สร้างขึ้นเพื่อการตรวจสอบตัวอย่างวัสดุโดยละเอียด กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยากำลังขยายสูงพร้อมโฟกัสอัตโนมัตินี้เป็นกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยากำลังขยายสูงที่มีความสามารถพร้อม ออโต้โฟกัส ช่วยให้สามารถสังเกตการณ์แบบ dual-view ผ่านช่องมองภาพแบบสองตาและจอแสดงผลภายนอก รองรับพอร์ต USB อะแดปเตอร์ไร้สายรองรับการส่งข้อมูลแบบไร้สาย มาพร้อมกับโหมดสนามสว่างและสนามมืดและแม้กระทั่ง การส่องสว่างแบบโคแอกเชียลเผยให้เห็นข้อบกพร่องเล็กๆ น้อยๆ เช่น เมล็ดพืช สารเคลือบ และรอยแตกร้าวอย่างรวดเร็ว มันรวมภาพ ฟังก์ชันสแน็ปช็อตและการวิเคราะห์การวัด แชสซีที่มีความเสถียรป้องกันการสั่นสะเทือนช่วยให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพการถ่ายภาพที่สม่ำเสมอ ในขณะที่โครงร่างโมดูลาร์ที่พร้อมอัปเกรดจะช่วยลดต้นทุนการอัพเดตในภายหลัง
กล้อง 4K ที่รวมเข้ากับขาตั้งโลหะวิทยาแบบสามตา ช่วยให้มองเห็นช่องมองภาพและการดูหน้าจอได้พร้อมกัน มัลติเอาท์พุต พอร์ตต่างๆ รวมถึง HDMI, USB3.0 และ WiFi สำหรับการจับภาพไมโครภาพ ultra-HD แบบเรียลไทม์
กำลังขยายด้วยแสง 50-500 ×, กำลังขยายดิจิตอลสูงสุด 2000 × เส้นทางแสงที่แม่นยำพร้อมมืออาชีพ วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาให้ภาพพื้นผิวโลหะขนาดเล็กและโครงสร้างเกรนที่คมชัด
โมดูลโฟกัสอัตโนมัติในตัวช่วยให้สามารถโฟกัสได้รวดเร็วและมั่นคงโดยไม่ต้องดำเนินการด้วยตนเอง ลดการสั่นไหวของภาพได้อย่างมาก ช่วยเพิ่ม ประสิทธิภาพการตรวจสอบชิ้นงานโลหะวิทยาที่ไม่สม่ำเสมอ
ฐานอะลูมิเนียมหล่อแบบชิ้นเดียวช่วยให้ตัวเครื่องมีความสมดุล ไม่มีการโยกเยกหรือเลื่อนระหว่างการตรวจสอบชิ้นส่วนเป็นเวลานาน และ งานสังเกตวัสดุ
ตัวถังสไตล์การวิจัยสีขาวและน้ำเงินคลาสสิกพร้อมรูปแบบโลหะวิทยาแบบสามตามาตรฐาน สะอาดตาและเรียบง่ายสำหรับ ห้องปฏิบัติการและการประชุมเชิงปฏิบัติการการตรวจสอบคุณภาพ
เหมาะสำหรับการวิเคราะห์โลหะ-โลหะวิทยา, การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์-เวเฟอร์, การวิเคราะห์ความล้มเหลวของวัสดุ, งานการสอนการวิจัยและการทดสอบคุณภาพองค์ประกอบในมหาวิทยาลัย
รองรับการจับภาพและวิดีโอ 4K (3840 × 2160) การวัดบนหน้าจอในตัวและการวัดโดยใช้ซอฟต์แวร์พีซี ใช้ได้; ที่เก็บข้อมูลแบบคู่ผ่านแฟลชไดรฟ์ USB และคอมพิวเตอร์ รองรับการซ้อนระยะชัดลึก การเย็บภาพ และ การพัฒนาขั้นที่สองเพื่อความสะดวกในการจัดเก็บภาพ การเปรียบเทียบ และการวิเคราะห์ข้อมูลเชิงลึก
