GP-L200-300C เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยากำลังขยายสูง กล้องจุลทรรศน์โลหการกำลังขยายสูงช่วยให้สามารถสังเกตได้พร้อมกันด้วยกล้องสองตา เลนส์ใกล้ตาและจอแสดงผลภายนอก โหมดสนามสว่างและสนามมืดในตัวพร้อมโคแอกเชียลแนวตั้งที่สม่ำเสมอ ไฟส่องสว่าง, โดยสร้างโครงสร้างจุลภาค เช่น ลายโลหะ สารเคลือบ และรอยแตกร้าวได้อย่างสมจริง รองรับการจับภาพ ภาพถ่าย การเก็บถาวรและการวัดและวิเคราะห์มิติ โดดเด่นด้วยโครงสร้างที่แข็งแกร่ง ใช้งานง่าย และโมดูลาร์ที่ขยายได้ การออกแบบ, เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบคุณภาพอุตสาหกรรม การวิเคราะห์โลหะวิทยาวัสดุ การวิเคราะห์ความล้มเหลว การสอน และ การวิจัยทางวิทยาศาสตร์
กล้องความละเอียดสูงที่รวมเข้ากับกรอบโลหะวิทยาแบบสามตา ช่วยให้สามารถรับชมช่องมองภาพได้พร้อมกันและ การสังเกตหน้าจอดิจิตอลผ่านเอาต์พุต HDMI สำหรับการจับภาพไมโครแบบเรียลไทม์
กำลังขยายแบบออปติคัล 50-500 ×, กำลังขยายสูงสุด 2000 ×แบบดิจิตอล พร้อมกับวัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาระดับมืออาชีพ เลนส์สำหรับการถ่ายภาพที่โปร่งใสและละเอียดอ่อนเพื่อสังเกตโครงสร้างโลหะขนาดเล็ก
กลไกการโฟกัสแบบหยาบและละเอียดแบบโคแอกเซียลให้การโฟกัสที่ราบรื่นและเสถียร และลดการสั่นไหวของภาพได้อย่างมีประสิทธิภาพ
ฐานอะลูมิเนียมหล่อชิ้นเดียวให้การรับน้ำหนักที่มั่นคง ช่วยให้กล้องจุลทรรศน์มีความเสถียรและไม่มีการขยับระหว่างการ การตรวจสอบชิ้นโลหะวิทยาเป็นเวลานาน
ตัวเครื่องสไตล์แล็บสีขาวและน้ำเงินคลาสสิกพร้อมโครงร่างโลหะวิทยาแบบสามตามาตรฐาน สะอาดตาและเป็นมืออาชีพสำหรับ ห้องปฏิบัติการและการประชุมเชิงปฏิบัติการที่มีคุณภาพ
เหมาะสำหรับการวิเคราะห์โลหะ-โลหะวิทยา การตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ การทดสอบวัสดุ การวิจัยในมหาวิทยาลัย และ งานวิเคราะห์ส่วนประกอบ-ความล้มเหลว
ฟังก์ชั่นการวัดความแม่นยำในตัว รองรับการถ่ายภาพ/วิดีโอ 1080P และที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์ ดิจิตอล ภาพ ง่ายต่อการจัดเก็บ เปรียบเทียบ และวิเคราะห์ในขั้นตอนหลังการประมวลผล
การดูด้วยกล้องสองตาและการสังเกตทางอิเล็กทรอนิกส์แบบซิงโครนัส:การซิงโครไนซ์แบบเรียลไทม์ระหว่างช่องมองภาพ และมอนิเตอร์แสดงผล กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปส่วนใหญ่รองรับการสังเกตด้วยช่องมองภาพเท่านั้น กล้องเสริม จำเป็นต้องมีอุปกรณ์เสริมสำหรับเอาต์พุตหน้าจอ
ช่วงการขยายกว้าง:กำลังขยายแบบออปติคอลสูงสุด 500 × และกำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ 2,000 × การสังเกตโครงสร้างจุลภาค รุ่นทั่วไปมีความสามารถในการซูมแบบอิเล็กทรอนิกส์จำกัด
