กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลกำลังขยายสูง 4K พร้อมไฟส่องสว่างด้านบนและด้านล่าง

Gaopin GP-307S-4K กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลกำลังขยายสูง 4K พร้อมไฟส่องสว่างด้านบนและด้านล่าง ดิจิตอลกำลังขยายสูงพิเศษ 4K นี้ กล้องจุลทรรศน์ ด้วยคุณสมบัติการส่องสว่างด้านบนและด้านล่างของการซูมแบบพาร์โฟคอลตั้งแต่ 95X ถึง 614X ซึ่งเป็นรุ่นที่มีกำลังขยายสูงสุดในรุ่นนี้ ซีรีส์ มาพร้อมกล้อง 4K และเลนส์ซูมตาข้างเดียวระดับพรีเมี่ยม ฐานรวมแหล่งกำเนิดแสงคู่: แสงจากด้านบน สำหรับ การตรวจสอบสัณฐานวิทยาของพื้นผิวระดับไมโคร แสงที่ส่องผ่านด้านล่างสำหรับตัวอย่างบางกึ่งโปร่งใส บิวท์อิน การวัด ระบบรองรับการวัดขนาดระดับไมครอน สแนปช็อต และการจัดเก็บวิดีโอ ออกแบบมาเพื่อการขยายสูง การตรวจสอบชิ้นงานที่มีขนาดเล็กพิเศษ

ความแตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์แบบติดบนร่างกายทั่วไป

ความแตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์ธรรมดา:กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลมาตรฐานแทบจะไม่มีความเสถียร กำลังขยายประมาณ 600 เท่า และส่วนใหญ่ไม่มีแสงส่องจากด้านล่างเพื่อดูรูปทรงของตัวอย่างกึ่งโปร่งใส นี้ กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลกำลังขยายสูง 4K พร้อมไฟส่องสว่างด้านบนและด้านล่างสามารถซูมพาร์โฟคอลได้ 95–614 เท่าพร้อม ภาพที่คมชัดคงที่ที่กำลังขยายสูง แหล่งกำเนิดแสงคู่สามารถเปลี่ยนได้อย่างอิสระ เครื่องหนึ่งจัดการทั้งสองอย่าง การตรวจสอบพื้นผิวสะท้อนแสงและการสังเกตรูปร่างที่ส่งผ่าน รองรับการวัดความแม่นยำระดับไมครอน มีประสิทธิภาพเหนือกว่ากล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลทั่วไป

ข้อมูลจำเพาะทางเทคนิค

การใช้งานผลิตภัณฑ์

ขอบเขตการสมัคร:ใช้สำหรับการตรวจสอบข้อบกพร่องระดับจุลภาคและการวัดขนาดระดับไมครอน ไมโครชิป ขอบเครื่องมือตัด พื้นผิวปลายไฟเบอร์ ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ขนาดเล็ก และฟิล์มกรองแสงแบบบาง มันสังเกต รอยขีดข่วนขนาดเล็ก การบิ่น ความกว้างของเส้น และรูปทรงที่ส่งผ่านแสง เหมาะสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ ส่วนประกอบออปติคัล และอุตสาหกรรมเครื่องมือตัดที่มีความแม่นยำ

ภาพรวมเอนทิตีผลิตภัณฑ์

95-614 ช่วงการตรวจจับนี้เหมาะกับผลิตภัณฑ์ใดบ้าง

1. การตรวจสอบร่องรอย PCB ที่ละเอียดเป็นพิเศษและข้อต่อไมโครบัดกรี BGA:สังเกตรอยทาง PCB ที่ละเอียดเป็นพิเศษ และลูกบัดกรี BGA ตรวจจับการบัดกรีแบบเย็นขนาดเล็ก ลูกบัดกรีแตก ช่องว่างของวงจร และรูเข็มของหน้ากากบัดกรี 95–614X เหมาะสำหรับการตรวจสอบข้อบกพร่องที่ละเอียดระดับไมโคร