การดูด้วยกล้องสองตาและการสังเกตทางอิเล็กทรอนิกส์แบบซิงโครนัส:การแสดงผลแบบซิงโครไนซ์ระหว่างช่องมองภาพและ จอภาพ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับการดูเฉพาะช่องมองภาพเท่านั้น จำเป็นต้องมีอุปกรณ์เสริมกล้องเพิ่มเติม สำหรับเอาต์พุตหน้าจอ
การถ่ายภาพความละเอียดสูงพิเศษ 4K + โฟกัสอัตโนมัติ:ความละเอียด Native 4K พร้อมระบบโฟกัสอัตโนมัติด้วยฮาร์ดแวร์ ชิ้นงานที่มีพื้นผิวไม่เรียบ อุปกรณ์โลหะวิทยาทั่วไปอาศัยการโฟกัสแบบแมนนวลอย่างเต็มที่โดยมีความละเอียดของภาพที่ต่ำกว่า
อินเทอร์เฟซสามเอาต์พุต:การส่งสัญญาณไร้สาย HDMI + USB3.0 + WiFi โลหะวิทยาแบบดั้งเดิม อุปกรณ์มักจะเชื่อมต่อกับพีซีที่ไม่มีฟังก์ชันการส่งสัญญาณไร้สายเท่านั้น
โหมดการวัดแบบคู่:การวัดในตัวแบบออฟไลน์บนจอภาพบวกกับการวัดบนซอฟต์แวร์พีซี กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปรองรับเฉพาะการวัดด้าน PC เท่านั้น โดยไม่มีฟังก์ชันการวัดแบบฝังด้วยฮาร์ดแวร์
โหมดการจัดเก็บข้อมูลแบบคู่:ที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์แบบออฟไลน์และที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี มีการบันทึกข้อมูล มีหรือไม่มีคอมพิวเตอร์ รุ่นทั่วไปต้องใช้พีซีในการจัดเก็บภาพ
อัลกอริธึมการประมวลผลภาพขั้นสูง:การซ้อนระยะชัดลึกและการเย็บภาพสำหรับระยะชัดลึกในตัว ตัวอย่างโลหะวิทยาที่มีความสูงไม่เท่ากัน กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปไม่มีฟังก์ชันอัลกอริธึมฝังตัวเช่นนี้
รองรับการพัฒนารอง:ระบบที่มีความสามารถด้านเครือข่ายช่วยให้สามารถผลิตระบบอัตโนมัติได้ บูรณาการ กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยาทั่วไปไม่รองรับการบูรณาการขั้นทุติยภูมิ
เส้นทางแสงโลหะโดยเฉพาะ:ปรับให้เหมาะสมสำหรับเม็ดโลหะ การเคลือบ และ การวิเคราะห์วัสดุโลหะวิทยา กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไปขาดเส้นทางแสงเฉพาะและไม่สามารถสังเกตได้ดี โครงสร้างโลหะวิทยา-จุลภาค
ผสานรวมกับเซนเซอร์ภาพ 4K แบบเนทีฟ 3840 × 2160 และปรับเทียบด้วยมาตรฐาน แม่แบบความละเอียดโลหะ, อุปกรณ์นี้ให้ความคมชัดสม่ำเสมอทั่วทั้งสนาม ช่วยให้สามารถระบุคุณลักษณะระดับจุลภาคได้ชัดเจน รวมไปถึง ขอบเขตของเม็ดโลหะ การชุบเคลือบ รอยแตกขนาดเล็กที่พื้นผิว และเนื้อเยื่อทางโลหะวิทยาของวัสดุที่ไม่มี พร่ามัวอุปกรณ์ต่อพ่วง