เอาต์พุตตรง HDMI:เชื่อมต่อโดยตรงกับจอภาพผ่าน HDMI จำเป็นต้องใช้กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไป กล้องเพิ่มเติมและการ์ดจับภาพสำหรับเอาต์พุตวิดีโอ
การวัดแบบออฟไลน์ในตัว:การวัดขนาดโดยตรงบนหน้าจอ โลหการธรรมดา กล้องจุลทรรศน์รองรับเฉพาะการวัดโดยใช้ PC โดยไม่มีฟังก์ชันการวัดแบบฝังด้วยฮาร์ดแวร์
ที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์ออฟไลน์:จับภาพและวิดีโอไปยังแฟลชไดรฟ์ USB โดยไม่ต้องใช้คอมพิวเตอร์ รุ่นดั้งเดิมต้องใช้พีซีในการบันทึกภาพ
เส้นทางแสงโลหะโดยเฉพาะ:ปรับให้เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์โลหะ สารเคลือบ และโครงสร้างเกรน กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไปขาดระบบการมองเห็นของโลหะและไม่สามารถสังเกตโครงสร้างจุลภาคของโลหะได้
กล้องจุลทรรศน์แบบเนทีฟใช้กล้องอุตสาหกรรม Full-HD ความละเอียด 1920 × 1080 ซึ่งได้รับการปรับเทียบตามมาตรฐานอย่างสมบูรณ์ ตัวอย่างทดสอบทางโลหะวิทยา สามารถจับขอบเขตของเกรน การแยกชั้นของสารเคลือบ รอยแตกขนาดเล็ก และวัสดุได้อย่างชัดเจน โครงสร้างโลหะวิทยา มอบรายละเอียดที่คมชัดสม่ำเสมอทั่วทั้งขอบเขตการมองเห็น
มาพร้อมกับวัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาไม่มีสีหลายจุดสำหรับกล้องจุลทรรศน์กำลังขยายสูงที่มีความแม่นยำสูง การตรวจจับ การออกแบบกล้องสามตาแบบมืออาชีพช่วยให้สามารถสังเกตแบบคู่พร้อมกันผ่านช่องมองภาพและจอภาพภายนอก อย่างสมบูรณ์แบบ เหมาะสำหรับการวิเคราะห์วัสดุโลหะ การตรวจสอบความหนาของสารเคลือบ การจัดอันดับเกรน และผู้เชี่ยวชาญต่างๆ สถานการณ์การทดสอบทางโลหะวิทยา
ระบบการวัดระดับมืออาชีพในตัวจะซ้อนทับข้อมูลมิติแบบเรียลไทม์บนหน้าจอแสดงผล มันส่งมอบ การวัดที่แม่นยำของตัวบ่งชี้ทางโลหะวิทยาหลัก รวมถึงความหนาของชั้นเคลือบ ความยาวเกรน ความกว้างของรอยแตก และ การเว้นวรรคการแยกส่วน และรองรับคำอธิบายประกอบแบบเรียลไทม์ การเก็บถาวรรูปภาพ และการส่งออกข้อมูลทดสอบ
สร้างด้วยแสงสองเส้นทางที่ส่งและสะท้อน เข้ากันได้กับชิ้นงานโลหะทึบแสงและ โปร่งใสฝัง ตัวอย่าง แท่นกล้องจุลทรรศน์โลหการกำลังขยายสูงที่มีความแม่นยำสูงมีการเคลื่อนที่ของแกน XY ที่ราบรื่นเพื่อการวางตำแหน่งพื้นที่ที่รวดเร็วและแม่นยำ ที่ โครงสร้างโลหะสำหรับงานหนักเต็มรูปแบบรับประกันการทำงานที่มั่นคงและปราศจากการกระวนกระวายใจระหว่างวัสดุอุตสาหกรรมที่มีระยะเวลายาวนาน การตรวจจับ
