เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวิเคราะห์ข้อบกพร่องของวัสดุและขั้นตอนการตรวจสอบคุณภาพ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยากำลังขยายสูง 4K Ultra HD นี้เป็นกำลังขยายสูงที่แข่งขันได้ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาพร้อม 4K Ultra HD การดูแบบคู่ผ่านช่องมองภาพแบบสองตาและจอภาพภายนอกช่วยให้ได้ ตรวจสอบทีมงานที่สะดวก การถ่ายโอนข้อมูลแบบไร้สายสามารถทำได้โดยการเสียบอะแดปเตอร์ไร้สายเข้ากับพอร์ต USB แสงโคแอกเซียลที่สม่ำเสมอพร้อมกับโหมดสนามสว่างและสนามมืดให้การมองเห็นที่คมชัดสำหรับเมล็ดพืช การเคลือบ รอยแตก และข้อบกพร่องเล็กๆ อื่นๆ ฟังก์ชั่นจับภาพและการวิเคราะห์การวัดในตัวปรับปรุงประสิทธิภาพ ขั้นตอนการตรวจสอบ ตัวเครื่องป้องกันการสั่นสะเทือนช่วยรักษาคุณภาพของภาพที่สม่ำเสมอ รูปแบบโมดูลาร์ที่เป็นมิตรต่อการอัพเกรด ตัด การลงทุนด้านฮาร์ดแวร์ในอนาคต
กล้อง 4K ที่รวมเข้ากับกรอบโลหะวิทยาแบบสามตา รองรับช่องมองภาพและการดูหน้าจอพร้อมกัน คู่ เอาต์พุตของพอร์ต HDMI + Gigabit-LAN เพื่อจับภาพไมโครภาพ Ultra-HD แบบเรียลไทม์
กำลังขยายด้วยแสง 50-500 ×, กำลังขยายดิจิตอลสูงสุด 2000 × เส้นทางแสงที่แม่นยำกับมืออาชีพ วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาให้ภาพพื้นผิวโลหะขนาดเล็กที่คมชัด
ชุดโฟกัสแบบหยาบและละเอียดในตัวช่วยให้โฟกัสได้อย่างราบรื่นและมั่นคง ลดการสั่นไหวของภาพได้อย่างมากในระหว่างนั้น การสังเกต
ฐานอะลูมิเนียมหล่อแบบชิ้นเดียวช่วยให้ตัวเครื่องมีความสมดุล ไม่มีการโยกเยกหรือเลื่อนระหว่างการตรวจสอบชิ้นส่วนเป็นเวลานาน และ งานสังเกตวัสดุ
ตัวถังสไตล์การวิจัยสีขาวและน้ำเงินคลาสสิกพร้อมรูปแบบโลหะวิทยาแบบสามตามาตรฐาน สะอาดตาและเรียบง่ายสำหรับ ห้องปฏิบัติการและการประชุมเชิงปฏิบัติการการตรวจสอบคุณภาพ
เหมาะสำหรับการวิเคราะห์โลหะ-โลหะวิทยา, การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์-เวเฟอร์, การวิเคราะห์ความล้มเหลวของวัสดุ, งานการสอนการวิจัยและการทดสอบคุณภาพองค์ประกอบในมหาวิทยาลัย
ถ่ายภาพและวิดีโอ 4K (3840 × 2160) มีการวัดบนหน้าจอในตัวและการวัดโดยใช้ซอฟต์แวร์พีซี ใช้ได้; ที่เก็บข้อมูลแบบคู่ผ่านแฟลชไดรฟ์ USB และคอมพิวเตอร์ รองรับการพัฒนารองเพื่อความสะดวก การเก็บภาพ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์ข้อมูลเชิงลึก
การดูด้วยกล้องสองตาและการสังเกตทางอิเล็กทรอนิกส์แบบซิงโครนัส:การแสดงผลแบบซิงโครไนซ์ระหว่างช่องมองภาพและ จอภาพ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับการดูเฉพาะช่องมองภาพเท่านั้น จำเป็นต้องมีอุปกรณ์เสริมกล้องเพิ่มเติม สำหรับเอาต์พุตหน้าจอ
