโครชิปและเวเฟอร์
โมดูลโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์ในตัวช่วยให้การโฟกัสราบรื่น ปราศจากการสั่นสะเทือน และเพิ่มประสิทธิภาพสำหรับตัวอย่างจำนวนมาก การทดสอบ; โหมดโฟกัสแบบแมนนวลก็มีให้ใช้งานเช่นกัน
แท่นชิ้นงานเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษจับคู่กับฐานโลหะหนาในตัว คงความเสถียรสำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่ โดยไม่ต้อง โยกเยกในระหว่างการสังเกตเป็นเวลานาน
กรอบโลหะแข็งสไตล์ห้องปฏิบัติการแบบบูรณาการสไตล์มินิมอล เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการประชุมเชิงปฏิบัติการด้านเซมิคอนดักเตอร์ มหาวิทยาลัย ห้องปฏิบัติการ และโรงงาน QC
เหมาะสำหรับการตรวจสอบชิปและเวเฟอร์ ยังใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, งานวิจัยวัสดุและประเมินคุณภาพ
รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ 4K, โหมดการวัดแบบคู่ (บนหน้าจอในตัว + ซอฟต์แวร์ PC) การจัดเก็บข้อมูลแบบ Dual ผ่าน U-ดิสก์ & คอมพิวเตอร์ การสังเคราะห์ระยะชัดลึกทำงานได้ทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี ฟังก์ชั่นเย็บภาพใช้ได้เฉพาะเท่านั้น ใน ซอฟต์แวร์พีซี รองรับการพัฒนาขั้นที่สองสำหรับการเก็บภาพ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์ขั้นสูง
ขั้นตอนตัวอย่าง:GP-L500-462H ใช้สเตจเคลื่อนที่ขนาดใหญ่สำหรับชิป/เวเฟอร์รูปแบบขนาดใหญ่ด้วย ช่วงการเดินทางกว้าง กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปติดตั้งแท่นขนาดเล็กสำหรับตัวอย่างขนาดเล็กเท่านั้นและ ต้องมีการวางตำแหน่งชิ้นงานใหม่บ่อยครั้ง
ช่วงการขยาย:กำลังขยายสูงห้าสปีด 380-6080X ให้รายละเอียดที่คมชัดสำหรับสิ่งเล็กๆ การตรวจสอบวงจรชิป กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปมีเฟืองขยายน้อยกว่าและค่าสูงสุดต่ำกว่า กำลังขยายส่งผลให้ภาพเบลอภายใต้กำลังสูง
การถ่ายภาพและการวัด:กล้อง Native 4K ระดับการวิจัย, การวัดบนหน้าจอในตัว, ฟังก์ชั่นการจัดเก็บภาพและวิดีโอ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปใช้กล้อง 2K ความละเอียดต่ำโดยไม่ต้องติดตั้งในตัว การวัดผลต้องใช้ซอฟต์แวร์พีซีสำหรับงานวิเคราะห์
ขอบเขตการสมัคร:ปรับให้เหมาะสมสำหรับเวเฟอร์ เซมิคอนดักเตอร์ และชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ที่มีความแม่นยำสูง การตรวจสอบ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปเหมาะสำหรับชิ้นโลหะขนาดเล็กเท่านั้น และทำงานได้ไม่ดีสำหรับชิ้นโลหะขนาดใหญ่ ตัวอย่างชิป
กลศาสตร์:โครงสร้างโลหะทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งและต้านทานแรงสั่นสะเทือนสูง ฮาร์ดแวร์ออโต้โฟกัส ติดตั้งโมดูลแล้ว การโฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดที่แม่นยำโดยไม่มีการสะท้อนกลับ แท่น XY แบบแมนนวลขนาดใหญ่ที่มีการสึกหรอต่ำและ การกวาดล้างขั้นต่ำ เส้นทางแสงแบบ Trinocular ช่วยรักษาการจัดตำแหน่งร่วมทางแสงเมื่อเปลี่ยนวัตถุประสงค์
เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแบบแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบอินฟินิตี้พร้อมการเคลือบแข็งป้องกันหมอก ไฟสะท้อนแสงแบบหลอดฮาโลเจน 6V-30W
การถ่ายภาพและการวัด:กล้อง CMOS เกรดอุตสาหกรรม 8.3 ล้านพิกเซล 4K อินเทอร์เฟซหลายเอาต์พุต: HDMI + USB3.0 + WIFI นำเสนอประสิทธิภาพการป้องกันสัญญาณรบกวนที่ยอดเยี่ยมสำหรับการใช้งานในสภาพแวดล้อมอุตสาหกรรม รองรับทั้งการวัดบนหน้าจอแบบฝังและการวัดโดยใช้ซอฟต์แวร์พีซี ที่เก็บข้อมูลแบบสองเส้นทาง: แฟลชไดรฟ์ USB และซอฟต์แวร์พีซี ฟังก์ชันการซ้อนระยะชัดลึกมีให้ใช้งานบนหน้าจอและผ่านซอฟต์แวร์พีซี การเย็บภาพ ฟังก์ชั่นนี้รองรับเฉพาะซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น อินเทอร์เฟซการพัฒนารองสามารถเข้าถึงได้ผ่าน USB3.0 / WIFI
สภาพแวดล้อมการทำงาน:อุณหภูมิในการทำงาน 10-35 ℃ ความชื้นสัมพัทธ์ 30-75% RH มีเสถียรภาพภายใต้ความสม่ำเสมอ โรงงานแม่เหล็กไฟฟ้า-สภาพแวดล้อม หลีกเลี่ยงการสั่นสะเทือนหนัก ก๊าซที่มีฤทธิ์กัดกร่อน และฝุ่นหนัก เก็บโมดูล WIFI ให้ห่างจาก แหล่งสัญญาณรบกวนที่แข็งแกร่ง
คุณภาพและการบำรุงรักษา:การตรวจสอบโรงงานแบบเต็มรายการ อย่าถอดแยกชิ้นส่วนโมดูลออปติคัลหรือ โมดูลโฟกัสอัตโนมัติ การทำความสะอาดป้องกันฝุ่นเป็นประจำจะช่วยยืดอายุการใช้งาน
เวเฟอร์และชิปเซมิคอนดักเตอร์ (การใช้งานหลัก):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, หลอด MOS, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรีแบบบรรจุกล่อง
เป้าหมายการตรวจสอบ: วงจรไมโครชิปภายใน, การเคลือบแผ่นเวเฟอร์, ข้อบกพร่องในการแกะสลัก, ฟองบรรจุภัณฑ์, การบัดกรีด้วยความเย็น
ข้อต่อ การเกิดออกซิเดชัน และการเสียรูปของพิน
ตัวอย่างทางโลหะวิทยาและส่วนประกอบในการตัดโลหะ:
ส่วนที่เป็นโลหะ, โลหะผสมเหล็ก, ชิ้นส่วนโลหะที่มีการประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้างเม็ดโลหะ, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยาด้วยความร้อน, รอยแตกที่พื้นผิวขนาดเล็ก,
การบิ่นที่ล้ำสมัย ครีบ ร่องรอยการสึกหรอ และสิ่งสกปรกภายในวัสดุ
ตัวอย่างในห้องปฏิบัติการ: ผง ไฟเบอร์ และฟิล์มบาง:
ผงโลหะ ผงเคมี คาร์บอนไฟเบอร์ เส้นใยสิ่งทอ ฟิล์มเคลือบแสง
สังเกตสัณฐานวิทยาของอนุภาค พื้นผิวของเส้นใย การแยกชั้นของฟิล์ม และโครงสร้างการเคลือบระดับไมโคร
ออปโตอิเล็กทรอนิกส์และส่วนประกอบพลาสติกที่มีความแม่นยำ:
ชิป LED, เลนส์สายตา, ชิ้นส่วนฉีดขึ้นรูป, กาวสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน คราบบนพื้นผิว ขอบหยาบ การหลุดร่อน ฟองอากาศ และตำหนิเล็กๆ น้อยๆ จากเครื่องสำอาง
ส่วนประกอบขนาดเล็กที่มีความแม่นยำขนาดใหญ่:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับขนาดใหญ่ ชิ้นส่วนขนาดยาว
เวทีเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษรองรับตัวอย่างขนาดใหญ่ การวัดช่องว่างและรูที่แม่นยำระดับ 4K พิกเซล
เส้นผ่านศูนย์กลาง ความแตกต่างของความสูง และขนาดเชิงเส้น
ห้องทดลองทางวิชาการและโรงงานเซมิคอนดักเตอร์ QC:
การทดลองวิจัยวัสดุ การตรวจสอบสินค้าขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูปสำหรับเซมิคอนดักเตอร์แบบเต็มรูปแบบ
การสังเกตชิ้นงานโลหะและโลหะ การเก็บภาพ/วิดีโอ เชื่อมต่อกับพีซีเพื่อส่งออก QC การวัดแบบมืออาชีพ
รายงาน
อุปกรณ์นี้มีการสร้างภาพ 4K แบบเนทีฟ 3840*2160 เหมาะสำหรับการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ PCB และอย่างแม่นยำ ชิ้นวัสดุรวมถึงการส่งออกรายงานผลการทดสอบ ซึ่งเผยให้เห็นพื้นผิวเล็กๆ และข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ อย่างชัดเจน
ฮาร์ดแวร์ออโต้โฟกัสพร้อม เหมาะกับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมากและการเปลี่ยนตัวอย่างบ่อยครั้ง บรรลุผลอย่างรวดเร็ว มุ่งเน้น หลังจากการเคลื่อนไหวของตัวอย่างโดยไม่ต้องปรับด้วยมือซ้ำๆ
ระยะการเคลื่อนย้ายขนาดใหญ่และเส้นทางออปติคอลโลหะวิทยาแนวตั้งแบบสามตาได้รับการออกแบบมาสำหรับเวเฟอร์ขนาดใหญ่ขนาดเต็ม PCB และตัวอย่างโลหะ ช่วยลดแสงสะท้อนได้อย่างมีประสิทธิภาพ
ช่วงการขยายแบบคู่: กำลังขยายแบบออปติคอล 50-800X, กำลังขยายแบบดิจิตอล 380-6080X ครอบคลุมทั้งสองอย่าง โดยรวม-ตัวอย่าง การสังเกตและการตรวจสอบไมโครเกรน / ข้อบกพร่องขนาดเล็ก
รองรับการวัดในตัวอุปกรณ์และการวัดซอฟต์แวร์พีซี พร้อมกับเอาต์พุต HDMI, USB3.0 และ WIFI พอร์ต ภาพถ่าย วิดีโอ และข้อมูลการวัดสามารถบันทึกผ่าน U-disk หรือคอมพิวเตอร์ได้ รองรับการพัฒนารองสำหรับ การบูรณาการสายการผลิตและการตรวจสอบย้อนกลับข้อมูลในห้องปฏิบัติการ
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
| รายการ | คำอธิบาย |
| ผลิตภัณฑ์ | GP-L500-462H กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาเกรดวิจัยพร้อม 4K Ultra HD และโฟกัสอัตโนมัติ |
| หมวดหมู่ | การตรวจสอบและการวัดทางโลหะวิทยาด้วยโฟกัสอัตโนมัติ 4K แพลตฟอร์มขนาดใหญ่ระดับการวิจัยทางอุตสาหกรรม กล้องจุลทรรศน์ |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลการดูแบบซิงโครนัสแบบ Trinocular เวทีชิ้นงานเคลื่อนที่ในพื้นที่ขนาดใหญ่ กำลังสูง โลหะวิทยา ชุดเลนส์ใกล้วัตถุ, เซ็นเซอร์ภาพ CMOS 4K ultra-HD, โมดูลโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์, สามช่องสัญญาณ การส่งผ่าน (HDMI+USB3.0+WIFI) ระบบการวัดแบบคู่ การสังเคราะห์ระยะชัดลึก และอัลกอริธึมการเย็บภาพ สถาปัตยกรรมเปิดที่สนับสนุนการพัฒนารอง |
| ข้อมูลจำเพาะที่สำคัญ | การขยายภาพ: 50/100/200/500/800 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 380/760/1520/3800/6080 × (6080X คือ บริสุทธิ์ ซูมดิจิตอล); พอร์ตสามเอาท์พุท: HDMI + USB3.0 + WIFI; ความละเอียดในการจับภาพ 4K: 3840×2160; ฮาร์ดแวร์ ติดตั้งระบบโฟกัสอัตโนมัติ โหมดการวัดแบบคู่: การวัดที่แม่นยำในตัว + ซอฟต์แวร์คอมพิวเตอร์เฉพาะ การวัด; โหมดการจัดเก็บข้อมูลคู่: ที่เก็บข้อมูลในเครื่อง U-disk + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี เทอร์มินัลมอนิเตอร์รองรับมิติ การวัด, การแสดงตัวอย่างภาพ HD, การบันทึกวิดีโอ, การสังเคราะห์ระยะชัดลึก; รองรับเทอร์มินัลพีซี การวัดขนาด การจัดเก็บไฟล์ การสังเคราะห์ระยะชัดลึก และการเย็บภาพ รองรับทั้งยูนิต การบูรณาการขั้นทุติยภูมิ |