เซมิคอนดักเตอร์และส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์:ชิป IC, เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นภาพพิมพ์หิน, PCB บอร์ด, บอร์ดยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อประสาน, หมุด เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตวงจรชิปภายใน, เวเฟอร์ การเคลือบ ข้อบกพร่องจากการบัดกรีเย็น การเกิดออกซิเดชัน รอยขีดข่วนของวงจร และการเสียรูปของพิน วิเคราะห์โครงสร้างไมโครสไลซ์ กำลังขยายสูงสุด 2,000 ×
วัสดุโลหะและตัวอย่างทางโลหะวิทยา:ชิ้นโลหะ, ดอกสว่าน, หัวกัด, ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตรา เป้าหมายการตรวจสอบ: การวิเคราะห์โครงสร้างโลหะ-เกรน วัสดุบำบัดความร้อน บัตรประจำตัว; ตรวจจับการบิ่นที่ขอบ รอยแตกขนาดเล็ก ครีบ และความลึกของการเสียดสี
ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ LED และชิ้นส่วนขึ้นรูปพลาสติก:ชิป LED, ชิ้นส่วนพลาสติกเชิงแสง, การฉีดและไดคัท ผลิตภัณฑ์ เป้าหมายการตรวจสอบ: ตรวจสอบรอยบากเล็กๆ คราบบนพื้นผิว ขอบหยาบ อนุภาคขนาดเล็กจากต่างประเทศ การแยกกาวและการปิดผนึกข้อบกพร่องขนาดเล็ก
ส่วนประกอบจิ๋วที่มีความแม่นยำสูง:คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับตราขนาดเล็ก เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตช่องว่างเล็กๆ และความเรียบของหางปลา ทำการวัดความยาวที่แม่นยำระดับพิกเซล เส้นผ่านศูนย์กลางรูและระยะพิทช์
การเก็บถาวร QC ของห้องปฏิบัติการและอุตสาหกรรม:การวิเคราะห์การทดลองทางโลหะวิทยา การตรวจสอบการสุ่มตัวอย่างสินค้าขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูป; การเก็บภาพและวิดีโอเพื่อบันทึกหลักฐานที่มีข้อบกพร่องและ การส่งออกรายงานการควบคุมคุณภาพการวัดอย่างเป็นทางการ
กำลังขยายสูงสุด 500 ×แบบออปติคอล และกำลังขยายแบบดิจิตอล 2000 × เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ระดับจุลภาคของ โครงสร้างโลหะ-โลหะ เวเฟอร์ สารเคลือบ และวัสดุผงสำหรับห้องปฏิบัติการวัสดุและ เซมิคอนดักเตอร์-ขาเข้า-การตรวจสอบ
เส้นทางแสงแบบซิงโครนัสแบบ Trinocular: สังเกตตัวอย่างด้วยช่องมองภาพแบบสองตาขณะส่งออกภาพเพื่อตรวจสอบผ่าน HDMI รองรับการดูพร้อมกันหลายคนสำหรับการฝึกอบรม การสนทนา และตรวจสอบข้อบกพร่องซ้ำอีกครั้ง
ฟังก์ชั่นการวัดความแม่นยำในตัวพร้อมจอแสดงผล HDMI โดยตรง ถ่ายภาพและวิดีโอ Full-HD ที่บันทึกโดยตรง ถึง แฟลชไดรฟ์ USB การวัดและการเก็บภาพถาวรที่ไซต์งานเสร็จสมบูรณ์ด้วยเค้าโครงเวิร์กสเตชันที่เรียบง่าย
เวทีโลหะวิทยามาตรฐานพร้อมเลนส์ใกล้วัตถุหลายตัว เข้ากันได้กับตัวอย่างโลหะ การเคลือบ PCB ชิปเซมิคอนดักเตอร์และไมโครสไลซ์ ใช้กันอย่างแพร่หลายในห้องปฏิบัติการวัสดุ การทดสอบการเคลือบฮาร์ดแวร์ การวิจัยในมหาวิทยาลัย และ QC ชิปอิเล็กทรอนิกส์
