กล้องจุลทรรศน์โลหการกำลังขยายสูงขนาดใหญ่

GP-L500-300C เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระดับการวิจัยที่มีระยะเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษสำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่ กล้องจุลทรรศน์โลหการกำลังขยายสูงขนาดใหญ่ให้ภาพ 1080P HD เพื่อแสดงรายละเอียดโครงสร้างจุลภาคที่ชัดเจน พอร์ตสามตารองรับการติดตั้งกล้องสำหรับ ขั้นตอนการทำงานด้านการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสังเกตโลหะวิทยาวัสดุขนาดใหญ่ สารกึ่งตัวนำ การตรวจสอบ การวิเคราะห์ชิ้น PCB และสถานการณ์การควบคุมคุณภาพในห้องปฏิบัติการอุตสาหกรรม

ขอบเขตการใช้งาน

กล้องจุลทรรศน์โลหการกำลังขยายสูงขนาดใหญ่นี้เหมาะสำหรับการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ของโครงสร้างจุลภาคทางโลหะวิทยาและสัณฐานวิทยาของพื้นผิว มัน ทำหน้าที่เป็นเครื่องมือวิจัยในอุดมคติสำหรับสาขาวิชาโลหะวิทยา แร่วิทยา และวิศวกรรมความแม่นยำ

ข้อดีการออกแบบที่เป็นเอกลักษณ์

การสร้างภาพ CCD แบบซิงโครนัสแบบรวม

กล้อง HD ในตัวกล้องสามตาเพื่อการรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพ ไมโครอิมเมจแบบเรียลไทม์ HDMI เอาต์พุตรวมเวิร์กโฟลว์การสังเกตและการบันทึกเข้าด้วยกัน

ระบบออปติคัล HD กำลังขยายสูงพิเศษ

กำลังขยายด้วยแสง 50-800X; กำลังขยายดิจิตอลบริสุทธิ์สูงสุดถึง 6080X พร้อมชุดเลนส์ห้าวัตถุ ความแม่นยำ เส้นทางแสงให้รายละเอียดที่คมชัดสำหรับการตรวจสอบไมโครชิปและเวเฟอร์

ระบบโฟกัสแบบแมนนวลที่แม่นยำและราบรื่น

ปุ่มปรับโฟกัสที่มั่นคงซึ่งจับคู่กับชุดกระบอกเลนส์ช่วยให้จับโฟกัสได้อย่างนุ่มนวลและลดการสั่นไหวของภาพ

เวทีขนาดใหญ่พิเศษและฐานโลหะที่มั่นคงสำหรับงานหนัก

แท่นชิ้นงานเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษพร้อมฐานโลหะหนา คงความเสถียรสำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่โดยไม่โยกเยก ในระหว่าง การสังเกตเป็นเวลานาน

ร่างกายระดับมืออาชีพระดับการวิจัย

โครงแข็งสไตล์อินดัสเทรียลสีขาวล้วนสไตล์มินิมอล เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการประชุมเชิงปฏิบัติการเซมิคอนดักเตอร์และมหาวิทยาลัย ห้องปฏิบัติการ

สถานการณ์การใช้งานระดับมืออาชีพที่หลากหลาย

ปรับให้เหมาะสมสำหรับการตรวจสอบชิปและเวเฟอร์ ยังใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา, งานวิจัยวัสดุและประเมินคุณภาพ

การสังเกต การวัด และการจัดเก็บแบบครบวงจร

การจับภาพและวิดีโอ 1080P, การวัดบนหน้าจอที่แม่นยำในตัว, ที่เก็บข้อมูล U-disk การถ่ายภาพดิจิตอลทำให้ไฟล์ง่ายขึ้น งานเก็บถาวร เปรียบเทียบภาพ และงานหลังการวิเคราะห์

ความแตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไป

การดูด้วยกล้องสองตาพร้อมการสังเกตทางอิเล็กทรอนิกส์แบบซิงโครนัส:มุมมองช่องมองภาพและการทำงานของจอภาพ พร้อมกัน กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับเฉพาะการสังเกตช่องมองภาพเท่านั้น อุปกรณ์เสริมกล้องเพิ่มเติมได้แก่ จำเป็นสำหรับเอาต์พุตหน้าจอ