| การใช้งานทั่วไป | การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของเซมิคอนดักเตอร์ เวเฟอร์และชิป การสังเกตส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ขนาดใหญ่ โลหะ การวิเคราะห์โครงสร้างโลหะเกรน, การตรวจจับวงจรบรรจุภัณฑ์, การตรวจสอบหน้าตัด PCB, การวิเคราะห์ความล้มเหลวของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ที่มีความแม่นยำ การทดสอบคุณภาพวัสดุพลังงานใหม่ การวิจัยทางห้องปฏิบัติการขั้นสูงของมหาวิทยาลัย |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งผู้ผลิต | คุนซาน มณฑลเจียงซู จีน (ติดกับเซี่ยงไฮ้) |
| แบบอย่าง | GP-L500-462H |
| ปณิธาน | 3840×2160 |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพจริง | 8.3 ล้านพิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | โฟกัสอัตโนมัติ |
| รูปแบบแสง | 1/1.8" |
| ขนาดพิกเซล | 2.0 ไมโครเมตร × 2.0 ไมโครเมตร |
| วิธีการส่งออก | HDMI + USB3.0 + อินเตอร์เน็ตไร้สาย |
| การแนะนำการทำงานโดยละเอียดที่สอดคล้องกับแต่ละอินเทอร์เฟซเอาต์พุต | 1 HDMI เชื่อมต่อกับจอแสดงผลที่รองรับ 4K รองรับเฟิร์มแวร์ประมวลผลภาพระดับมืออาชีพแบบฝัง
ออโต้โฟกัสที่ขับเคลื่อนด้วยฮาร์ดแวร์, การบันทึกภาพ, การบันทึกวิดีโอ, การวัดขนาด, การเล่นภาพ
และ
การเปรียบเทียบภาพซึ่งควบคุมโดยเมาส์แบบเรียลไทม์ 2. USB 3.0 เชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์พร้อมอุปกรณ์ ซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพระดับมืออาชีพคุณภาพสูงสำหรับการถ่ายภาพ การวัดขนาด ฟิวชั่นระยะชัดลึกและการเย็บภาพ 3 โมดูล WIFI เชื่อมต่อกับแล็ปท็อปหรืออุปกรณ์เคลื่อนที่ เรียลไทม์ การส่งภาพ การถ่ายภาพ และการจัดเก็บผ่านซอฟต์แวร์ที่ตรงกัน |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @ 1920×1080 อินเตอร์เน็ตไร้สาย: 30fps @3840×2160; 60เฟรมต่อวินาที @1920×1080 |
| การสังเคราะห์ระยะชัดลึก | รองรับทั้งเฟิร์มแวร์บนหน้าจอ HDMI และซอฟต์แวร์พีซี |
| การต่อภาพ | รองรับเฉพาะด้านซอฟต์แวร์พีซีเท่านั้น |
| วิธีการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว + การวัดซอฟต์แวร์ PC |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.002-0.005 มม |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (หน่วยสลับได้ 4 หน่วย) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม เรเดียน วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ เพิ่ม การตรวจจับขอบอัตโนมัติ สเกลบาร์ และอื่นๆ |
| วิธีการเก็บรักษา | ที่เก็บข้อมูล U-disk + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ โปรเซสเซอร์ควบคุมหลักสูงสุด 1.4 GHz |
| ระบบปฏิบัติการ | เฟิร์มแวร์การวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| การตั้งชื่อรูปภาพ | มีการตั้งชื่ออัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| กำลังดูหัว | หัวกล้องสามตาแบบบานพับเอียง 30°; ช่วงการปรับระหว่างรูม่านตา: 53 มม. - 75 มม |