การโฟกัสแบบแมนนวลแบบหยาบและละเอียดที่แม่นยำช่วยหลีกเลี่ยงการขยับภาพ โครงสร้างที่มั่นคงแข็งแรงสำหรับการทดสอบในห้องปฏิบัติการเป็นเวลานาน การรับชม Full-HD ในตัว การบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอสำหรับการวิเคราะห์ระดับจุลภาคตามปกติและการตรวจสอบตัวอย่างจำนวนมากอีกครั้ง
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
| เอนทิตี | คำอธิบาย |
| ผลิตภัณฑ์ | GP-L200-300C กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยา กำลังขยายสูง |
| หมวดหมู่ | กล้องจุลทรรศน์ตรวจสอบโลหะวิทยาแบบสามตาอุตสาหกรรม การวัดแบบดิจิทัลกำลังขยายสูง กล้องจุลทรรศน์ |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลการรับชมแบบซิงโครนัส Trinocular, กลุ่มเลนส์ใกล้วัตถุโลหะ, การถ่ายภาพ CMOS แบบ Full-HD, เครื่องมือวัดดิจิตอลในตัว, เอาต์พุตภาพแบบเรียลไทม์ HDMI, ที่เก็บข้อมูลในแฟลชไดรฟ์ USB เทคโนโลยี |
| ข้อมูลจำเพาะที่สำคัญ | การขยายภาพ: 50/100/200/500 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 200/400/800/2000 ×; พอร์ตเอาท์พุต: HDMI; ความละเอียดในการจับภาพ: 1920 × 1080; การโฟกัสแบบแมนนวล การวัดที่แม่นยำในตัว *(0.001 มม. ขนาดเล็กกว่า ความอดทนในการวัดสามารถทำได้ภายใต้กำลังขยายที่สูงขึ้น ผลลัพธ์อาจมีการสอบเทียบ กำลังขยายและสภาวะตัวอย่าง)*; ที่เก็บข้อมูลแฟลชไดรฟ์ USB; รองรับการแสดงตัวอย่างภาพแบบเรียลไทม์ จับภาพและบันทึกวิดีโอบนหน้าจอ **ไม่รองรับพีซี / พอร์ตเครือข่าย USB แฟลชไดรฟ์เท่านั้น รองรับ รูปแบบ FAT32 ความจุสูงสุด 32 GB** |
| การใช้งานทั่วไป | การวิเคราะห์โลหะ-วัสดุ-โลหะ-โครงสร้าง การสังเกตโลหะผสม-เกรน ความหนาของการเคลือบโลหะ การตรวจจับ, การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ - เวเฟอร์, การสังเกตหน้าตัด PCB, การวิจัยวัสดุใหม่ในห้องปฏิบัติการ, ฮาร์ดแวร์-วัสดุ-การควบคุมคุณภาพ |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งผู้ผลิต | คุนซาน มณฑลเจียงซู จีน (ใกล้เซี่ยงไฮ้) |
| แบรนด์สินค้า | เกาปิน |
| รุ่นสินค้า | GP-L200-300C |
| ปณิธาน | 1920 × 1080 (ฟูลเอชดี) |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพ | 2 ล้านพิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | โฟกัสแบบแมนนวล (การปรับโคแอกเชียลหยาบและละเอียด) |
| รูปแบบแสงของเซนเซอร์ | 1/2" |
| ขนาดพิกเซล | 3.75 ไมโครเมตร × 3.75 ไมโครเมตร |
| อินเตอร์เฟซเอาท์พุท | HDMI |