เวทีขนาดใหญ่และกำลังขยายสูงเป็นพิเศษ:กำลังขยายแสงสูงสุดถึง 800X; สูงสุด กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์แบบดิจิตอลบริสุทธิ์ถึง 6080X เวทีเคลื่อนที่ขนาดใหญ่สามารถรองรับตัวอย่างขนาดใหญ่ได้ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาแบบทั่วไปมีขั้นตอนการทำงานขนาดเล็กและมีระบบอิเล็กทรอนิกส์ที่ต่ำกว่า กำลังขยาย

เอาต์พุต HDMI โดยตรง:เชื่อมต่อโดยตรงกับจอภาพผ่านสาย HDMI กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไป ต้องใช้กล้องและการ์ดจับภาพแยกต่างหากสำหรับเอาต์พุตภาพ

การวัดแบบออฟไลน์บนหน้าจอ:การวัดขนาดสามารถทำได้โดยตรงบนจอภาพโดยไม่ต้อง การเชื่อมต่อพีซี กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปอาศัยการตรวจวัดด้วยซอฟต์แวร์ PC เท่านั้น

ที่เก็บข้อมูล U-disk ออฟไลน์:บันทึกรูปภาพและวิดีโอลงใน U-disk โดยไม่ต้องใช้คอมพิวเตอร์ โมเดลแบบดั้งเดิม ต้องเชื่อมต่อกับ PC เพื่อบันทึกภาพ

เส้นทางแสงโลหะโดยเฉพาะ:ปรับให้เหมาะสมสำหรับเม็ดโลหะ การเคลือบ และ การวิเคราะห์โลหะและวัสดุ กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไปขาดเส้นทางแสงพิเศษนี้และไม่สามารถทำได้ เห็นภาพโครงสร้างทางโลหะวิทยา

หลักฐานและความน่าเชื่อถือถึงสถานที่ (การทดสอบจากมือแรก)

กลศาสตร์:โครงโลหะสำหรับงานหนักทั้งตัวเพื่อความแข็งแกร่งสูงและป้องกันการสั่นสะเทือน ความแม่นยำ การโฟกัสแบบหยาบ-ละเอียดแบบโคแอกเซียลพร้อมอุปกรณ์ล็อคและจำกัด ค่าการสำเร็จการศึกษาแบบละเอียด: 0.7 μm รูปแบบขนาดใหญ่ แท่น XY แบบแมนนวลพร้อมการเคลื่อนไหวที่นุ่มนวลและสึกหรอน้อย เส้นทางแสงแบบ Trinocular จะรักษาการจัดตำแหน่งร่วมของแสงเมื่อทำการสลับ วัตถุประสงค์

เลนส์:วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาแผนไม่มีสีที่ได้รับการแก้ไขโดยไม่มีที่สิ้นสุด หลอดฮาโลเจนแบบสะท้อนแสง ไฟส่องสว่างพร้อมความสว่างที่ปรับได้

การถ่ายภาพและการวัด:เซ็นเซอร์ 2 ล้านพิกเซล 1080P HD CMOS, เอาต์พุต HDMI เท่านั้น เฟิร์มแวร์ในตัว การวัดทำงานบนจอภาพ สอบเทียบล่วงหน้าที่โรงงาน พารามิเตอร์ยังคงมีอยู่หลังจากปิดเครื่อง ไม่มีการสอบเทียบรายวัน จำเป็น การบันทึกข้อมูลผ่าน U-disk ที่รองรับเท่านั้น ไม่มีฟังก์ชันการเชื่อมต่อกับพีซี พอร์ต USB และการพัฒนารอง รองรับ GP-L500-300C

คุณภาพและการบำรุงรักษา:การสอบเทียบด้วยแสงและการตรวจสอบประสิทธิภาพการทำงานแบบเต็มรายการจากโรงงาน การตรวจสอบ สามารถจัดทำรายงานและไมโครกราฟตัวอย่างได้เมื่อมีการร้องขอ อย่าแยกชิ้นส่วนโมดูลออปติคัล กันฝุ่นเป็นประจำ การทำความสะอาดจะช่วยยืดอายุการใช้งาน