2. การตรวจสอบพินชิปเซมิคอนดักเตอร์และบรรจุภัณฑ์:ชิป IC, หมุดเวเฟอร์ และความแม่นยำ หมุดเชื่อมต่อ ตรวจสอบการกัดกร่อนของพิน การบิ่นเล็กๆ การบัดกรีส่วนเกิน และรอยแตกของบรรจุภัณฑ์ สังเกตสัณฐานวิทยาระดับจุลภาคของ หมุด

3. การสังเกตทางโลหะวิทยาบนหน้าตัดการจีบของขั้วต่อที่มีความแม่นยำ:ลวดหนามหั่นเป็นชิ้น ขั้วต่อทองแดง ตรวจสอบการแตกหักของลวดทองแดง ช่องว่างการจีบ ความหนาของการชุบไม่สม่ำเสมอ และการเสียรูปขนาดเล็กของ ภาพตัดขวางสำหรับการวิเคราะห์ความล้มเหลวของสายรัด

4. การคัดกรองข้อบกพร่องระดับไมโครสำหรับฮาร์ดแวร์ที่มีความแม่นยำขนาดเล็ก:ชิ้นส่วนกลึงไมโคร, รูไมโคร ส่วนประกอบและหน้าสัมผัสที่แม่นยำ ตรวจจับรอยแตกขนาดเล็ก รูเข็มที่เคลือบ ครีบละเอียด และรอยขีดข่วนจากการเจียร พื้นผิว

5. การสังเกตสัณฐานวิทยาจุลภาคของการเคลือบวัสดุและผง:การชุบโลหะ การเคลือบฟิล์ม ตัวอย่างผงและเส้นใย สังเกตรูปร่างของอนุภาคและรูเคลือบเพื่อการเปรียบเทียบวัสดุและการวิเคราะห์ความล้มเหลว

6. การวัดขนาดความแม่นยำเล็ก ๆ :ร่วมมือกับซอฟต์แวร์การวัดเพื่อวัดค่าละเอียด ความกว้างของเส้น เส้นผ่านศูนย์กลางภายในรูขนาดเล็ก ช่องว่างเล็กๆ และความหนาของการเคลือบ ตอบสนองการวัดที่มีความแม่นยำสูง ข้อกำหนดของห้องปฏิบัติการและสถานีตรวจสอบคุณภาพ

หลักฐานและความน่าเชื่อถือนอกสถานที่ (การทดสอบโดยตรง)

1. การถ่ายภาพ 4K ที่เสถียร

ความละเอียด 3840×2160 ปราศจากความผิดเพี้ยนสำหรับงานที่ใช้เวลานาน จับข้อบกพร่องระดับไมโครเพื่อเป็นหลักฐาน QC

2. การซูมพาร์โฟคอลที่เชื่อถือได้

ซูมพาร์โฟคอล 95–614× ไม่ต้องปรับโฟกัสใหม่บ่อยครั้งเมื่อเปลี่ยนกำลังขยาย ไม่มีการเลื่อนของภาพเพื่อการตรวจสอบที่มีความแม่นยำสูง

3. แหล่งกำเนิดแสงคู่ที่เสถียร

ไฟด้านบนโคแอกเชียลแบบสลับได้และไฟด้านล่างแบบส่องผ่าน ใช้งานได้กับตัวอย่างทั้งแบบโปร่งใสและทึบแสงโดยมีความสม่ำเสมอ แสงสว่าง

4. เอาต์พุตการวัดหลายพอร์ตที่เสถียร

HDMI+USB3.0+LAN, การวัดภาพแบบไดนามิก, การแปลงหลายหน่วย, การจับภาพ/วิดีโอสำหรับบันทึกที่ตรวจสอบย้อนกลับได้

5. ฐานป้องกันการสั่นสะเทือน

แท่นตัวอย่างและขาตั้งโลหะโดยเฉพาะ ป้องกันภาพเบลอภายใต้การสั่นสะเทือนของเวิร์คช็อปเล็กน้อยเพื่อการสังเกตที่มีกำลังขยายสูง

ข้อดีการออกแบบที่เป็นเอกลักษณ์

1. เลนส์ซูมต่อเนื่อง Parfocal 95X–614X

โฟกัสจะคงที่ในระหว่างการซูม เหมาะสำหรับการตรวจสอบส่วนประกอบขนาดเล็ก รอยแตกเล็กๆ และหมุดที่มีความแม่นยำ