การถ่ายภาพความละเอียดสูงพิเศษ 4K:ความละเอียด 3840 × 2160 4K สำหรับการสร้างโครงสร้างจุลภาคแบบละเอียด กล้องโลหะวิทยาทั่วไปส่วนใหญ่เป็น 1080P และมีความคมชัดจำกัด
อินเทอร์เฟซเอาต์พุตคู่:พอร์ต HDMI + Gigabit-LAN โดยทั่วไปแล้วอุปกรณ์โลหะวิทยาแบบดั้งเดิมเท่านั้น เชื่อมต่อกับพีซีโดยไม่ต้องใช้พอร์ตเครือข่ายเพื่อรวมอุปกรณ์
โหมดการวัดแบบคู่:การวัดในตัวแบบออฟไลน์บนจอภาพบวกกับการวัดบนซอฟต์แวร์พีซี กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับเฉพาะการวัดด้าน PC เท่านั้น โดยไม่มีฟังก์ชันการวัดแบบฝังด้วยฮาร์ดแวร์
โหมดการจัดเก็บข้อมูลแบบคู่:ที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์แบบออฟไลน์และที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี มีการบันทึกข้อมูล มีหรือไม่มีคอมพิวเตอร์ รุ่นทั่วไปต้องใช้พีซีในการบันทึกภาพ
รองรับการพัฒนารอง:พอร์ต Gigabit-LAN ช่วยให้สามารถรวมระบบได้ การใช้งานสายการผลิตอัตโนมัติ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปไม่สนับสนุนการพัฒนาขั้นทุติยภูมิ บูรณาการ
เส้นทางแสงโลหะโดยเฉพาะ:ปรับให้เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์โลหะ สารเคลือบ และโครงสร้างเกรน กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไปขาดเส้นทางแสงของโลหะวิทยาโดยเฉพาะและไม่สามารถสังเกตได้จากโลหะวิทยา โครงสร้างจุลภาค
มาพร้อมกับกล้องอุตสาหกรรมแบบเนทีฟ 4K (3840 × 2160) และปรับเทียบมาตรฐานอย่างมืออาชีพ ชิ้นงานทดสอบทางโลหะวิทยา ระบบจะสร้างภาพที่คมชัดเป็นพิเศษและมีโฟกัสสม่ำเสมอ มันคืนค่าได้อย่างแม่นยำ ซับซ้อน โครงสร้างระดับจุลภาค ได้แก่ ขอบเขตของเกรน การเคลือบแบบชั้น และการแตกหักแบบไมโครที่มีความคมสม่ำเสมอ ตรงกลางถึงขอบ
กำหนดค่าด้วยวัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาที่ไม่มีสีหลายรายการสำหรับการวิเคราะห์ระดับจุลภาคที่มีกำลังขยายสูง มุมมองคู่ การออกแบบแบบสามตารองรับการดูช่องมองภาพแบบซิงโครนัสและการแสดงผลจอภาพดิจิตอล เหมาะสำหรับอุตสาหกรรมอย่างสมบูรณ์แบบ สถานการณ์ต่างๆ เช่น การระบุวัสดุโลหะ การตรวจสอบความหนาผิวเคลือบ และการจัดเกรดคุณภาพเกรน
อัลกอริธึมการวัดระดับมืออาชีพในตัวช่วยให้สามารถซ้อนทับข้อมูลบนหน้าจอและมีความแม่นยำสูง การวัดทางโลหะวิทยา โดยครอบคลุมตัวบ่งชี้สำคัญหลายประการ รวมถึงความหนาของชั้นเคลือบ ความยาวเกรน ความกว้างของรอยแตกร้าว และระยะห่างระหว่างชั้น ในขณะที่ รองรับคำอธิบายประกอบแบบเรียลไทม์ การเก็บถาวรรูปภาพ และการทดสอบ-การส่งออกข้อมูล เข้ากันได้กับการซ้อนระยะชัดลึกและ ฟังก์ชั่นการเย็บภาพ
การส่องสว่างแบบส่งและสะท้อนแบบสองเส้นทางรับประกันแสงที่เหมาะสมสำหรับชิ้นงานประเภทต่างๆ ที่ เวทีแบบเคลื่อนย้ายได้ที่มีความแม่นยำสูงช่วยให้มั่นใจได้ถึงการวางตำแหน่งภาคสนามที่ยืดหยุ่นและแม่นยำ เสริมความแข็งแรงด้วยโลหะทั้งตัวได้อย่างมีประสิทธิภาพ ขจัดการสั่นสะเทือน มอบประสิทธิภาพที่มั่นคงสำหรับการตรวจจับวัสดุเป็นชุดที่มีระยะเวลายาวนาน