งานตรวจสอบที่เหมาะสมสำหรับกำลังขยาย 380-6080×

เวเฟอร์และชิปเซมิคอนดักเตอร์ (การใช้งานหลัก):
เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นพิมพ์หิน, ชิป IC, หลอด MOS, PCB, วงจรยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อบัดกรีแบบบรรจุกล่อง
เป้าหมายการตรวจสอบ: วงจรไมโครชิปภายใน, การเคลือบแผ่นเวเฟอร์, ข้อบกพร่องในการแกะสลัก, ฟองบรรจุภัณฑ์, การบัดกรีด้วยความเย็น ข้อต่อ การเกิดออกซิเดชัน และการเสียรูปของพิน

ตัวอย่างโลหะและเครื่องมือตัดฮาร์ดแวร์:
ส่วนที่เป็นโลหะ โลหะผสมเหล็ก ดอกสว่าน หัวกัด ชิ้นส่วนโลหะที่มีการประทับตราอย่างแม่นยำ
เป้าหมายการตรวจสอบ: โครงสร้างเม็ดโลหะ, การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยาด้วยความร้อน, รอยแตกที่พื้นผิวขนาดเล็ก, การบิ่นที่ล้ำสมัย ครีบ ร่องรอยการสึกหรอ และสิ่งสกปรกภายในวัสดุ

ตัวอย่างในห้องปฏิบัติการ: ผง ไฟเบอร์ และฟิล์มบาง:
ผงโลหะ ผงเคมี คาร์บอนไฟเบอร์ เส้นใยสิ่งทอ ฟิล์มเคลือบแสง
สังเกตสัณฐานวิทยาของอนุภาค พื้นผิวของเส้นใย การแยกชั้นของฟิล์ม และโครงสร้างการเคลือบระดับไมโคร

ออปโตอิเล็กทรอนิกส์และส่วนประกอบพลาสติกที่มีความแม่นยำ:
ชิป LED, เลนส์สายตา, ชิ้นส่วนฉีดขึ้นรูป, กาวสำหรับบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
ตรวจจับไมโครรูขุมขน คราบบนพื้นผิว ขอบหยาบ การหลุดร่อน ฟองอากาศ และตำหนิเล็กๆ น้อยๆ จากเครื่องสำอาง

ส่วนประกอบขนาดเล็กที่มีความแม่นยำขนาดใหญ่:
คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับขนาดใหญ่ ชิ้นส่วนขนาดยาว
เวทีเคลื่อนที่ขนาดใหญ่พิเศษรองรับตัวอย่างขนาดใหญ่ การวัดที่แม่นยำระดับพิกเซลสำหรับช่องว่าง เส้นผ่านศูนย์กลางรู ความแตกต่างของความสูงและมิติเชิงเส้น

ห้องทดลองทางวิชาการและโรงงานเซมิคอนดักเตอร์-QC:
การทดลองวิจัยวัสดุ สินค้าขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูปการตรวจสอบแบบเต็มรูปแบบสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ การสังเกตชิ้นงานโลหะและโลหะ การเก็บภาพ/วิดีโอ

วิธีเลือกรุ่นนี้

สำหรับการตรวจสอบตัวอย่างขนาดใหญ่ที่มีระยะเคลื่อนที่กว้างเป็นพิเศษ

แพลตฟอร์มขนาดใหญ่ที่ขยายใหญ่ขึ้นทำให้สามารถสังเกตเวเฟอร์ PCB ขนาดใหญ่ และชิ้นโลหะขนาดใหญ่โดยไม่มีชิ้นงานทดสอบได้เต็มรูปแบบ การตัด เหมาะสำหรับการตรวจสอบชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์-เวเฟอร์ แผงวงจร และส่วนประกอบฮาร์ดแวร์ขนาดใหญ่