2. แหล่งกำเนิดแสงที่ปรับได้แบบคู่อิสระ

วงแหวนด้านบนสะท้อนแสง + แสงส่องผ่านด้านล่างพร้อมการควบคุมความสว่างแยกกัน เข้ากันได้กับแบบโปร่งใส และตัวอย่างที่ทึบแสง ลดการสะท้อนและเงา

3. การถ่ายภาพ 4K Ultra HD แบบเนทีฟและการวัดออนบอร์ด

การวัดขนาดโดยตรงบนจอภาพ รองรับการวัดความยาว มุม รัศมี และพื้นที่ โดยไม่ต้องใช้พีซี ควบคุมคุณภาพในสถานที่

4. เอาต์พุตแบบซิงโครนัส HDMI + USB คู่

HDMI สำหรับการดูตัวอย่างแบบเรียลไทม์ USB เปิดใช้งานการซ้อนความลึก การเก็บถาวรรูปภาพ และการส่งออกรายงานการวัดสำหรับเวิร์กช็อป และการใช้งานในห้องปฏิบัติการ

5. เวทีโปร่งใสและขาตั้งโลหะสำหรับงานหนัก

ฐานส่งแสงสำหรับการสังเกตแสงที่ส่งผ่าน ส่วนรองรับโลหะที่ทนทานต่อการสั่นสะเทือนช่วยให้การถ่ายภาพมีความเสถียร ในระหว่างการตรวจสอบอย่างต่อเนื่องเป็นเวลานาน

การบำรุงรักษากล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนรายวัน

· การดูแลเลนส์สายตา:ใช้เฉพาะทิชชู่เลนส์สายตาแบบมืออาชีพหรือผ้าไมโครไฟเบอร์ไร้ฝุ่นเท่านั้น เช็ดพื้นผิวเลนส์ ห้ามใช้ผ้าขนหนูกระดาษหรือผ้าหยาบเพื่อหลีกเลี่ยงการขีดข่วนการเคลือบเลนส์ สำหรับรอยนิ้วมือและน้ำมัน ให้ใช้น้ำยาทำความสะอาดเลนส์ปริมาณเล็กน้อยกับผ้า อย่าหยดของเหลวลงบนเลนส์โดยตรง หลีกเลี่ยง สัมผัสพื้นผิวเลนส์ของเลนส์ด้วยมือ

· การบำรุงรักษากล้อง กระบอกเลนส์ และขาตั้ง:ทำความสะอาดกล้อง 4K, กระบอกซูม และเสาโลหะ ด้วยผ้านุ่มแห้งไร้ฝุ่น อย่าให้ทั้งยูนิตโดนน้ำ เก็บแอลกอฮอล์ อะซิโตน และอื่นๆ ไว้อย่างเข้มข้น ตัวทำละลายที่มีฤทธิ์กัดกร่อนออกไปเพื่อปกป้องสีและรอยพิมพ์ รักษาขั้วต่อทั้งหมดให้แห้งเพื่อป้องกันการเกิดออกซิเดชันของโลหะและ การติดต่อที่ไม่ดี

· การดูแลแหล่งกำเนิดแสงแบบสเตจและแบบคู่:ขจัดฝุ่นออกจากเวทีสีขาวและ LED บนและล่าง วงแหวนแสงคู่พร้อมผ้าแห้งนุ่ม ทำความสะอาดช่องแสงในลักษณะเดียวกับเลนส์ ไม่ใช้สารกัดกร่อน ของเหลว อย่าดึงสายไฟแรงๆ

· การบำรุงรักษากลไกการโฟกัส:ทำความสะอาดฝุ่นบนปุ่มโฟกัสและรางนำคอลัมน์เป็นประจำ ตัวเล็ก สามารถใช้จาระบีแห้งจำนวนหนึ่งได้ ห้ามใช้น้ำมันหล่อลื่นเหลวเพื่อป้องกันน้ำมันหยดและปนเปื้อน เลนส์ แหล่งกำเนิดแสง และตัวอย่าง ใช้งานปุ่มโฟกัสเบาๆ อย่าหมุนแรงๆ เพื่อไม่ให้เกียร์เสียหาย