การใช้วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาไม่มีสีคุณภาพสูงเพื่อการสังเกตและวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์กำลังสูง ที่ หลอดออพติคอลแบบ trinocular ที่ได้รับการอัพเกรดช่วยให้สามารถรับชมภาพแบบซิงโครนัสและการถ่ายภาพดิจิทัลได้อย่างเต็มที่ การวิจัยโครงสร้างจุลภาคของโลหะ การตรวจสอบความหนาผิวเคลือบ การแบ่งเกรดคุณภาพเกรน และ สถานการณ์การควบคุมคุณภาพทางอุตสาหกรรม
ระบบการวัดทางโลหะวิทยาโดยเฉพาะให้การซ้อนทับพารามิเตอร์บนหน้าจอแบบเรียลไทม์และ การวิเคราะห์ข้อมูลหลายมิติ วัดค่าพารามิเตอร์ทางโลหะวิทยาที่สำคัญ เช่น ความหนาของฟิล์ม มิติเกรน ความกว้างของการแตกหัก และช่องว่างการแบ่งชั้น และรองรับคำอธิบายประกอบแบบทันที การจัดเก็บตัวอย่างภาพ และ การตรวจสอบข้อมูลการส่งออก เข้ากันได้กับฟังก์ชันการซ้อนระยะชัดลึกและการเย็บภาพ
การส่องสว่างแบบส่งและสะท้อนแบบสองเส้นทางรับประกันแสงที่เหมาะสมสำหรับชิ้นงานประเภทต่างๆ ที่ แท่นเชิงกลของแกน XY ที่มีความแม่นยำให้การเคลื่อนไหวที่ราบรื่นและการวางตำแหน่งเป้าหมายที่รวดเร็ว ที่เข้มงวด แชสซีโลหะเต็มรูปแบบ ให้ประสิทธิภาพในการป้องกันการสั่นสะเทือนที่ดีเยี่ยม ทำให้มั่นใจได้ถึงการทำงานที่มั่นคงและเชื่อถือได้ในระยะยาว การทดสอบทางโลหะวิทยาระดับมืออาชีพ
เซมิคอนดักเตอร์และส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์:ชิป IC, เวเฟอร์ซิลิคอน, ชิ้นภาพพิมพ์หิน, PCB บอร์ด, บอร์ดยืดหยุ่น FPC, ข้อต่อประสาน, หมุด เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตวงจรชิปภายใน การเคลือบเวเฟอร์ ข้อบกพร่องจากการบัดกรีเย็น การเกิดออกซิเดชัน รอยขีดข่วนของวงจร และการเสียรูปของพิน วิเคราะห์ โครงสร้างไมโครสไลซ์ภายใต้กำลังขยายสูงสุด 2,000 ×
วัสดุโลหะและตัวอย่างทางโลหะวิทยา:ชิ้นโลหะ, ดอกสว่าน, หัวกัด, ฮาร์ดแวร์โลหะประทับตรา เป้าหมายการตรวจสอบ: การวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา-เกรน-โครงสร้าง การบำบัดความร้อน-การระบุวัสดุ ตรวจจับการบิ่นที่ขอบ รอยแตกขนาดเล็ก ครีบ และความลึกของการเสียดสี
ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ LED และชิ้นส่วนขึ้นรูปพลาสติก:ชิป LED, ชิ้นส่วนพลาสติกเชิงแสง, การฉีดและไดคัท ผลิตภัณฑ์ เป้าหมายการตรวจสอบ: ตรวจสอบรอยบากเล็กๆ คราบบนพื้นผิว ขอบหยาบ อนุภาคขนาดเล็กจากต่างประเทศ การแยกกาวและการปิดผนึก - ข้อบกพร่องขนาดเล็ก