เซมิคอนดักเตอร์และส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์:ชิป IC, เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นภาพพิมพ์หิน, PCB บอร์ด, บอร์ดยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อประสาน, หมุด เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตวงจรชิปภายใน, เวเฟอร์ การเคลือบ ข้อบกพร่องจากการบัดกรีเย็น การเกิดออกซิเดชัน รอยขีดข่วนของวงจร และการเสียรูปของพิน วิเคราะห์โครงสร้างไมโครสไลซ์ กำลังขยายสูงสุด 2,000 ×
วัสดุโลหะและตัวอย่างทางโลหะวิทยา:ชิ้นโลหะ, ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตรา เป้าหมายการตรวจสอบ: การวิเคราะห์โครงสร้างโลหะ-เกรน การบำบัดความร้อน-การระบุวัสดุ ตรวจจับ การบิ่นที่ขอบ รอยแตกขนาดเล็ก ครีบ และความลึกของการเสียดสี
ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ LED และชิ้นส่วนขึ้นรูปพลาสติก:ชิป LED, ชิ้นส่วนพลาสติกเชิงแสง, การฉีดและไดคัท ผลิตภัณฑ์ เป้าหมายการตรวจสอบ: ตรวจสอบรอยบากเล็กๆ คราบบนพื้นผิว ขอบหยาบ อนุภาคขนาดเล็กจากต่างประเทศ การแยกกาวและการปิดผนึกข้อบกพร่องขนาดเล็ก
ส่วนประกอบจิ๋วที่มีความแม่นยำสูง:คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับตราขนาดเล็ก เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตช่องว่างเล็กๆ และความเรียบของหางปลา ทำการวัดความยาวที่แม่นยำระดับพิกเซล เส้นผ่านศูนย์กลางรูและระยะพิทช์
การเก็บถาวร QC ของห้องปฏิบัติการและอุตสาหกรรม:Metallographic-ชิ้น-การทดลอง-การวิเคราะห์ การตรวจสอบการสุ่มตัวอย่างสินค้าขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูป; การเก็บภาพและวิดีโอเพื่อบันทึกหลักฐานที่มีข้อบกพร่องและ การส่งออกรายงานการควบคุมคุณภาพการวัดอย่างเป็นทางการ
ช่วงการขยายด้วยแสง 50 ×-500 ×, กำลังขยายดิจิตอลสูงสุดถึง 2000 ×, ด้วย Native 3840 × 2160 4K ความละเอียด โดยจะแสดงพื้นผิวทางโลหะวิทยา การเคลือบเศษ และเม็ดเล็กๆ อย่างชัดเจน เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ระดับจุลภาค โครงสร้างโลหะ-โลหะวิทยา เวเฟอร์ สารเคลือบ และวัสดุผงสำหรับห้องปฏิบัติการวัสดุและสารกึ่งตัวนำขาเข้า- การตรวจสอบ
ทางเดินแสงแบบ Trinocular ช่วยให้สามารถรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพแบบสองตาและจอภาพ ผู้ประกอบการหลายรายสามารถทำได้ ตรวจสอบ เก็บตัวอย่างขนาดเล็กไว้ด้วยกัน เหมาะสำหรับการฝึกอบรมในมหาวิทยาลัยและการตรวจสอบข้อบกพร่องในโรงงานซ้ำซ้อน