| การแนะนำการทำงานโดยละเอียดที่สอดคล้องกับแต่ละอินเทอร์เฟซเอาต์พุต | 1 HDMI สามารถเชื่อมต่อกับจอแสดงผล 4K, โปรแกรมประมวลผลภาพระดับมืออาชีพแบบฝัง, การรวมฟังก์ชันต่างๆ เช่นออโต้โฟกัส, การบันทึกภาพ, การวัดขนาด, การเล่นภาพ, การเปรียบเทียบภาพ ฯลฯ ด้วย การทำงานของเมาส์แบบเรียลไทม์ |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60 เฟรมต่อวินาที @1920 × 1080 |
| การดำเนินการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.001 มม |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (สลับได้ 4 ทิศทาง) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม รัศมี วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ การตรวจจับขอบอัตโนมัติ, สเกลบาร์ |
| วิธีการจัดเก็บ | แฟลชไดรฟ์ USB |
| โหมดการตั้งชื่อรูปภาพ | การตั้งชื่อไฟล์ภาพอัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A7 ดูอัลคอร์ @ สูงสุด 1.3 GHz |
| ระบบปฏิบัติการเฟิร์มแวร์ | ระบบการวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระซึ่งสร้างขึ้นบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| หัวสังเกตการณ์ | หลอดสังเกตการณ์แบบสามตาเอียง 30° หมุนได้ 360° ปรับระยะห่างระหว่างรูม่านตาได้ |
| วิธีการสังเกต | สนามสว่าง / แสงเฉียง / แสงส่องผ่าน / โพลาไรซ์แบบง่าย |
| ระบบไฟส่องสว่าง | ระบบไฟส่องทางคู่แบบสะท้อนและส่งสัญญาณ แรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240 V; ปรับได้ เส้นใยเป็นศูนย์กลาง ปรับความเข้มของแสงได้อย่างต่อเนื่อง |
| โครงขาตั้ง | ชั้นวางแบบส่งและสะท้อนแบบอเนกประสงค์ กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเซียลหยาบละเอียด การปรับหยาบ โรคหลอดเลือดสมอง 33 มม. ความแม่นยำในการปรับละเอียด 0.002 มม. พร้อมระบบล็อคและลิมิตสต็อป ไฟส่องสว่างของหลอดฮาโลเจน ตัวสะท้อนแสงแบบ Bright-field พร้อมการหยุดรูรับแสงแบบแปรผัน การหยุดแบบ Field-stop และการแปลงฟิลเตอร์สี พร้อมอุปกรณ์ ด้วย ฟิลเตอร์สีน้ำเงินสำหรับการสังเกตแสงสะท้อน |
| แพลตฟอร์มมือถือ | เวทีการเคลื่อนย้ายเชิงกลสองชั้น ขนาดเวที: 140 × 132 มม. จังหวะ X-Y: 76 × 50 มม.; เวทีกระจกสำหรับ การสังเกตที่ส่งและสะท้อนกลับ |
| แหล่งกำเนิดแสง | หลอดฮาโลเจน 6V-30W สำหรับแสงสะท้อน; หลอดฮาโลเจน 6V-30W สำหรับไฟส่องผ่าน |
| ง่าย-โพลาไรซ์ | เม็ดมีดโพลาไรเซอร์ 30° (แสงสะท้อน) + เม็ดมีดวิเคราะห์แบบหมุนได้ 360° สำหรับการสังเกตแบบโพลาไรซ์ |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซ C-mount 0.5X, โฟกัสที่ปรับได้ [ตัวเลือก: 1X C-mount] |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตาสนามแบนขนาดใหญ่จุดสายตาสูง PL10X/18 มม. (เลนส์ใกล้ตา 1 อันที่มีเครื่องหมายสเกล) |