· พลังงานและสิ่งแวดล้อม:ใช้อะแดปเตอร์ไฟเดิม วางอุปกรณ์ไว้ในที่แห้งและมีฝุ่นน้อย สภาพแวดล้อม ห่างจากอุณหภูมิ ความชื้นสูง และการสั่นสะเทือนอย่างหนัก ปิดเครื่องและถอดปลั๊กอะแดปเตอร์เมื่อไม่ได้ใช้งาน ใช้เป็นเวลานาน

วิธีการเลือกรุ่น

1. ชิ้นงานที่มีกำลังขยายสูง:ตัวอย่างที่ต้องการกำลังขยาย 95×–614× สำหรับการตรวจสอบสิ่งเล็กๆ รอยขีดข่วนและรอยแตกขนาดเล็ก

2. ตัวอย่างที่โปร่งใสและทึบแสง:เหมาะสำหรับชิ้นส่วนที่ทึบแสง เช่น โลหะและพลาสติกเช่นกัน เป็นชิ้นงานโปร่งใสและกึ่งโปร่งใส เช่น ฟิล์มและกระจก เนื่องจากมีแหล่งกำเนิดแสงคู่

3. การวัดขนาดที่ต้องการ:ผลิตภัณฑ์ที่ต้องการการวัดความยาว มุม และระดับไมครอน arc พร้อมการรวบรวมข้อมูลและการสร้างบันทึกการตรวจสอบ

4. ส่วนประกอบไมโครพรีซิชั่น:ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ขนาดเล็ก หมุดชิป แม่พิมพ์ขนาดเล็ก ความแม่นยำ ฮาร์ดแวร์และชิ้นงานขนาดเล็กอื่นๆ

5. จำเป็นต้องเก็บภาพ:สินค้าที่ต้องการบันทึกภาพและวิดีโอเพื่อเป็นหลักฐานข้อบกพร่องและคุณภาพ รายงาน หลักฐานการร้องเรียนของลูกค้า และการติดตามกระบวนการ

6. การปรับแต่ง:รองรับการจัดส่งแบบเป็นกลาง

พันธมิตรและลูกค้าที่เชื่อถือได้

กล้องจุลทรรศน์ GAOPIN ถูกใช้ในองค์กร สถาบันวิจัย และมหาวิทยาลัยชั้นนำ ความร่วมมือของเรา ความสัมพันธ์ได้แก่:

สถาบันเทคโนโลยีปักกิ่ง – การวิจัยด้วยกล้องจุลทรรศน์เกี่ยวกับอุปกรณ์ที่มีความแม่นยำและวัสดุใหม่

CATL – การตรวจสอบข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับอิเล็กโทรดและเซลล์แบตเตอรี่ลิเธียม

Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – การตรวจจับขนาดและข้อบกพร่องระดับจุลภาคสำหรับการตัดเฉือนที่มีความแม่นยำ ชิ้นส่วน

มหาวิทยาลัย Fudan – การสังเกตและการวิจัยด้วยกล้องจุลทรรศน์เกี่ยวกับวัสดุและตัวอย่างทางชีววิทยา