มาพร้อมพอร์ต HDMI + Gigabit-LAN HDMI เชื่อมต่อจอภาพเพื่อการรับชมในสถานที่ รองรับพอร์ต LAN เครือข่ายท้องถิ่น การเข้าถึงสำหรับการเข้าถึงรูปภาพจากระยะไกลและการตรวจสอบแบบหลายสถานีแบบซิงโครนัส ทำให้เกิดการจัดการอุปกรณ์แบบรวมศูนย์ สำหรับ ห้องปฏิบัติการขนาดใหญ่
โซลูชันการวัดสองแบบ: การวัดบนหน้าจอในตัวและการวัดบนซอฟต์แวร์พีซี สองวิธีในการจัดเก็บ: USB ที่เก็บข้อมูลแฟลชไดรฟ์และการเก็บถาวรคอมพิวเตอร์ ข้อมูลที่วัดได้และภาพ 4K สามารถส่งออกไปยังรายงาน QC และ อุปกรณ์ รองรับการพัฒนารองเพื่อบูรณาการสายการผลิต
เวทีโลหะวิทยามาตรฐานพร้อมเลนส์ใกล้วัตถุหลายอันเหมาะกับตัวอย่างโลหะ เวเฟอร์ ชิ้นเคลือบ และ ชิ้นส่วนไมโครอิเล็กทรอนิกส์ การโฟกัสแบบแมนนวลแบบโคแอกเซียลหยาบและละเอียดที่มีความแม่นยำพร้อมตัวกล้องที่มั่นคง ใช้กันอย่างแพร่หลายในการสอน, การตรวจสอบขาเข้าและการวิจัยวัสดุใหม่
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
| เอนทิตี | คำอธิบาย |
| ผลิตภัณฑ์ | GP-L200-324K กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยากำลังขยายสูง 4K พร้อม 4K Ultra HD |
| หมวดหมู่ | กล้องจุลทรรศน์โลหะ 4K สำหรับการตรวจสอบและการวัดกำลังขยายสูงแบบ Trinocular อุตสาหกรรม |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลสังเกตการณ์แบบซิงโครนัสแบบ Trinocular, กลุ่มเลนส์ใกล้วัตถุโลหะวิทยาระดับมืออาชีพ, 4K การถ่ายภาพ CMOS ความละเอียดสูงพิเศษ, ระบบการวัดแบบดิจิตอลคู่ (บนหน้าจอและซอฟต์แวร์พีซี), HDMI + การส่งสัญญาณคู่ Gigabit-LAN, เทคโนโลยีการจัดเก็บข้อมูลคู่, รองรับระบบเปิด การพัฒนารอง |
| ข้อมูลจำเพาะที่สำคัญ | การขยายภาพ: 50/100/200/500 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 200/400/800/2000 ×; เอาต์พุตคู่: HDMI + กิกะบิต LAN; ความละเอียดในการจับภาพ 4K 3840 × 2160; โฟกัสแบบแมนนวล; โหมดการวัดแบบคู่: ในตัว การวัดบนอุปกรณ์ + การวัดซอฟต์แวร์พีซีระดับมืออาชีพ *(0.001 มม. ความคลาดเคลื่อนในการวัดน้อยลง สามารถ สามารถทำได้ภายใต้กำลังขยายที่สูงขึ้น ผลลัพธ์ขึ้นอยู่กับการสอบเทียบ การขยาย และตัวอย่าง เงื่อนไข)*; พื้นที่เก็บข้อมูลคู่: พื้นที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์ในตัวเครื่อง + พื้นที่จัดเก็บไฟล์คอมพิวเตอร์ ขั้วมอนิเตอร์ รองรับการแสดงตัวอย่างรูปภาพ การวัดขนาด จับภาพ และบันทึกไฟล์ รองรับเทอร์มินัลพีซี การวัดและการเก็บถาวรภาพ เข้ากันได้กับการบูรณาการขั้นทุติยภูมิ |
| การใช้งานทั่วไป | การวิเคราะห์โครงสร้างโลหะ-โลหะ, โลหะผสม-เกรน-&-วัสดุ-พื้นผิว-การสังเกต การวัดความหนาเคลือบ, การตรวจจับเซมิคอนดักเตอร์, เวเฟอร์, การตรวจสอบหน้าตัด PCB, ความแม่นยำ - ฮาร์ดแวร์ - ความล้มเหลว - การวิเคราะห์, มหาวิทยาลัย - ห้องปฏิบัติการ - วัสดุ - การวิจัย, ใหม่-พลังงาน-วัสดุ-คุณภาพ- การทดสอบ |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งผู้ผลิต | คุนซาน มณฑลเจียงซู จีน (ใกล้เซี่ยงไฮ้) |