ส่วนประกอบจิ๋วที่มีความแม่นยำสูง:คอนเนคเตอร์ เทอร์มินอล ไมโครสปริง ชิ้นงานประทับตราขนาดเล็ก เป้าหมายการตรวจสอบ: สังเกตช่องว่างเล็กๆ และความเรียบของรอยจีบ ทำการวัดความยาวอย่างแม่นยำระดับพิกเซล เส้นผ่านศูนย์กลางรูและระยะพิทช์
การเก็บถาวร QC ของห้องปฏิบัติการและอุตสาหกรรม:Metallographic-ชิ้น-การทดลอง-การวิเคราะห์ การตรวจสอบการสุ่มตัวอย่างสินค้าขาเข้าและสินค้าสำเร็จรูป; การเก็บภาพและวิดีโอเพื่อบันทึกหลักฐานที่มีข้อบกพร่องและ การส่งออกรายงานการควบคุมคุณภาพการวัดอย่างเป็นทางการ
ช่วงการขยายแสง 50 ×-500 ×, กำลังขยายดิจิตอลสูงสุดถึง 2000 × ระบบโฟกัสอัตโนมัติในตัวช่วยลด การโฟกัสแบบแมนนวลซ้ำๆ สำหรับตัวอย่างที่ไม่สม่ำเสมอ ความละเอียด Native 4K 3840 × 2160 จับภาพได้อย่างชัดเจน พื้นผิวโลหะ, การเคลือบเวเฟอร์และไมโครชิปเทรซ ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการตรวจสอบในห้องปฏิบัติการสำหรับตัวอย่างจำนวนมากได้อย่างมาก
พอร์ตสามเอาต์พุต: HDMI, USB3.0 และ WiFi จอภาพเชื่อมต่อ HDMI เพื่อการรับชมในสถานที่ USB3.0 ช่วยให้พีซีความเร็วสูง- การวิเคราะห์; การส่งสัญญาณไร้สายผ่าน WiFi ไปยังโทรศัพท์และแท็บเล็ตเพื่อการสังเกตจากระยะไกลโดยไม่ต้องใช้สายเคเบิล เหมาะสำหรับการสุ่มตัวอย่างเฉพาะจุด และ การสอน-การอภิปรายกลุ่ม
โซลูชันการวัดสองแบบ: การวัดบนจอภาพในตัวและการวัดบนซอฟต์แวร์พีซี พร้อมด้วย การซ้อนระยะชัดลึกและการเย็บภาพเพื่อสร้างภาพที่โฟกัสเต็มที่ของตัวอย่างที่ไม่สม่ำเสมอและ มุมมองพาโนรามาที่ไร้รอยต่อของตัวอย่างขนาดใหญ่ รองรับการพัฒนารองสำหรับการรวมสายการผลิต เหมาะสำหรับ การวิจัยวัสดุใหม่และการวิเคราะห์ความทนทานต่อการเคลือบผิว
การออกแบบ Trinocular-synchronous ช่วยให้สามารถรับชมพร้อมกันผ่านช่องมองภาพแบบสองตาและจอภาพ 4K ครูและ ผู้ตรวจสอบ QC สามารถสังเกตตัวอย่างไมโครเดียวกันร่วมกัน เหมาะสำหรับการฝึกอบรมในมหาวิทยาลัยและการตรวจสอบซ้ำ ข้อบกพร่องในโรงงาน
ตัวเลือกการจัดเก็บข้อมูลสองแบบ: ประหยัดแฟลชไดรฟ์ USB โดยตรงสำหรับภาพถ่าย/วิดีโอ 4K และซอฟต์แวร์ PC สำหรับการเก็บถาวร มวลภาพ-&-ข้อมูลการวัด บันทึกที่บันทึกไว้และรายงานมิติสามารถส่งออกและจัดเก็บได้ในระยะยาว ตอบสนองความต้องการในการตรวจสอบย้อนกลับของโรงงาน-QC, รายงานห้องปฏิบัติการของมหาวิทยาลัย และการตรวจสอบขาเข้าของเซมิคอนดักเตอร์
มีการจัดส่งแบบบรรจุเป็นกลางตามคำขอ
| เอนทิตี | คำอธิบาย |
| ผลิตภัณฑ์ | GP-L200-462H กล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยากำลังขยายสูง 4K พร้อมโฟกัสอัตโนมัติ |