| เลนส์ใกล้วัตถุโลหะ | ★เลนส์ใกล้วัตถุโลหะไม่มีสีสนามแบนระยะการทำงานที่ยาวนาน 1. 5XLMPL5X/0.13WD15.5มม ชิ้น; 2. 10XLMPL10X/0.25 WD8.7มม. 1 ชิ้น 3 20XLMPL20X/0.40 WD8.8mm 1 ชิ้น; ④ 50XLMPL50X/0.60 WD5.1มม. 1 ชิ้น |
| กำลังขยายด้วยแสง | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × ปรับได้สี่ระดับ |
| กำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × ปรับได้สี่ระดับ (ขยายได้ถึง 400-4000 ×) |
ข้อสงวนสิทธิ์:โลโก้และชื่อวิสาหกิจ มหาวิทยาลัย และสถาบันวิจัยที่ปรากฏ เว็บไซต์นี้เท่านั้น ระบุว่าหน่วยงานดังกล่าวได้ซื้อหรือใช้กล้องจุลทรรศน์แบรนด์ GAOPIN รูปร่างหน้าตาของพวกเขาจะต้องไม่เป็นเช่นนั้น ตีความ เป็นการซื้อผลิตภัณฑ์รุ่นเดียวกันนี้ และจะไม่หมายความถึงการรับรองเชิงพาณิชย์ การสร้างแบรนด์ร่วม ความเกี่ยวข้อง หรือ ความร่วมมือในโครงการร่วมกับองค์กรบุคคลที่สามเหล่านี้
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
สถาบันเทคนิคฟิสิกส์และเคมี CAS – การวิจัยด้วยกล้องจุลทรรศน์เกี่ยวกับอุณหภูมิต่ำและฟังก์ชันพิเศษ วัสดุ
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – การทดสอบส่วนประกอบออปโตอิเล็กทรอนิกส์และการวิเคราะห์ความล้มเหลว
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับการตัดเฉือนที่มีความแม่นยำ ชิ้นส่วน
CATL – การตรวจสอบข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับอิเล็กโทรดและเซลล์แบตเตอรี่ลิเธียม
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – การวิจัยเชิงแสงขั้นสูง & การระบุลักษณะเฉพาะของส่วนประกอบทางแสง
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – ลักษณะที่ปรากฏและการตรวจสอบคุณภาพระดับจุลภาคของอุตสาหกรรม ชิ้นส่วนมาตรฐาน
วัตถุประสงค์และช่องมองภาพ:เช็ดเลนส์เบา ๆ ด้วยกระดาษเลนส์และน้ำยาทำความสะอาดเลนส์ อย่าสัมผัสออปติคอล เลนส์ด้วยมือเปล่าหรือใช้กระดาษชำระธรรมดาในการทำความสะอาด
ตัวหลักและเวที:ล้างเศษตัวอย่างและผงโลหะทันที เช็ดตัวเครื่องด้วยก ผ้านุ่มแห้ง หลีกเลี่ยงการกระเด็นของของเหลว ตรวจสอบเป็นประจำว่าสกรูขันแน่นเพื่อป้องกันการเลื่อนที่เกิดจากการ การชนกัน
แหล่งกำเนิดแสงที่ส่งและสะท้อน:ปิดแหล่งกำเนิดแสงเมื่อไม่ได้ใช้งานกล้องจุลทรรศน์ ระเบิด ปัดฝุ่นออกจากหน้าต่างไฟและอย่าสัมผัสหลอดไฟโดยตรง
กลไกการโฟกัสแบบกลไก:อย่าบิดวงล้อปรับโฟกัสด้วยแรงมากเกินไป เลื่อนต่อไป ติดตามสะอาด; อย่าหล่อลื่นมันด้วยตัวเอง
สภาพแวดล้อมในการจัดเก็บ:เก็บในที่แห้งและมีอากาศถ่ายเทสะดวกเพื่อป้องกันความชื้นและเชื้อรา ครอบคลุม อุปกรณ์ที่มีฝาปิดกันฝุ่นหลังการใช้งาน