| แบรนด์สินค้า | เกาปิน |
| รุ่นสินค้า | GP-L200-324K |
| ปณิธาน | 3840 × 2160 (4K) |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพ | 8.3 ล้านพิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | โฟกัสแบบแมนนวล (การปรับโคแอกเชียลหยาบและละเอียด) |
| รูปแบบแสงของเซนเซอร์ | 1/1.7" |
| ขนาดพิกเซล | 1.85 ไมโครเมตร × 1.85 ไมโครเมตร |
| อินเตอร์เฟซเอาท์พุท | HDMI + Gigabit-LAN |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60 เฟรมต่อวินาที @3840 × 2160 พอร์ต LAN: 20 เฟรมต่อวินาที @1920 × 1080 |
| การดำเนินการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว + การวัดโดยใช้ซอฟต์แวร์ PC |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.001 มม. *(ความคลาดเคลื่อนในการวัดลดลงได้ภายใต้กำลังขยายที่สูงขึ้น ผลลัพธ์ขึ้นอยู่กับ การสอบเทียบ การขยาย และสภาวะตัวอย่าง)* |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (สลับได้ 4 ทิศทาง) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม รัศมี วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ การตรวจจับขอบอัตโนมัติ, สเกลบาร์ |
| วิธีการจัดเก็บ | USB แฟลชไดรฟ์ + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี |
| โหมดการตั้งชื่อรูปภาพ | การตั้งชื่อไฟล์ภาพอัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1.4 GHz โปรเซสเซอร์ควบคุมหลัก |
| ระบบปฏิบัติการเฟิร์มแวร์ | ระบบการวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระซึ่งสร้างขึ้นบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| หัวสังเกตการณ์ | หลอดสังเกตการณ์แบบสามตาเอียง 30° หมุนได้ 360° ปรับระยะห่างระหว่างรูม่านตาได้ |
| วิธีการสังเกต | สนามสว่าง / แสงเฉียง / แสงส่องผ่าน / โพลาไรซ์แบบง่าย |
| ระบบไฟส่องสว่าง | ระบบไฟส่องทางคู่แบบสะท้อนและส่งสัญญาณ แรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240 V; ปรับได้ เส้นใยเป็นศูนย์กลาง ปรับความเข้มของแสงได้อย่างต่อเนื่อง |
| โครงขาตั้ง | ชั้นวางแบบส่งและสะท้อนแบบอเนกประสงค์ กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเซียลหยาบละเอียด การปรับหยาบ โรคหลอดเลือดสมอง 33 มม. ความแม่นยำในการปรับละเอียด 0.002 มม. พร้อมระบบล็อคและลิมิตสต็อป ไฟส่องสว่างของหลอดฮาโลเจน ตัวสะท้อนแสงแบบ Bright-field พร้อมการหยุดรูรับแสงแบบแปรผัน การหยุดแบบ Field-stop และการแปลงฟิลเตอร์สี พร้อมอุปกรณ์ ด้วย ฟิลเตอร์สีน้ำเงินสำหรับการสังเกตแสงสะท้อน |