| หมวดหมู่ | การตรวจสอบและการวัดด้วยโฟกัสอัตโนมัติแบบโฟกัสอัตโนมัติ 4K แบบ Trinocular อุตสาหกรรมกำลังขยายสูง กล้องจุลทรรศน์ |
| เทคโนโลยีหลัก | ระบบออพติคอลสังเกตการณ์แบบซิงโครนัสแบบ Trinocular, ชุดเลนส์ใกล้วัตถุโลหะวิทยาระดับมืออาชีพ, 4K การถ่ายภาพ CMOS ความละเอียดสูงพิเศษ, โมดูลโฟกัสอัตโนมัติ, การส่งสัญญาณหลายช่องสัญญาณ, ดิจิตอลคู่ - เครื่องมือวัด, การซ้อนระยะชัดลึกและอัลกอริธึมการเย็บภาพ, รองรับระบบเปิด การพัฒนารอง |
| ข้อมูลจำเพาะที่สำคัญ | การขยายภาพ: 50/100/200/500 ×; กำลังขยายอิเล็กทรอนิกส์: 200/400/800/2000 ×; สามเอาท์พุท: HDMI + USB3.0 + อินเตอร์เน็ตไร้สาย; ความละเอียดในการจับภาพ 4K 3840 × 2160; การออกแบบโฟกัสอัตโนมัติ โหมดการวัดแบบคู่: ในตัว การวัดบนอุปกรณ์ + การวัดซอฟต์แวร์พีซีระดับมืออาชีพ *(0.001 มม. ความคลาดเคลื่อนในการวัดน้อยลง สามารถ สามารถทำได้ภายใต้กำลังขยายที่สูงขึ้น ผลลัพธ์ขึ้นอยู่กับการสอบเทียบ การขยาย และตัวอย่าง เงื่อนไข)*; พื้นที่เก็บข้อมูลคู่: พื้นที่เก็บข้อมูล USB แฟลชไดรฟ์ในตัวเครื่อง + พื้นที่จัดเก็บไฟล์คอมพิวเตอร์ ขั้วมอนิเตอร์ รองรับการแสดงตัวอย่างรูปภาพ การวัดขนาด จับภาพและวิดีโอ รองรับเทอร์มินัลพีซี การวัดและการเก็บถาวรภาพ เข้ากันได้กับการบูรณาการขั้นทุติยภูมิ |
| การใช้งานทั่วไป | การวิเคราะห์โครงสร้างโลหะ-โลหะ, โลหะผสม-เกรน-&-วัสดุ-พื้นผิว-การสังเกต การวัดความหนาเคลือบ, การตรวจจับเซมิคอนดักเตอร์, เวเฟอร์, การตรวจสอบหน้าตัด PCB, ความแม่นยำ - ฮาร์ดแวร์ - ความล้มเหลว - การวิเคราะห์, มหาวิทยาลัย - ห้องปฏิบัติการ - วัสดุ - การวิจัย, ใหม่-พลังงาน-วัสดุ-คุณภาพ- การทดสอบ |
| ผู้ผลิต | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| ที่ตั้งผู้ผลิต | คุนซาน มณฑลเจียงซู จีน (ใกล้เซี่ยงไฮ้) |
| แบรนด์สินค้า | เกาปิน |
| รุ่นสินค้า | GP-L200-462H |
| ปณิธาน | 3840 × 2160 (4K) |
| พิกเซลที่มีประสิทธิภาพ | 8.3 ล้านพิกเซล |
| วิธีการโฟกัส | โฟกัสอัตโนมัติ |
| รูปแบบแสงของเซนเซอร์ | 1/1.8" |
| ขนาดพิกเซล | 2.0 ไมโครเมตร × 2.0 ไมโครเมตร |
| อินเตอร์เฟซเอาท์พุท | HDMI + USB3.0 + อินเตอร์เน็ตไร้สาย |
| อัตราเฟรม | HDMI: 60 เฟรมต่อวินาที @3840 × 2160 USB3.0: 30 เฟรมต่อวินาที @3840 × 2160 / 60 เฟรมต่อวินาที @1920 × 1080 WiFi: 30 เฟรมต่อวินาที @3840 × 2160/60 เฟรมต่อวินาที @1920 × 1080 |