สำหรับการวิเคราะห์ระดับจุลภาคของชิปกำลังขยายสูงพิเศษแบบหลายช่วง

กำลังขยายแบบปรับขั้นได้: ออปติคัล 50x-800x; กำลังขยายดิจิตอลสูงสุดถึง 6080X (ซูมดิจิตอลบริสุทธิ์) จับภาพ ลักษณะโดยรวมของชิ้นงานและรายละเอียดที่ละเอียดมาก เช่น วงจรชิป เม็ดโลหะ รอยขีดข่วนขนาดเล็ก และการเคลือบ รูขุมขน เหมาะสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์-R&D

สำหรับการรับชมหลายคนแบบซิงโครนัสด้วยเส้นทางแสงแบบสามตา

เส้นทางแสงแบบซิงโครนัสแบบ Trinocular ช่วยให้สามารถสังเกตได้พร้อมกันผ่านช่องมองภาพแบบสองตาและจอภาพ HDMI เหมาะสำหรับ การอภิปรายร่วมกับทีม R&D การตรวจสอบ QC ซ้ำสองครั้ง และการสอนในห้องปฏิบัติการของมหาวิทยาลัยเพื่อลดการตัดสินที่ผิดพลาด

สำหรับการตั้งค่าเวิร์กสเตชันราคาประหยัดโดยไม่ต้องใช้คอมพิวเตอร์

เอาต์พุต HDMI เดี่ยวพร้อมฟังก์ชันการวัดบนหน้าจอในตัว บันทึกรูปภาพและวิดีโอ 1080P ลงบนโดยตรง เป็นไปตามข้อกำหนด U-ดิสก์ Plug-and-play พร้อมสายไฟที่เรียบง่าย เหมาะกับสถานีตรวจสอบพื้นฐานในโรงงานเซมิคอนดักเตอร์และ วัสดุขนาดเล็ก ห้องปฏิบัติการ

สำหรับการทดสอบทางอุตสาหกรรมที่มีความเสถียรเป็นเวลานานด้วยโครงงานหนัก

ตัวกล้องป้องกันการสั่นสะเทือนในตัวที่มีความหนา พร้อมด้วยการโฟกัสแบบหยาบและละเอียดแบบโคแอกเชียลแบบแมนนวล โฟกัสได้อย่างราบรื่นโดยไม่ต้อง การเลื่อนภาพระหว่างการตรวจสอบอย่างต่อเนื่องเป็นเวลานานหลายชั่วโมง เหมาะสำหรับการทดสอบเวเฟอร์และวงจรขาเข้าจำนวนมากรายวัน บอร์ด และการวิเคราะห์ทางห้องปฏิบัติการตัวอย่างคงที่เป็นเวลานาน

ตัวเลือกการปรับแต่ง

มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ

ภาพรวมเอนทิตีผลิตภัณฑ์

ข้อมูลจำเพาะทางเทคนิค

พันธมิตรและลูกค้าที่เชื่อถือได้

กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:

มหาวิทยาลัยพาณิชยศาสตร์เทียนจิน – การสอนในห้องปฏิบัติการวัสดุ การสร้างภาพขนาดเล็ก และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง

DOOV – การตรวจสอบการประกอบอุปกรณ์มือถือ การทดสอบลักษณะหน้าจอและส่วนประกอบ

GREE Electric Appliances (Hefei) – การวัดขนาดที่แม่นยำและการตรวจสอบข้อบกพร่องสำหรับชิ้นส่วนเครื่องใช้ในบ้าน

Lens Technology Co., Ltd. – การตรวจจับข้อบกพร่องระดับไมโครสำหรับแผ่นครอบกระจกและแผงป้องกันโทรศัพท์

Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับการตัดเฉือนที่มีความแม่นยำ ชิ้นส่วน

Dabo Medical – การวิเคราะห์ทางจุลสัณฐานวิทยาสำหรับอุปกรณ์การแพทย์และวัสดุชีวภาพประเภทการปลูกถ่าย

คำถามที่พบบ่อย

Q1: การกำหนดค่าอินเทอร์เฟซและการเชื่อมต่อคอมพิวเตอร์?