Huawei Technologies Co., Ltd. – วัสดุขาเข้าและการควบคุมคุณภาพสายการผลิต

มหาวิทยาลัยชิงหัว – การสอน การถ่ายภาพในห้องปฏิบัติการ และการเก็บถาวรการทดลอง

เกี่ยวกับ GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. ก่อตั้งขึ้นในปี 2554 ซึ่งผู้ก่อตั้งได้สั่งสมความเชี่ยวชาญในอุตสาหกรรม ตั้งแต่ปี 2548 เป็นองค์กรที่มุ่งเน้นเทคโนโลยีซึ่งเชี่ยวชาญด้านการออกแบบ R&D การขายและบริการหลังการขายของ กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม ด้วยทีมงานวิศวกรหลักที่มีความรู้ความชำนาญระดับมืออาชีพมากกว่าสิบปี บริษัทรับประกันเทคโนโลยีที่ได้รับการพิสูจน์แล้วและความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ที่สม่ำเสมอ GAOPIN เสนอมากกว่าหนึ่งร้อยรายการ โมเดลผลิตภัณฑ์ออพติคัลและให้บริการลูกค้าทั่วโลก ทุ่มเทตัวเองในการจัดหาแบบสั่งทำ โซลูชันกล้องจุลทรรศน์ที่คุ้มค่า เราให้การสนับสนุนด้านเทคนิคทั่วโลกทันทีครอบคลุมการประชุมออนไลน์ คำแนะนำการใช้งานผ่านวิดีโอและการฝึกอบรมระยะไกล ฐานการผลิตของเราตั้งอยู่ในคุนซาน มณฑลเจียงซูใกล้กับเซี่ยงไฮ้ ทั้งการตรวจสอบโรงงานในสถานที่และการทัวร์โรงงานเสมือนจริง มีให้สำหรับลูกค้า โปรดติดต่อเราเพื่อขอตัวอย่างภาพทดสอบที่ถ่ายด้วย 4K Ultra นี้ กล้องจุลทรรศน์ดิจิตอลกำลังขยายสูงพร้อมการส่องสว่างด้านบนและด้านล่าง คุณจึงสามารถประเมินประสิทธิภาพการถ่ายภาพได้ โดยตรง

คำถามที่พบบ่อย

คำถามที่ 1: การออกแบบแสงคู่ของกล้องจุลทรรศน์ GP-307S-4K มีประโยชน์ในการตรวจสอบอย่างไรบ้าง

A1: อุปกรณ์นี้มีไฟส่องสว่างด้านบนและไฟส่องผ่านด้านล่าง แสงด้านบนใช้สำหรับลักษณะพื้นผิว การสังเกตในขณะที่แสงที่ส่องผ่านด้านล่างใช้ในการดูรูปทรงภายในที่โปร่งใสหรือกึ่งโปร่งใส ตัวอย่าง กล้องจุลทรรศน์หนึ่งตัวจับตัวอย่างวัสดุต่างๆ

คำถามที่ 2: ช่วงกำลังขยายและคุณลักษณะการซูมแบบพาร์โฟคอลของกล้องจุลทรรศน์นี้คือเท่าใด

A2: ให้กำลังขยายตั้งแต่ 95X ถึง 614X ด้วยการซูมแบบพาร์โฟคอล โฟกัสจะคงที่เมื่อเปลี่ยนการขยาย ทำให้ไม่จำเป็นต้องปรับโฟกัสซ้ำและเพิ่มความเร็วในการตรวจสอบ

คำถามที่ 3: GP-307S-4K รองรับการวัดขนาดหรือไม่ และมาตรฐานการถ่ายภาพคืออะไร

A3: ใช้ระบบภาพ 4K ที่มีความละเอียด 3840×2160 ซอฟต์แวร์จับคู่รองรับการวัดที่แม่นยำ ผู้ใช้ สามารถจับภาพและวิดีโอเพื่อบันทึกภาพตัวอย่างและบันทึกการตรวจสอบเพื่อจัดเก็บคุณภาพ

คำถามที่ 4: ขาตั้งและฐานสำหรับระบบนี้มีคุณสมบัติอะไรบ้าง?

A4: มาพร้อมกับฐานตรวจสอบสีขาวโดยเฉพาะและขาตั้งเสาเดี่ยวแนวตั้ง ฐานมีความโปร่งใส หน้าต่างสำหรับส่งแสง ชุดโฟกัสจะเคลื่อนที่ได้อย่างราบรื่นและมั่นคงโดยไม่ต้องขยับในระหว่างนั้น การตรวจสอบเป็นเวลานาน

คำถามที่ 5: ฟังก์ชั่นซูมพาร์โฟคอลมีข้อได้เปรียบในทางปฏิบัติอะไรบ้างในการควบคุมคุณภาพ

A5: โฟกัสยังคงไม่เปลี่ยนแปลงในขณะที่สลับการขยาย ผู้ปฏิบัติงานไม่จำเป็นต้องเปลี่ยนตำแหน่งมุมมอง ซ้ำแล้วซ้ำอีก เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสุ่มตัวอย่างเป็นชุดอย่างรวดเร็ว ลดการดำเนินการที่ซ้ำซ้อน และปรับปรุงสายการผลิต ประสิทธิภาพการตรวจสอบ