A1: รองรับเอาต์พุต HDMI ความละเอียดสูงเท่านั้น มันทำงานอย่างอิสระกับจอภาพโดยไม่ต้องเชื่อมต่อกับคอมพิวเตอร์ นำเสนอการใช้งานที่เรียบง่ายสำหรับสถานการณ์การตรวจจับที่แม่นยำต่างๆ
A2: รองรับการบันทึกภาพถ่ายและวิดีโอ Full-HD สามารถบันทึกไฟล์ผ่านแฟลชไดรฟ์ USB ฟอร์แมต FAT32 สูงสุด 32 GB การวัดบนหน้าจอที่แม่นยำในตัวรองรับการทำเครื่องหมายขนาด การเก็บถาวรข้อมูล และการส่งออกรายงาน
A3: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟและอะแดปเตอร์ ยึดสาย HDMI และสลับไปยังช่องสัญญาณที่ถูกต้อง รีสตาร์ทอุปกรณ์ ถึง แก้ปัญหาจอดำ ไม่มีภาพ และหน้าจอกระพริบ
A4: ใช้การออกแบบโฟกัสแบบแมนนวลที่แม่นยำ ค่อยๆ ปรับวงล้อโฟกัสเพื่อให้ได้ภาพที่ชัดเจน วางตัวอย่าง แบน และทำความสะอาดฝุ่นเลนส์ รอยนิ้วมือ และคราบสกปรกอย่างสม่ำเสมอเพื่อให้ภาพคมชัดและโปร่งใส
A5: อุปกรณ์นี้ไม่รองรับการเชื่อมต่อคอมพิวเตอร์หรือฟังก์ชันพอร์ตเครือข่าย ด้วยระบบปฏิบัติการอิสระในตัว ระบบสามารถถ่ายภาพ บันทึก วัด และจัดเก็บได้โดยตรงผ่านการเชื่อมต่อจอภาพ
A6: รองรับเฉพาะแฟลชไดรฟ์ USB ในรูปแบบ FAT32 ที่มีขนาดไม่เกิน 32 GB เท่านั้น รูปแบบ NTFS และ exFAT เข้ากันไม่ได้ เสียบปลั๊กอีกครั้ง หรือ ฟอร์แมตแฟลชไดรฟ์ USB หรือแทนที่ด้วยแฟลชไดรฟ์ USB ที่รองรับสำหรับการจัดเก็บไฟล์ตามปกติ
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นในปี 2554 ซึ่งผู้ก่อตั้งได้สั่งสมความเชี่ยวชาญในอุตสาหกรรมมาตั้งแต่ปี 2005 เป็นองค์กรที่มุ่งเน้นเทคโนโลยีซึ่งเชี่ยวชาญด้านการออกแบบ R&D การขายและบริการหลังการขายของอุตสาหกรรม กล้องจุลทรรศน์ ทีมวิศวกรหลักของเรานำประสบการณ์เฉพาะทางมามากกว่าสิบปี เพื่อรับประกันเทคโนโลยีที่สมบูรณ์ และ คุณภาพที่เชื่อถือได้ ด้วยโมเดลผลิตภัณฑ์ออพติคัลมากกว่าหนึ่งร้อยรุ่นและฐานลูกค้าทั่วโลก GAOPIN อย่างต่อเนื่อง นำเสนอโซลูชันกล้องจุลทรรศน์ที่ออกแบบตามความต้องการและคุ้มค่า เราให้การสนับสนุนทางเทคนิคระดับโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็วผ่านทาง การประชุมออนไลน์ คำแนะนำผ่านวิดีโอ และการฝึกอบรมทางไกล ฐานการผลิตของเราตั้งอยู่ที่ คุนซาน มณฑลเจียงซู (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้) มีทั้งการตรวจสอบโรงงานในสถานที่และการทัวร์ชมโรงงานเสมือนจริง ลูกค้า โปรดติดต่อเราเพื่อขอภาพทดสอบตัวอย่างที่ถ่ายด้วยกำลังขยายสูง GP-L200-300C นี้ โลหะวิทยา กล้องจุลทรรศน์เพื่อประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพโดยตรง
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