A1: มีเพียงอินเทอร์เฟซ HDMI เท่านั้นที่ได้รับการติดตั้งสำหรับการแสดงผลจอภาพแบบเรียลไทม์

คำถามที่ 2: ข้อมูลเบื้องต้นเกี่ยวกับฟังก์ชันการสร้างภาพ การจัดเก็บ และการวัด

A2: รองรับการบันทึกวิดีโอและภาพถ่ายความละเอียดสูง 1080P สามารถบันทึกไฟล์ลงในดิสก์ U ในรูปแบบ FAT32 ได้ภายใน 32 ความจุกิกะไบต์ เครื่องมือวัดในตัวบนหน้าจอรองรับการมาร์กขนาด การบันทึกข้อมูล และรายงานการวัด ส่งออก

คำถามที่ 3: วิธีการแก้ไขปัญหาทั่วไปเกี่ยวกับภาพและข้อผิดพลาดของฮาร์ดแวร์

A3: การแก้ไขปัญหาไม่มีภาพ: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟ, สาย HDMI และแหล่งสัญญาณจอภาพ จากนั้นรีสตาร์ทอุปกรณ์ การแก้ไขปัญหาภาพไม่ชัด: ปรับวงล้อปรับโฟกัสแบบแมนนวล ล็อคเลนส์ใกล้วัตถุ วางตัวอย่างให้แบนและเลนส์ที่สะอาด พื้นผิว ความล้มเหลวในการรับรู้ดิสก์ U: เปลี่ยนหรือฟอร์แมตดิสก์ U ใหม่ (ต้องเป็น FAT32 และ ≤32 GB)

คำถามที่ 4: สถานการณ์การใช้งานหลักของแอปพลิเคชันคืออะไร

A4: เหมาะสำหรับการสังเกตทางโลหะวิทยา, การวิเคราะห์โลหะ-วัสดุ, การทดสอบผงโลหะวิทยา, การตรวจสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ที่มีความแม่นยำ การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และการทดลองการสอน

เกี่ยวกับ GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นอย่างเป็นทางการในปี 2554 ทีมผู้ก่อตั้งของเราสะสม ประสบการณ์ด้านเทคโนโลยีออพติคอลตั้งแต่ปี 2548 เราเป็นผู้ผลิตอุปกรณ์ตรวจสอบทางอุตสาหกรรม บริการครบวงจร: การออกแบบออพติคอลอิสระ การวิจัยและพัฒนาผลิตภัณฑ์ การขายระหว่างประเทศ และระยะยาว การสนับสนุนหลังการขาย สำหรับกล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม ผู้เชี่ยวชาญด้านวิศวกรรมภายในของเรามีประสบการณ์วิชาชีพมากกว่าสิบปี การพัฒนาเครื่องมือออพติคอลทำให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพทางเทคนิคที่มั่นคงและความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ที่สม่ำเสมอ

GAOPIN จัดหาอุปกรณ์เกี่ยวกับสายตามากกว่าหนึ่งร้อยประเภทให้กับลูกค้าทั่วโลก เราส่งมอบความยืดหยุ่น โซลูชันกล้องจุลทรรศน์แบบกำหนดเองที่คุ้มค่าคุ้มราคา เพื่อตอบสนองการทดสอบทางอุตสาหกรรมและการวิจัยในห้องปฏิบัติการที่หลากหลาย ข้อกำหนด ผู้ซื้อจากต่างประเทศทั่วโลกสามารถรับการสนับสนุนทางเทคนิคที่ตอบสนองอย่างรวดเร็วรวมถึงการให้คำปรึกษาวิดีโอออนไลน์ คำแนะนำการดำเนินงานทีละขั้นตอนและการฝึกอบรมอุปกรณ์ระยะไกล โรงงานของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู (ใกล้กับ เซี่ยงไฮ้) ยินดีเยี่ยมชมโรงงานและทัวร์ออนไลน์เสมือนจริง โปรดติดต่อเราเพื่อทดสอบตัวอย่างจริง ภาพ ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาระดับการวิจัยเพื่อการประเมินคุณภาพการถ่ายภาพ