| แพลตฟอร์มมือถือ | เวทีการเคลื่อนย้ายเชิงกลสองชั้น ขนาดเวที: 140 × 132 มม. จังหวะ X-Y: 76 × 50 มม.; เวทีกระจกสำหรับ การสังเกตที่ส่งและสะท้อนกลับ |
| แหล่งกำเนิดแสง | หลอดฮาโลเจน 6V-30W สำหรับแสงสะท้อน; หลอดฮาโลเจน 6V-30W สำหรับไฟส่องผ่าน |
| ง่าย-โพลาไรซ์ | เม็ดมีดโพลาไรเซอร์ 30° (แสงสะท้อน) + เม็ดมีดวิเคราะห์แบบหมุนได้ 360° สำหรับการสังเกตแบบโพลาไรซ์ |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซ C-mount 0.5X, โฟกัสที่ปรับได้ [ตัวเลือก: 1X C-mount] |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตาสนามแบนขนาดใหญ่จุดสายตาสูง PL10X/18 มม. (เลนส์ใกล้ตา 1 อันที่มีเครื่องหมายสเกล) |
| เลนส์ใกล้วัตถุโลหะ | วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาไม่มีสีในสนามแบนระยะไกลในการทำงาน: 5X / 0.13 WD15.5 มม.; 10X / 0.25 WD8.7 มม.; 20X / 0.40 WD8.8 มม.; 50X / 0.60 WD5.1 มม |
| กำลังขยายด้วยแสง | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × ปรับได้สี่ระดับ |
| กำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × ปรับได้สี่ระดับ (ขยายได้ถึง 400-4000 ×) |
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับการตัดเฉือนที่มีความแม่นยำ ชิ้นส่วน
สถาบันวิจัยวิศวกรรมกายภาพและเคมีของอุตสาหกรรมนิวเคลียร์ – การสังเกตทางสัณฐานวิทยาขนาดเล็ก & การวิเคราะห์ส่วนประกอบที่แม่นยำของวัสดุพิเศษ
DOOV – การตรวจสอบอุปกรณ์มือถือ-การประกอบ หน้าจอและการทดสอบรูปลักษณ์ส่วนประกอบ
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – การวิจัยเชิงแสงขั้นสูง & การระบุลักษณะเฉพาะของส่วนประกอบทางแสง
มหาวิทยาลัยชิงหัว – การสอน การสร้างภาพในห้องปฏิบัติการ และการเก็บถาวรข้อมูลเชิงทดลอง
สถาบันเทคโนโลยีปักกิ่ง – การวิเคราะห์การวิจัยทางวิทยาศาสตร์สำหรับวัสดุเกรดทหารและ อุปกรณ์ออปโตอิเล็กทรอนิกส์
วัตถุประสงค์และช่องมองภาพ:เช็ดเลนส์เบา ๆ ด้วยกระดาษเลนส์และน้ำยาทำความสะอาดเลนส์ อย่าสัมผัสออปติคอล เลนส์ด้วยมือเปล่าหรือใช้กระดาษชำระธรรมดาในการทำความสะอาด
ตัวหลักและเวที:ล้างเศษตัวอย่างและผงโลหะทันที เช็ดตัวเครื่องด้วยก ผ้านุ่มแห้ง หลีกเลี่ยงการกระเด็นของของเหลว ตรวจสอบเป็นประจำว่าสกรูขันแน่นเพื่อป้องกันการเลื่อนที่เกิดจากการ การชนกัน
แหล่งกำเนิดแสงที่ส่งและสะท้อน:ปิดแหล่งกำเนิดแสงเมื่อไม่ได้ใช้งานกล้องจุลทรรศน์ ระเบิด ปัดฝุ่นออกจากหน้าต่างไฟและอย่าสัมผัสหลอดไฟโดยตรง
กลไกการโฟกัสแบบกลไก:อย่าบิดวงล้อปรับโฟกัสด้วยแรงมากเกินไป เลื่อนต่อไป ติดตามสะอาด; อย่าหล่อลื่นมันด้วยตัวเอง
สภาพแวดล้อมในการจัดเก็บ:เก็บในที่แห้งและมีอากาศถ่ายเทสะดวกเพื่อป้องกันความชื้นและเชื้อรา ครอบคลุม อุปกรณ์ที่มีฝาปิดกันฝุ่นหลังการใช้งาน