| โหมดการสังเกต | สนามสว่าง / การส่องสว่างแบบเฉียง / โพลาไรเซชันแบบง่าย |
| ระบบส่องสว่าง | ระบบไฟส่องเฉพาะจุดแบบสะท้อนแสง, อินพุตแรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240V, เส้นใยแบบปรับได้ ศูนย์, ความเข้มของแสงที่ปรับได้อย่างต่อเนื่อง |
| ยืน | 1 ชั้นวางประเภทการถ่ายภาพ กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเซียลหยาบและละเอียดในตำแหน่งมือต่ำ พร้อมระบบล็อคและ
การจำกัด
อุปกรณ์; ค่าการสำเร็จการศึกษาแบบละเอียด: 0.7 μm ไฟส่องสว่างแบบสะท้อนแสงแบบหลอดฮาโลเจน ② สนามสว่าง ตัวสะท้อนแสงพร้อมการหยุดรูรับแสงแบบปรับได้ การหยุดสนาม และชุดสลับฟิลเตอร์สี 3 สีเหลือง, สีฟ้า, สีเขียว ฟิลเตอร์และแผ่นกระจกฝ้าสำหรับเส้นทางแสงสะท้อน |
| เวทีเครื่องกล | ★เวทีการเคลื่อนย้ายเครื่องกล ขนาดเวที: 280 มม. × 270 มม. ระยะเคลื่อนที่ X-Y: 204 มม. × 204 มม. (ระยะเคลื่อนที่ 8 นิ้ว) แก้ว แผ่นพาหะชิ้นงานสำหรับการสังเกตแสงสะท้อนเท่านั้น เหมาะสำหรับชิ้นงานขนาดใหญ่ |
| แหล่งกำเนิดแสง | หลอดฮาโลเจน 6V 30W (เฉพาะแสงสะท้อน) |
| โพลาไรซ์อย่างง่าย | โพลาไรเซอร์แบบดึงและดัน |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซกล้องโฟกัสคงที่ CTV 1X; CTV 0.5X เป็นอุปกรณ์เสริมพร้อมการชดเชยส่วนต่างราคา |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตามุมกว้าง WF10X/22 มม. จำนวน 2 ชิ้นพร้อมการปรับแก้สายตาแยกกัน |
| จมูก | ★จมูกห้าหลุม Mingchang |
| วัตถุประสงค์ทางโลหการ | ★วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขแบบไม่มีที่สิ้นสุด 1 PL L5X/0.12 ระยะการทำงาน: 26.1 มม ×1ชิ้น 2 PL L10X/0.25 ระยะการทำงาน: 20.2 มม. × 1 ชิ้น 3 PL L20X/0.40 ระยะการทำงาน: 8.80 มม ×1ชิ้น ④ PL L50X/0.70, ระยะการทำงาน: 3.68 มม. ×1 ชิ้น ⑤ PL L80X/0.80, ระยะการทำงาน: 1.25 มม ×1ชิ้น |
| การขยายด้วยแสง | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (สลับได้ห้าระดับ) |
| การขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (สลับได้ห้าระดับ); ช่วงเสริม: 190-3040X |
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – การวิเคราะห์ระดับจุลภาคของเซรามิกอนินทรีย์และวัสดุพลังงานใหม่
สถาบันวิจัยวิศวกรรมกายภาพและเคมีของอุตสาหกรรมนิวเคลียร์ – การสังเกตทางจุลสัณฐานวิทยา & การวิเคราะห์ส่วนประกอบที่มีความแม่นยำสำหรับวัสดุพิเศษ
สถาบันทัศนศาสตร์และกลศาสตร์วิจิตรเซี่ยงไฮ้, CAS – การวิจัยเชิงแสงขั้นสูงและส่วนประกอบทางแสง ลักษณะ
มหาวิทยาลัยชิงหัว – การสอน การสร้างภาพในห้องปฏิบัติการ และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง
สถาบันเทคโนโลยีปักกิ่ง – การวิเคราะห์การวิจัยทางวิทยาศาสตร์สำหรับวัสดุทางการทหารและอุปกรณ์ออปโตอิเล็กทรอนิกส์
DOOV – การตรวจสอบอุปกรณ์มือถือ-การประกอบ หน้าจอและการทดสอบรูปลักษณ์ส่วนประกอบ