| การดำเนินการวัด | ระบบการวัดบนหน้าจอในตัว + การวัดโดยใช้ซอฟต์แวร์ PC |
| ความแม่นยำในการวัด | 0.002-0.005 มม. *(ความคลาดเคลื่อนในการวัดน้อยลงสามารถทำได้ภายใต้กำลังขยายที่สูงขึ้น ผลลัพธ์ เรื่อง เพื่อการสอบเทียบ การขยาย และสภาวะตัวอย่าง)* |
| หน่วยการวัด | มม. / ไมโครเมตร / ล้าน / นิ้ว (สลับได้ 4 ทิศทาง) |
| เครื่องมือวัด | ความยาว มุม รัศมี วงกลม รูปหลายเหลี่ยม เส้นหลายเส้น ระยะห่างจากศูนย์กลางถึงกึ่งกลาง สี่เหลี่ยมผืนผ้า คำอธิบายประกอบ การตรวจจับขอบอัตโนมัติ, สเกลบาร์ |
| วิธีการจัดเก็บ | USB แฟลชไดรฟ์ + ที่เก็บข้อมูลซอฟต์แวร์พีซี |
| โหมดการตั้งชื่อรูปภาพ | การตั้งชื่อไฟล์ภาพอัตโนมัติหรือด้วยตนเอง |
| ภาษาที่แสดง | จีนตัวย่อ / อังกฤษ (สลับได้) |
| โปรเซสเซอร์ | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1.4 GHz โปรเซสเซอร์ควบคุมหลัก |
| ระบบปฏิบัติการเฟิร์มแวร์ | ระบบการวัดที่พัฒนาขึ้นอย่างอิสระซึ่งสร้างขึ้นบนเคอร์เนล Linux 3.1 |
| หัวสังเกตการณ์ | หลอดสังเกตการณ์แบบสามตาเอียง 30° หมุนได้ 360° ปรับระยะห่างระหว่างรูม่านตาได้ |
| วิธีการสังเกต | สนามสว่าง / แสงเฉียง / แสงส่องผ่าน / โพลาไรซ์แบบง่าย |
| ระบบไฟส่องสว่าง | ระบบไฟส่องทางคู่แบบสะท้อนและส่งสัญญาณ แรงดันไฟฟ้ากว้าง 100-240 V; ปรับได้ เส้นใยเป็นศูนย์กลาง ปรับความเข้มของแสงได้อย่างต่อเนื่อง |
| โครงขาตั้ง | ชั้นวางแบบส่งและสะท้อนแบบอเนกประสงค์ กลไกการโฟกัสแบบโคแอกเซียลหยาบละเอียด การปรับหยาบ โรคหลอดเลือดสมอง 33 มม. ความแม่นยำในการปรับละเอียด 0.002 มม. พร้อมระบบล็อคและลิมิตสต็อป ไฟส่องสว่างของหลอดฮาโลเจน ตัวสะท้อนแสงแบบ Bright-field พร้อมการหยุดรูรับแสงแบบแปรผัน การหยุดแบบ Field-stop และการแปลงฟิลเตอร์สี พร้อมอุปกรณ์ ด้วย ฟิลเตอร์สีน้ำเงินสำหรับการสังเกตแสงสะท้อน |
| แพลตฟอร์มมือถือ | เวทีการเคลื่อนย้ายเชิงกลสองชั้น ขนาดเวที: 140 × 132 มม. จังหวะ X-Y: 76 × 50 มม.; เวทีกระจกสำหรับ การสังเกตที่ส่งและสะท้อนกลับ |
| แหล่งกำเนิดแสง | หลอดฮาโลเจน 6V-30W สำหรับแสงสะท้อน; หลอดฮาโลเจน 6V-30W สำหรับไฟส่องผ่าน |
| ง่าย-โพลาไรซ์ | เม็ดมีดโพลาไรเซอร์ 30° (แสงสะท้อน) + เม็ดมีดวิเคราะห์แบบหมุนได้ 360° สำหรับการสังเกตแบบโพลาไรซ์ |
| อินเตอร์เฟซอิเล็กทรอนิกส์ | อินเทอร์เฟซ C-mount 0.5X, โฟกัสที่ปรับได้ [ตัวเลือก: 1X C-mount] |
| เลนส์ใกล้ตา | เลนส์ใกล้ตาสนามแบนขนาดใหญ่จุดสายตาสูง PL10X/18 มม. (เลนส์ใกล้ตา 1 อันที่มีเครื่องหมายสเกล) |