A1: กำลังขยายภาพ 50-500 × และกำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ 200-2000 × ช่องมองภาพและจอภาพ การสังเกตแบบซิงโครนัสมีไว้สำหรับการตรวจสอบตามปกติและการตรวจสอบความแม่นยำ
A2: รองรับเอาต์พุตวิดีโอ HDMI และการเชื่อมต่อพอร์ต Gigabit-LAN สามารถทำงานได้อย่างอิสระด้วยจอภาพหรือเชื่อมต่อ ถึงก PC ผ่าน LAN สำหรับการส่งภาพและการควบคุมซอฟต์แวร์
A3: รองรับการถ่ายภาพ 4K การบันทึกวิดีโอ และการวัดที่มีความแม่นยำสูง ซอฟต์แวร์ที่ตรงกันจะรับรู้ ความชัดลึก การซ้อนและการเย็บภาพ รองรับแฟลชไดรฟ์ USB และที่เก็บข้อมูลพีซี ส่งออกรายงาน และการพัฒนารอง
A4: ภาพพร่ามัวเกิดจากตัวอย่างที่ไม่สม่ำเสมอ กำลังขยายสูง เลนส์มีฝุ่น หรือการโฟกัสที่ไม่เหมาะสม แผ่ตัวอย่าง ลด กำลังขยาย ทำความสะอาดเลนส์ และปรับโฟกัสเพื่อภาพที่คมชัด
A5: ไม่มีภาพ HDMI: ตรวจสอบแหล่งจ่ายไฟ การเชื่อมต่อสายเคเบิล และแหล่งสัญญาณจอภาพ จากนั้นรีสตาร์ทอุปกรณ์ การเชื่อมต่อ LAN- ความล้มเหลว: ให้พีซีและอุปกรณ์อยู่ในส่วนเครือข่ายเดียวกัน ปิดไฟร์วอลล์ และตรวจสอบการตั้งค่า IP
A6: เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา ชิป อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีความแม่นยำสูง ผงโลหะวิทยา และการทดสอบเส้นใย เหมาะสำหรับ การตรวจสอบคุณภาพอุตสาหกรรม การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และการสอน
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นในปี 2554 ซึ่งผู้ก่อตั้งได้สั่งสมความเชี่ยวชาญในอุตสาหกรรมมาตั้งแต่ปี 2005 เป็นองค์กรที่มุ่งเน้นเทคโนโลยีซึ่งเชี่ยวชาญด้านการออกแบบ R&D การขายและบริการหลังการขายของอุตสาหกรรม กล้องจุลทรรศน์ ทีมวิศวกรหลักของเรานำประสบการณ์เฉพาะทางมามากกว่าสิบปี เพื่อรับประกันเทคโนโลยีที่สมบูรณ์ และ คุณภาพที่เชื่อถือได้ ด้วยโมเดลผลิตภัณฑ์ออพติคัลมากกว่าหนึ่งร้อยรุ่นและฐานลูกค้าทั่วโลก GAOPIN อย่างต่อเนื่อง นำเสนอโซลูชันกล้องจุลทรรศน์ที่ออกแบบตามความต้องการและคุ้มค่า เราให้การสนับสนุนทางเทคนิคระดับโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็วผ่านทาง การประชุมออนไลน์ คำแนะนำผ่านวิดีโอ และการฝึกอบรมทางไกล ฐานการผลิตของเราตั้งอยู่ที่ คุนซาน มณฑลเจียงซู (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้) มีทั้งการตรวจสอบโรงงานในสถานที่และการทัวร์ชมโรงงานเสมือนจริง ลูกค้า โปรดติดต่อเราเพื่อขอตัวอย่างภาพทดสอบที่ถ่ายด้วยกำลังขยายสูง GP-L200-324K 4K นี้ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาพร้อม 4K Ultra HD เพื่อประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพโดยตรง
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