A1: พร้อมกับอินเทอร์เฟซ HDMI, USB3.0 และ WIFI รองรับการแสดงผลจอภาพโดยตรงและพีซีแบบมีสาย / ไร้สาย การเชื่อมต่อ
A2: รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ 4K ultra-HD ไฟล์สามารถบันทึกลงใน U-disk ในรูปแบบ FAT32 ได้ภายใน 32 GB ความจุหรือที่เก็บข้อมูลคอมพิวเตอร์ รองรับการวัดความแม่นยำทั้งบนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี พร้อมการประหยัดข้อมูลและ ฟังก์ชั่นรายงานการส่งออก
A3: รองรับฮาร์ดแวร์ออโต้โฟกัส การสังเคราะห์ระยะชัดลึก การเย็บภาพฝั่งพีซี และการพัฒนาขั้นที่สอง ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์, การตรวจสอบส่วนประกอบที่มีความแม่นยำ, การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ การสอน และการตรวจจับที่แม่นยำระดับอุตสาหกรรมระดับสูง
A4: การแก้ไขปัญหาไม่มีภาพ: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟ, สาย HDMI และแหล่งสัญญาณจอภาพ จากนั้นรีสตาร์ทอุปกรณ์ การแก้ไขปัญหาภาพไม่ชัด: ปรับวงล้อปรับโฟกัสแบบแมนนวล วางตัวอย่างให้เรียบและพื้นผิวเลนส์ที่สะอาด เครือข่ายล้มเหลว การแก้ไขปัญหา: ตั้งค่าพีซีและอุปกรณ์ภายในกลุ่ม IP เดียวกัน ปิดไฟร์วอลล์ และเชื่อมต่อสายเคเบิลเครือข่ายอีกครั้ง U-ดิสก์-ข้อผิดพลาด การแก้ไขปัญหา: เปลี่ยนหรือฟอร์แมตดิสก์ U ใหม่ (ต้องเป็น FAT32 และ ≤32 GB)
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 สมาชิกผู้ก่อตั้งของเราสะสม ความรู้ความชำนาญเกี่ยวกับเครื่องมือออพติคัลแบบลงมือปฏิบัติจริงเริ่มต้นในปี 2548 เราให้การสนับสนุนครบวงจรครอบคลุมการออกแบบออพติคอลแบบกำหนดเอง การวิจัยและพัฒนาภายในองค์กร การขายระหว่างประเทศ และบริการหลังการขายและการบำรุงรักษาแบบครบวงจร ของเรา ทีมงานวิศวกรรมที่มีทักษะ มีความเชี่ยวชาญในการพัฒนากล้องจุลทรรศน์มากกว่าสิบปีทำให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพทางเทคนิคที่มั่นคงและ ความสม่ำเสมอของผลิตภัณฑ์ความน่าเชื่อถือ
GAOPIN จัดหาเครื่องมือทดสอบแสงมากกว่า 100 ประเภท เพื่อรองรับลูกค้าในอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการ ทั่วโลก เรามุ่งเน้นที่การนำเสนอโซลูชันการตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์ที่ปรับให้เหมาะสมและยืดหยุ่นและคุ้มค่าแก่ ตอบสนอง ข้อกำหนดการทดสอบที่หลากหลาย
สำหรับผู้ซื้อในต่างประเทศ เราให้การสนับสนุนทางเทคนิคทั่วโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็ว รวมถึงการให้คำปรึกษาออนไลน์ระยะไกล วิดีโอสอนการใช้งานจริงและการฝึกอบรมการใช้งานอุปกรณ์ระยะไกลแบบสด โรงงานผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซูซึ่งมีการคมนาคมสะดวกเข้าถึงเซี่ยงไฮ้ เยี่ยมชมโรงงานและทัวร์เสมือนจริงออนไลน์ ยินดี โปรดติดต่อทีมขายของเราเพื่อขอภาพถ่ายตัวอย่างทดสอบของแท้ที่ถ่ายโดยเกรดการวิจัยนี้ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาพร้อม 4K Ultra HD และโฟกัสอัตโนมัติเพื่อประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพจริง
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