| เลนส์ใกล้วัตถุโลหะ | วัตถุประสงค์ทางโลหะวิทยาไม่มีสีในสนามแบนระยะไกลในการทำงาน: 5X / 0.13 WD15.5 มม.; 10X / 0.25 WD8.7 มม.; 20X / 0.40 WD8.8 มม.; 50X / 0.60 WD5.1 มม |
| กำลังขยายด้วยแสง | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × ปรับได้สี่ระดับ |
| กำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์ | ประมาณ 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × ปรับได้สี่ระดับ (ขยายได้ถึง 400-4000 ×) |
กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:
NIO Shanghai – การตรวจสอบความแม่นยำสำหรับพลังงานใหม่ ชิ้นส่วนรถยนต์ และชุดสายไฟ
เครื่องใช้ไฟฟ้า GREE (Hefei) – การวัดขนาดที่แม่นยำและการตรวจสอบข้อบกพร่องสำหรับส่วนประกอบเครื่องใช้ในบ้าน
Huawei Electronics – การตรวจสอบวัสดุขาเข้าและสายการผลิต-QC สำหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์
DOOV – การตรวจสอบอุปกรณ์มือถือ-การประกอบ หน้าจอและการทดสอบรูปลักษณ์ส่วนประกอบ
เทคโนโลยีเลนส์ – การตรวจจับข้อบกพร่องระดับไมโครสำหรับแผ่นฝาครอบกระจกและแผงป้องกันโทรศัพท์
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – การทดสอบส่วนประกอบออปโตอิเล็กทรอนิกส์และการวิเคราะห์ความล้มเหลว
วัตถุประสงค์และช่องมองภาพ:เช็ดเลนส์เบา ๆ ด้วยกระดาษเลนส์และน้ำยาทำความสะอาดเลนส์ อย่าสัมผัสออปติคอล เลนส์ด้วยมือเปล่าหรือใช้กระดาษชำระธรรมดาในการทำความสะอาด
ตัวหลักและเวที:ล้างเศษตัวอย่างและผงโลหะทันที เช็ดตัวเครื่องด้วยก ผ้านุ่มแห้ง หลีกเลี่ยงการกระเด็นของของเหลว ตรวจสอบเป็นประจำว่าสกรูขันแน่นเพื่อป้องกันการเลื่อนที่เกิดจากการ การชนกัน
แหล่งกำเนิดแสงที่ส่งและสะท้อน:ปิดแหล่งกำเนิดแสงเมื่อไม่ได้ใช้งานกล้องจุลทรรศน์ ระเบิด ปัดฝุ่นออกจากหน้าต่างไฟและอย่าสัมผัสหลอดไฟโดยตรง
กลไกการโฟกัสแบบกลไก:อย่าบิดวงล้อปรับโฟกัสด้วยแรงมากเกินไป เลื่อนต่อไป ติดตามสะอาด; อย่าหล่อลื่นมันด้วยตัวเอง
สภาพแวดล้อมในการจัดเก็บ:เก็บในที่แห้งและมีอากาศถ่ายเทสะดวกเพื่อป้องกันความชื้นและเชื้อรา ครอบคลุม อุปกรณ์ที่มีฝาปิดกันฝุ่นหลังการใช้งาน
ซอฟต์แวร์และการสอบเทียบ:ปรับเทียบสเกลการวัดก่อนทำการวัด ปิดสนิท ซอฟต์แวร์ที่เกี่ยวข้องก่อนตัดไฟ อย่าถอดแยกชิ้นส่วนเครื่องโดยไม่ได้รับอนุญาต ติดต่อ การสนับสนุนบริการหลังการขายในกรณีที่เกิดความผิดปกติ
A1: การขยายภาพ: 50-500 ×; กำลังขยายแบบอิเล็กทรอนิกส์: 200-2000 ×. การสังเกตแบบซิงโครนัสผ่านช่องมองภาพและ จอภาพคือ พร้อมใช้งานสำหรับการตรวจสอบตามปกติและความแม่นยำ
A2: รองรับเอาต์พุต HDMI, USB3.0 และ WiFi สามารถทำงานร่วมกับจอภาพและพีซีได้โดยตรง หรือใช้งานแบบไร้สายก็ได้ การฉายภาพหน้าจอผ่านการเชื่อมต่อ WiFi
A3: รองรับการถ่ายภาพ 4K การบันทึกวิดีโอ และการวัดที่มีความแม่นยำสูง ซอฟต์แวร์ที่ตรงกันจะรับรู้ ความชัดลึก การซ้อนและการเย็บภาพ รองรับแฟลชไดรฟ์ USB และที่เก็บข้อมูลพีซี ส่งออกรายงาน และการพัฒนารอง เหมาะสำหรับงานโลหะ-โลหะวิทยา ชิป เส้นใย ผงโลหะวิทยา การตรวจสอบความแม่นยำทางอิเล็กทรอนิกส์ วิทยาศาสตร์ การวิจัยและการสอน-สถานการณ์
A4: ตรวจสอบสถานะแหล่งจ่ายไฟและการเชื่อมต่อสาย HDMI ยืนยันว่าจอภาพสลับไปถูกต้อง สัญญาณอินพุตช่อง รีบูตโฮสต์กล้องจุลทรรศน์ หากยังมีข้อผิดพลาดอยู่ โปรดติดต่อฝ่ายสนับสนุนฝ่ายบริการหลังการขาย
A5: เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ทางโลหะวิทยา ชิป อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีความแม่นยำสูง ผงโลหะวิทยา และการทดสอบเส้นใย เหมาะสำหรับ การตรวจสอบคุณภาพอุตสาหกรรม การวิจัยทางวิทยาศาสตร์ และงานการสอน
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นในปี 2554 ซึ่งผู้ก่อตั้งได้สั่งสมความเชี่ยวชาญในอุตสาหกรรมมาตั้งแต่ปี 2005 เป็นองค์กรที่มุ่งเน้นเทคโนโลยีซึ่งเชี่ยวชาญด้านการออกแบบ R&D การขายและบริการหลังการขายของอุตสาหกรรม กล้องจุลทรรศน์ รวมถึงกล้องจุลทรรศน์โลหะวิทยากำลังขยายสูงพร้อมโฟกัสอัตโนมัติ ทีมวิศวกรหลักของเรา นำมา ประสบการณ์เฉพาะทางมากกว่าสิบปี รับประกันเทคโนโลยีที่ครบถ้วนและคุณภาพที่เชื่อถือได้ ที่มีมากกว่าหนึ่ง ร้อย โมเดลผลิตภัณฑ์ออพติคอลและฐานลูกค้าทั่วโลก GAOPIN นำเสนอแบบสั่งทำพิเศษและคุ้มค่าอย่างต่อเนื่อง กล้องจุลทรรศน์ โซลูชั่น เราให้การสนับสนุนทางเทคนิคระดับโลกที่ตอบสนองอย่างรวดเร็วผ่านการประชุมออนไลน์ คำแนะนำผ่านวิดีโอ และ เซสชันการฝึกอบรมระยะไกล ฐานการผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซู (ใกล้กับเซี่ยงไฮ้) ทั้งสองอย่าง ลูกค้าสามารถตรวจสอบโรงงานและเยี่ยมชมโรงงานเสมือนจริงได้ อย่าลังเลที่จะติดต่อเราเพื่อ ภาพทดสอบตัวอย่างที่ถ่ายโดยกล้องจุลทรรศน์โลหการออโต้โฟกัส GP-L200-462H 4K นี้เพื่อประเมินภาพ ประสิทธิภาพการทำงาน โดยตรง
ที่อยู่
อาคาร 2 ศูนย์ธุรกิจระหว่างประเทศซวงเหลียน เมืองหัวเฉียว เมืองคุนซาน ประเทศจีน
โทร
อีเมล
